1绪论 1
1.1实验在科学发展中的重要作用 1
1.2实验方法的选择 2
参考文献 15
2核磁共振（NMR）谱学 17
2.1概述 17
2.2基本原理 17
2.3实验方法和新技术 24
2.4 NMR在材料科学中的应用 28
参考文献 49
3正电子湮没技术（PAT） 52
3.1 PAT的基础知识 52
3.2实验方法 62
3.3正电子湮没技术的应用 72
3.4正电子素 86
3.5结束语 88
参考文献 88
4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM） 95
4.1场离子显微术原理 96
4.2原子探针（AP） 110
4.3AP-FIM的应用 122
参考文献 132
5卢瑟福背散射谱学 137
5.1实验方法及基本设备 137
5.2基本原理 138
5.3背散射谱的分析方法 144
5.4沟道效应 151
5.5应用举例 155
5.6总结 161
参考文献 162
6二次离子质谱学 164
6.1基本物理过程 164
6.2基本装置及实验方法 170
6.3 SIMS分析实例 176
6.4 SIMS方法的特点和局限性 180
参考文献 181
7俄歇电子能谱学 182
7.1基本原理 182
7.2基本装置与实验方法 189
7.3应用实例 195
参考文献 203
8 X射线光电子能谱学 204
8.1基本原理 204
8.2基本装置 205
8.3 XPS谱 206
8.4分析方法 215
8.5应用 217
8.6 XPS与SIMS、AES的特点对比 223
参考文献 224
9中子活化分析 226
9.1概述 226
9.2中子活化分析的基本原理 229
9.3核蜕变和辐射的探测 234
9.4中子活化方法一般应用及实例 238
9.5活化技术在材料物理中的应用 242
参考文献 261
10扰动角关联 262
10.1扰动角关联技术 262
10.2扰动角关联在材料研究中的应用 270
10.3结束语 291
参考文献 292
11 X射线吸收精细结构（XAFS）谱 294
11.1 XAFS原理 294
11.2 XAFS理论 298
11.3 XAFS实验 301
11.4 XAFS数据分析方法 306
11.5 XAFS误差分析和国际规范 310
11.6 XAFS应用及发展 312
参考文献 319
12中子散射技术 323
12.1概述 323
12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护 324
12.3中子散射的基本原理与方法 328
12.4中子散射的基本实验设备简述 339
12.5中子散射的应用 342
参考文献 362
13核反应分析及质子荧光X射线分析 364
13.1核反应分析基本原理 364
13.2核反应分析技术 366
13.3核反应分析应用举例 367
13.4核反应分析的特点 371
13.5质子X射线荧光分析基本原理 372
13.6 PIXE分析技术 375
13.7 PIXE的应用 378
13.8 PIXE分析的特点 380
参考文献 381
14分析电子显微镜技术 382
14.1概述 382
14.2分析电子显微镜基本原理 383
14.3 X射线能谱分析（XEDS） 393
14.4电子能量损失谱分析的原理和应用 418
14.5微区电子衍射 433
参考文献 443
15激光和同步辐射技术 445
15.1激光测试技术 445
15.2同步辐射技术 450
参考文献 456
16穆斯堡尔谱学 458
16.1原理 458
16.2实验方法及数据处理 467
16.3超精细相互作用 476
16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用 489
参考文献 499
17扫描隧道显微镜（STM） 502
17.1概述 502
17.2 STM原理及基本理论 503
17.3 STM系统简介 509
17.4实验方法 512
17.5 STM的应用 518
参考文献 530
附录一 534
附录二 536
附录三 538
编者通讯录 539