第一篇 可靠性与可靠性试验概论 1
第一章 什么是电子产品的可靠性 1
第二章 可靠性工程的特点 4
第三章 影响电子产品可靠性的因素 7
第四章 可靠性试验的定义与原理 9
4.1 可靠性试验的定义 9
4.2 可靠性试验的原理 10
第五章 可靠性试验在可靠性工程中的地位 12
第一篇复习题 12
第二篇 电子元器件可靠性试验 14
第六章 电子元器件失效率试验 14
6.1 电子元器件可靠性试验的重要性 14
6.2 电子元器件失效率试验的种类和方法 14
6.2.1 失效率试验的种类 14
6.2.2 失效率试验的方法 15
6.3 失效率等级与置信度 15
6.3.1 失效率等级 15
6.3.2 标志 15
6.3.3 置信度 16
6.4 试验方法原理及抽样表 16
6.5 失效率试验的一般要求 20
6.6 失效率试验程序 22
6.7 应用举例 23
6.8 失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系 25
复习题 28
第七章 威布尔分布下的抽样验证试验 29
7.1 威布尔分布抽样验证程序 30
7.2 用可靠寿命作指标的抽样验证方案 30
7.3 用失效率作指标的抽样验证方案 42
复习题 48
第八章 电子元器件的加速寿命试验 49
8.1 加速寿命试验的类型 49
8.2 组织恒定应力加速寿命试验的注意事项 50
8.3 恒定应力加速寿命试验的基本假定 54
复习题 56
第九章 试验数据的统计分析方法 57
9.1 矩法估计 57
9.2 指数分布中的点估计和区间估计问题 58
9.2.1 指数分布中的点估计问题 58
9.2.2 指数分布中的区间估计问题 60
9.3 威布尔分布中的点估计和区间估计问题 64
9.3.1 威布尔分布中的点估计 64
9.3.2 威布尔分布的区间估计 72
9.4 正态分布和对数正态分布的点估计和区间估计 73
9.4.1 在正态概率纸上描点和配置分布直线 73
9.4.2 估计均值μ和标准偏差σ 74
9.4.3 点画F（ti）的置信区间 75
9.4.4 给定to，对可靠度R（to）进行点估计和置信区间估计 75
9.4.5 给定可靠度Ro，对可靠寿命t（Ro）进行点估计和置信区间估计 76
9.5 加速寿命试验的参数图估计法 77
9.5.1 对数正态分布的参数图估计法 77
9.5.2 威布尔分布的参数图估计法 81
9.6 加速系数 82
9.6.1 加速系数的定义 82
9.6.2 对数正态分布的加速系数 83
9.6.3 威布尔分布的加速系数 84
9.6.4 利用加速系数进行失效率换算的公式 85
复习题 86
第十章 电子元器件可靠性筛选、认定及认证试验 88
10.1 元器件的可靠性筛选试验 88
10.2 元器件的可靠性认定试验 94
10.3 元器件的认证试验 96
复习题 97
第三篇 电子设备可靠性试验 98
第十一章 设备可靠性试验概述 98
11.1 可靠性试验的种类及其目的 98
11.2 正确评定设备的可靠性 100
复习题 102
第十二章 统计试验方案 103
12.1 试验参数的定义 103
12.1.1 平均无故障工作时间（MTBF） 103
12.1.2 判决风险率 104
12.1.3 时间 104
12.2 怎样正确选择试验参数 104
12.3 定时截尾试验方案的设计 106
12.4 定数截尾试验方案的设计 108
12.5 概率比序贯试验方案的设计 109
12.6 怎样正确选择试验方案 111
12.6.1 分布假设的选择 111
12.6.2 选择试验方案的原则 111
12.7 标准型试验方案及其判决标准与接收概率曲线 113
12.7.1 推荐的标准型试验方案 113
12.7.2 标准型概率比序贯试验方案（PRST）的判决标准和接收概率曲线 115
12.7.3 标准型定时截尾试验方案的判决标准和接收概率曲线 129
12.7.4 全数可靠性试验方案的判决标准及接收概率曲线 133
12.7.5 其它的全数可靠性验收方案 136
12.7.6 其它定时截尾试验方案 144
12.8 试验样品数量和试验时间的确定 148
12.8.1 样品数量的确定 148
12.8.2 试验时间的确定 149
12.9 恒定失效率有效性检验 149
12.10 用试验观察数据估计设备的平均无故障工作时间（MTBF） 153
12.10.1 不要用统计试验方案的参数估计MTBF验证值 153
12.10.2 采用观察数据，查X2表直接计算MTBF验证值 154
12.10.3 根据试验中的观察数据，采用置信因子计算MTBF验证值 155
12.10.4 序贯试验的置信限 159
12.11 电子设备的可靠性指标 169
复习题 172
第十三章 可靠性试验的一般要求 173
13.1 试验类型的选择 173
13.2 可靠性试验的设计 174
13.3 可靠性鉴定试验前应具备的条件 175
13.3.1 可靠性预计 175
13.3.2 制定可靠性试验方案 176
11.3.3 热检查 176
13.3.4 振动检查 176
13.3.5 老炼预处理 176
13.4 试验样品的要求 177
13.4.1 可靠性鉴定试验样品 178
13.4.2 可靠性验收试验样品 178
13.5 试验设备、仪器仪表的要求 178
13.6 试验的实施要求 179
13.7 受试设备的检测要求 179
13.7.1 检测方法与要求 179
13.7.2 检测的参数 180
13.7.3 参数测量和功能检查方法 180
13.8 受试设备接收与否的判决 180
