目录 1
第一章 逻辑元件电路 1
1.1 “与”门 1
1.2 “或”门 2
1.3 反相器特性 3
1.4 逻辑门的应用 4
1.5 定时图 7
1.6 逻辑电路 8
1.7 “与非”门和“或非”门 10
1.8 “与非”门的对偶功能 11
1.9 “或非”门的对偶功能 11
1.10 符号的互换 12
1.11 “异或”门 13
1.12 存贮元件 15
1.13 R-S锁存器 15
1.14 用“与非”门组成的R-S触发器 17
1.15 竞争条件 18
1.16 其它类型的触发器 19
1.17 时钟、预置及清除信号 19
第二章 计算机和计算器的结构 21
2.1 概述 21
2.2 存贮器和算术逻辑单元的工作 23
第三章 基本的数字测试仪器 45
3.1 应用逻辑探头的检修 45
3.2 应用逻辑脉冲发生器和逻辑探头的检修 52
3.3 应用逻辑夹的检修 59
3.4 应用逻辑比较器的检修 61
3.5 数字检修技术 63
3.6 数字电路故障分析 68
3.7 多逻辑系列探头和脉冲发生器 73
3.8 示波器 75
第四章 初步检修方法 80
4.1 基本检修步骤 80
4.2 各步骤的检修原理 86
第五章 数字系统的功能分析 92
5.1 系统的评价 92
5.2 电气性能分析 100
6.1 着手检修的顺序计划 109
第六章 系统检修方法 109
6.2 模式相容性 111
6.3 逻辑检修 112
6.4 数字检修的八条基本规则 115
6.5 检修经验的发展 120
6.6 检修职责说明 120
6.7 症状分析 121
6.8 诊断程序 124
6.9 间发性故障 125
6.10 检修捷径 126
6.11 学习他人的经验 127
6.12 其它的辅助资料 128
7.1 概述 133
7.2 功能分析原理 133
第七章 数字逻辑分析器 133
7.3 逻辑分析器 134
7.4 触发串行数据 136
7.5 触发并行数据 137
7.6 逻辑状态分析器的特性 138
7.7 逻辑分析器的操作和应用 139
7.8 模式分析器的操作 142
第八章 数字电路和印刷电路板的测试 144
8.1 功能测试和故障隔离 144
8.2 故障隔离 148
8.3 数字测试系统 149
8.4 探头硬件 153
9.1 基础元件 155
第九章 印刷电路板的测试模型 155
9.2 宏电路特性 160
9.3 三态电路模型化方法 160
第十章 测试过程中的数字逻辑模拟 168
10.1 电路模型的模拟 168
10.2 竞争、临界竞争和冒险 171
10.3 模型验证 174
10.4 电路板的模型化 177
第十一章 故障电路的模型和模拟 180
11.1 概述 180
11.2 故障的检测 185
11.3 故障插入级 187
11.5 逻辑上等效的故障 189
11.4 故障机 189
11.6 故障响应 190
11.7 停于第一个故障 192
11.8 多位置故障 193
11.9 选择被测故障的折衷方案 194
11.10 可能故障检测 195
11.11 测试存贮元件 197
第十二章 测试模式的生成 199
12.1 通路敏化 199
12.2 初始化 202
12.3 故障定位和模拟结果 205
12.4 后处理程序 206
12.7 故障定位 207
12.6 测试系统操作软件 207
12.5 接口适配器 207
12.8 反馈环 211
12.9 故障隔离探测算法 212
12.10 并联驱动器 215
12.11 内部器件的反馈 215
12.12 脉冲响应 217
12.13 面向操作者的探测 218
12.14 有效性 219
附录Ⅰ 英特尔（INTEL）4004微处理器系统的检修 220
附录Ⅱ 莫托罗拉（MOTOROLA）M6800微处理器系 231
统的检修 231
附录Ⅲ 仙童（FAIRCHILD）公司的F8微处理器系统 240
的检修 240