目录 1
序 1
第一章 半导体存储器 1
1.1 计算机与半导体存储器 1
前言 3
1.2 半导体存储器的一般结构与分类 7
1.3 半导体存储器的发展方向 22
第二章 存储单元 37
2.1 利用电容存储信息 37
2.2 信息的恢复周期与P-ROM存储单元 40
2.3 信息的恢复方式与存储单元的结构 48
2.4 信息的传送方式与存储单元的结构 55
2.5 功能器件与半导体存储器 62
第三章 半导体存储器的外围电路 73
3.1 外围电路的结构 73
3.2 译码器 88
3.3 读写电路 104
3.4 时钟发生器 113
第四章 双极存储器 119
4.1 概述 119
4.2 双极存储单元 124
4.3 发射极耦合存储器 139
4.4 二极管耦合存储器 151
第五章 MOS存储器 164
5.1 概述 164
5.2 MOS存储器的存储单元 168
5.3 单管单元的动态存储器 177
5.4 三管单元的动态存储器 187
5.5 四管单元的动态存储器与静态存储器 199
第六章 半导体存储器的测试 206
6.1 半导体随机存储器的测试方法 206
6.2 功能测试与参数测试 207
6.3 半导体存储器的测试图案 214
6.4 半导体存储器的相脉冲及其他测试条件 231
6.5 半导体存储器的参数测试 235
6.6 唯读存储器及其测试 238
第七章 半导体存储器测试图案发生器 258
7.1 测试图案的发生 258
7.2 存储器的测试图案发生器 264
7.3 简易的测试图案发生器 268
7.4 采用微程序控制的测试图案发生器 296
第八章 半导体存储器测试仪 315
8.1 引言 315
8.2 存储器测试仪的结构 316
8.3 数／模与模／数变换技术及其在测试中的应用 321
8.4 计算机技术在测试中的应用 345