目录 1
第一章 数字电路实验方法概述 1
§1-1实验方案 1
§1-2故障排除 2
实验一 仪器使用 18
第二章 集成逻辑门 20
§2-1TTL逻辑门 20
§2-2CMOS逻辑门 31
§2-3集电极开路（OC）逻辑门及三态输出（TSL）逻辑门 43
实验二 逻辑门的参数测试 53
实验三 门电路的逻辑变换 54
实验四 集电极开路（OC）、三态输出（TSL）逻辑门的应用 54
第三章 集成触发器及其应用 57
§3-1TTL触发器 57
§3-2CMOS触发器 71
§3-3触发器应用举例 77
实验五 维持阻塞D触发器 80
实验六 触发器的脉冲工作特性 81
实验七 触发器的应用 83
第四章 集成逻辑功能器件 84
§4-1全加器 84
§4-2多路分配器和数据选择器 92
§4-3计数器和分频器 105
§4-4移位寄存器 121
§4-5脉冲顺序分配器 128
实验八 二－十进制全加器 134
实验九 译码器和多路分配器 135
实验十 时序电路设计 136
实验十一 计数器的应用 137
实验十二 数据选择器及其应用 138
实验十三 四位双向移位寄存器 139
实验十四 脉冲顺序分配器 141
实验十五 四位串行累加器 141
§5-1组合电路 143
第五章 数字电路的可靠性试验 143
§5-2同步时序电路 156
§5-3异步时序电路 165
实验十六 组合电路的险象及其消除 177
实验十七 同步时序电路 178
实验十八 同步时序电路的设计和试验 179
实验十九 异步时序电路的竞争现象 179
实验二十 异步时序电路的冒险现象 180
第六章 数－模和模－数转换 182
§6-1电子模拟开关 182
§6-2取样－保持电路 192
§6-3模－数转换器（ADC） 197
实验二十一 CMOS双向开关和取样－保持电路 202
实验二十二 数－模转换 203
实验二十三 模－数转换 204
第七章 脉冲电路 206
§7-1半导体二极管及晶体管的开关特性 206
§7-2微分、积分电路和限幅、钳位电路 210
§7-3锯齿电压发生器 215
§7-4张弛振荡器 217
实验二十四 半导体二极管及晶体管的开关特性 228
实验二十五 限幅电路和钳位电路 229
实验二十六 锯齿电压发生器 230
实验二十七 多谐振荡器 231
实验二十八 单稳态触发器 232
实验二十九 用555电路组成张弛振荡器 234
附录Ⅰ常用仪器的原理及使用方法 236
§Ⅰ-1JD-802803型数字逻辑电路试验仪 236
§Ⅰ-2SR8二踪示波器 241
§Ⅰ-3XG-2C型脉冲信号发生器 254
§Ⅰ-4E312型电子计数式频率计 259
§Ⅰ-5逻辑笔 270
附录Ⅱ部分常用数字集成电路汇编 272
参考书目 281