目录 1
第一章 绪论 1
1.1 数字电路 2
1.1.1 组合电路 2
1.1.2 同步时序电路 5
1.1.3 异步时序电路 7
1.2 实际故障和测试 14
1.3 逻辑故障模型 18
参考资料 21
习题 22
第二章 组合电路测试的产生 24
2.1 布尔差分法 25
2.2 测试产生的其它代数方法 33
2.3 路径敏化法和D算法 34
2.4 临界路径测试产生法 50
2.5 故障等效、支配和收缩 54
2.6 测试简化和最小化 57
2.7 冗余电路 57
2.8 用于其它故障模型的测试产生法 62
2.8.1 多固定故障 63
2.8.2 二极管短路故障和桥接故障 66
2.9 区分故障用的测试产生法 73
2.10 特殊电路 75
2.10.1 无扇出电路 76
2.10.2 实现单边函数的电路 76
2.10.3 线性组合电路 77
2.10.4 迭代阵列 77
参考资料 79
习题 81
第三章 时序电路测试的产生 87
3.1 同步时序电路测试的产生 89
3.1.1 时序电路中D-算法的推广 91
3.1.2 置初值 97
3.1.3 同步时序电路中临界路径测试算法的推广 102
3.1.4 测试组的简化 105
3.2 异步电路测试的产生 106
3.2.1 异步电路的迭代阵列模型 107
3.2.2 无临界冒险测试的产生 112
3.2.3 延迟故障的测试产生 118
3.2.4 电路-时间方程 121
3.3.1 功能测试 127
3.3 与电路实现无关的测试产生方法 127
3.3.2 检查序列 128
3.4 故障支配和特殊故障 131
3.5 半导体随机访问存储器的测试 134
3.6 随机测试的产生和测试 141
3.6.1 实践 141
3.6.2 理论 147
3.7 利用跳变计数测试电路 148
附录：常用的RAM功能测试模式 152
参考资料 156
习题 158
第四章 逻辑级模拟 168
4.1 逻辑模拟系统的概述 169
4.1.1 输入电路描述 170
4.1.3 输入数据语言 172
4.1.2 模型建立 172
4.1.4 预处理程序模块 173
4.1.5 结构模块 173
4.1.6 模拟模块 174
4.1.7 输出模块 176
4.1.8 中央处理机的模拟时间 176
4.2 电路延迟 177
4.2.1 传输延迟（△T） 177
4.2.2 模糊延迟（△M-△m） 178
4.2.3 上升-下降延迟（△R,△F） 180
4.2.4 惯性延迟（△l） 181
4.3 多值逻辑系统 183
4.3.1 三值逻辑对检测冒险的应用 184
4.3.2 五值逻辑系统 191
4.3.3 八值逻辑模拟 192
4.3.4 电路置初值 194
4.4 基本模拟程序的结构 195
4.4.1 编辑驱动模拟 196
4.4.2 面向事件（活动）的模拟 199
4.4.3 数据结构 202
4.4.4 时间流控制机构和事件登记 206
4.5 元件计算 211
4.5.1 并行模拟 212
4.5.2 两值逻辑模拟的元件计算方法 213
4.5.3 多值逻辑模拟的元件计算方法 214
4.6 故障模拟 216
4.6.1 引言 216
4.6.2 并行故障模拟 219
4.6.3 演绎模拟 221
4.6.3.1 两值演绎模拟 222
4.6.3.2 三值演绎模拟 227
4.6.4 同时故障模拟 229
4.6.5 超活动故障 233
4.6.6 故障模拟方法的比较 233
4.7 模拟的振荡 234
4.7.1 局部振荡控制 234
4.7.2 全局振荡控制 235
4.8 模型的建立 236
参考资料 238
习题 240
第五章 可靠性设计——理论和方法 245
5.1 自检查电路 245
5.1.1 错误检测和校正码的应用 246
5.1.2 检查电路 254
5.1.3 自检查时序电路 261
5.2 容错设计 262
5.2.1 三模冗余 263
5.2.2 N模冗余和混合冗余 265
5.2.3 故障保险设计 268
5.2.4 冗余系统的覆盖率 270
5.3 系统诊断的数学模型 272
5.4 简化测试的设计 279
5.4.1 用奇偶级联电路实现组合函数 280
5.4.2 观察点和控制点的设置 282
5.4.3 含有移位寄存器的时序电路设计 285
参考资料 289
习题 292
索引 294