13.9 纠正措施 181
13.10 预防性维护 181
13.11 受试设备的复原 182
13.12 对可靠性试验的检查与监督 183
13.12.1 使用方的检查与监督 183
13.12.2 其他形式的检查与监督 183
复习题 183
第十四章 试验条件选择及试验周期设计 185
14.1 电子设备的分类 185
14.2 试验条件的分类 186
14.3 试验条件的选择 192
14.3.1 选择试验条件时应考虑的因素 192
14.3.2 选择试验条件的原则 193
14.3.3 应力水平及其时间分布的确定 195
14.3.4 应力类型及等级的确定 196
14.4 对基本环境试验方法的要求 198
14.5 试验中的工作条件 199
14.5.1 功能模式 199
14.5.2 负载条件 199
14.5.3 输入信号特性 199
14.5.4 工作能源条件 200
14.5.5 设备的实际操作条件 200
14.6 试验周期（循环）与试验程序的设计 200
14.6.1 什么叫试验周期 200
14.6.2 试验周期持续时间的要求 200
14.6.3 导出试验周期（循环）的程序 200
14.7 推荐的试验周期 201
14.7.1 推荐的综合应力试验周期 201
14.7.2 推荐的部分综合应力试验周期 201
14.7.3 多项试验应力单项循环逐次施加的试验周期 202
14.8 编制可靠性试验程序的实例与说明 203
14.8.1 地面固定使用设备的可靠性试验程序实例 204
14.8.2 地面移动及车载设备的可靠性试验程序实例 205
14.8.3 舰船用电子设备的可靠性试验程序实例 209
14.8.4 机载通信导航设备的可靠性试验程序实例 211
复习题 214
第十五章 失效的分类、失效的分析与处理 215
15.1 失效的定义及分类 215
15.1.1 失效的一般定义 215
15.1.2 失效类型 216
15.1.3 失效分类 217
15.2 失效时间的判定 217
15.3 失效的处理方法 218
15.4 失效的分析方法与要求 218
15.5 失效的检修方法与要求 219
15.6 失效的最后分类与相关失效数的确定 220
15.6.1 失效的最后分类 220
15.6.2 相关失效数的确定 220
15.7 制定纠正措施方案 224
复习题 224
第十六章 试验的记录与报告 225
16.1 电子设备可靠性试验报告 225
16.2 可靠性试验测试记录 225
16.3 可靠性试验失效综合报告表 226
16.4 可靠性试验失效分析和修理报告表 226
16.5 反复失效和导致立即作出拒收判决失效的分析和纠正措施实施情况报告表 226
16.6 电子设备可靠性试验简报 226
复习题 231
第十七章 设备的老炼预筛选试验 232
17.1 老炼试验方法 232
17.1.1 计算无失效间隔试验 232
17.1.2 趋势试验方法 232
17.2 MTBF保证试验 234
17.3 摘要介绍美国设备环境应力筛选的经验和研究成果 235
复习题 240
第十八章 可靠性增长试验方法 242
18.1 概述 242
18.2 术语 243
18.3 一般要求 243
18.3.1 可靠性试验之前的要求 243
18.3.2 试验条件和应力等级 244
18.3.3 试验前和试验后的条件 244
18.3.4 受试设备性能 244
18.3.5 失效记录、分析及改正措施系统（FRACAS） 245
18.3.6 试验程序的审查 246
18.3.7 政府提供的器材 247
18.4 详细要求 247
18.4.1 可靠性试验前的处理 247
18 4.2 试验程序和要求 247
18.4.3 可靠性增长模型 248
18.4.4 可靠性估计 249
1 8.4.5 失效分析和改正措施 250
18.4.6 维修 250
18.4.7 综合环境试验条件等级 250
18.5 杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨 250
18.5.1 杜安可靠性增长模型 251
18.5.2 移动平均值方法 254
18.5.3 移动平均MTBF与杜安当前的MTBF的比较 256
18.6 AMSAA模型增长分析 256
复习题 262
第十九章 现场可靠性试验 264
19.1 试验的目的 264
19.2 试验的一般要求 265
19.3 试验的条件 265
19.4 受试设备性能和相关试验时间 265
19.5 数据的收集 266
19.6 正确评定与比较现场可靠性数据与试验室模拟可靠性试验数据 266
复习题 267
第二十章 可靠性试验技术与管理 268
20.1 可靠性试验技术 268
20.2 关于大中型电子设备的可靠性评定 269
20.3 可靠性试验的管理 270
20.3.1 可靠性试验管理的重要性 270
20.3.2 可靠性试验管理的内客 270
复习题 272
附录 273
附录1 基本名词术语及定义（有关的和主要的） 273
附录2a 可靠性工程实施程序及考核要求（适用于中小型设备） 277
附录2b 可靠性工程和质量控制（适用于大中型或小子样系统） 279
附录3a x2分布的上侧分位数表 284
附录3b x2布分的下侧分位数表 286
附录4a 中位秩表 289
附录4b 10％和90％秩置信限 290
附录4c 5％和95％秩置信限 292
附录4d 2.5％和97.5％秩置信限 294
附录4e 0.5％和99.5％秩置信限 296
附录5 推荐一个民用移动通信设备的可靠性试验方案 298
参考资料 303