用半导体探测器探测α粒子PDF电子书下载

目录 1

第一篇 用半导体探测器测量溶液里α辐射体的放射性 5

第一章 用半导体探测器探测带电粒子 7

1.1 探测器 7

1.1.1 P-N结 7

1.1.2 面垒型探测器 12

1.2 电子线路 12

1.2.1 电荷灵敏前置放大器 13

1.2.2 探测器和放大器的总噪声及能量分辨率 15

2.1 厚源的α谱 19

第二章 厚源的α辐射 19

2.1.1 能谱举例 22

2.1.2 积分谱或甄别曲线 24

2.2 加屏蔽后的厚源α谱 27

2.2.1 有吸收层时的能谱举例 30

2.2.2 有吸收层时的甄别曲线 32

2.2.3 计数率随甄别阈变化的近似式 33

22.4 吸收层和放射源里的最大射程和阻止本领的确定 35

3.1 装置的介绍 41

3.1.1 探头 41

第三章 测量溶液里α辐射体浓度的装置 41

3.1.2 液流迴路 43

3.2 装置的特性 44

3.2.1 探测效率 44

3.2.2 计数率随浓度的变化 46

3.2.3 探测器防护的选择 49

结论 50

第四章 溶液里α辐射体放射性的测量与不同能量α辐射体的分离 51

4.1 钚溶液的能谱 51

4.2 马库尔工厂的结果 53

4.3 分别确定在同一溶液里钚和镅的放射性强度 54

4.3.1 分界道的确定 56

4.3.2 镅与钚放射性强度的分别确定 60

4.3.3 钚-镅的测量精确度 62

4.4 分别确定在同一溶液里铀和钚的放射性强度 64

结论 67

第二篇 在强β-γ场下探测α粒子。快放大线路与探测器匹配的研究 69

第五章 β-γ射线对探测α的影响 71

5.1 薄结的β吸收 71

5.1.1 吸收规律 71

5.1.2 平均能量损耗 73

5.2.1 外加偏压引起的甄别曲线位移 74

5.2 甄别曲线在外加偏压和β射线影响下的形变 74

5.2.2 甄别曲线随β射线的位移 77

5.2.3 外加偏压和甄别阈的选取 79

5.3 脉冲的叠加 80

5.3.1 计算由脉冲叠加产生的直流电压 82

5.3.2 计算平均电压的涨落 83

5.3.3 探测器反向电流的增加 84

5.4 γ射线的影响 84

结论 86

第六章 电荷收集时间的计算 87

6.1.1 由电子运动感应的电荷 89

6.1 非全耗尽结 89

6.1.2 由空穴运动感应的电荷 90

6.1.3 射程R≥W的情况 92

6.2 能量损耗dE/dX非常数时的情况 93

6.2.1 射程R=W的情况 95

6.3 全耗尽结的电荷收集 97

6.3.1 射程R＜W 98

6.3.2 射程R≥W 98

6.3.3 粒子进入探测器很薄处的情况（R？W） 100

6.3.4 载流子迁移率随电场的变化 102

结论 103

第七章 探测器输出脉冲的波形 104

7.1 电压脉冲 104

7.1.1 探测器的等效电路 105

7.1.2 上升时间的测量 107

7.1.3 说明 110

7.2 电流脉冲 111

7.2.1 电流脉冲的放大 112

7.2.2 探测器固有电容的影响 114

结论 120

第八章 电流放大器与探测器匹配后的结果 121

8.1 在强β-γ场下的α计数 121

8.1.1 固体α源的探测 121

8.1.2 在裂变产物溶液里测钚 123

8.2 利用脉冲波形甄别α和β粒子 126

8.2.1 α和β的脉冲波形 129

8.2.2 甄别装置与应用 130

8.3 带快电子线路的α谱仪 133

结论 135

参考文献 188