《MOS 大规模集成电路设计导论》PDF下载

  • 购买积分:11 如何计算积分?
  • 作  者:(英)J.马弗等
  • 出 版 社:北京:科学出版社
  • 出版年份:1990
  • ISBN:7030015592
  • 页数:298 页
图书介绍:译自:IntroductiontoMOSLsidesign/J.Mavor

第一章 LSI设计路线 1

1.1 集成电路工艺介绍 1

目录 1

1.2 LSI设计的几种途径 6

1.3 精细刻蚀技术 11

1.4 设计人员-用户交互作用 15

1.5 “用户设计”方法 17

1.6 全书介绍 21

参考文献 22

2.1 MOS晶体管基础 23

第二章 MOS晶体管理论和倒相电路 23

2.2 MOS晶体管工作原理 26

2.3 实际的MOS电容器 32

2.4 MOS晶体管漏极电流方程 36

2.5 MOS晶体管饱和条件 42

2.6 MOS晶体管参数的温度依赖关系 46

2.7 MOS晶体管小信号参数 47

2.8 MOS电路介绍 49

2.9 作负载用的MOS晶体管 52

2.10 有比倒相器静态分析 57

2.11 有比倒相器速度计算 63

2.12 无比倒相器的实现 72

2.13 传输晶体管 79

参考文献 80

第三章 MOS工艺和设计规则 81

3.1 设计规则 82

3.2 MOS工艺流程 84

3.3 硅栅n沟MOS工艺流程 86

3.4 硅栅CMOS工艺流程 98

3.5 设计规则的必备特征 102

3.6 电参数 103

3.7 等比缩小 105

参考文献 111

第四章 MOS逻辑设计 112

4.1 组合逻辑 113

4.2 静态逻辑:触发器 125

4.3 动态逻辑:移位寄存器 130

4.4 同步时序逻辑 136

参考文献 142

5.1 用触发器元件构成的计数器 143

第五章 MOS电路的设计 143

5.2 移位寄存计数器 151

5.3 加法器 154

5.4 MOS存储器:ROM 161

5.5 MOS存储器:RAM 164

5.6 单晶体管RAM单元 170

参考文献 175

第六章 系统设计的方式与芯片工程 176

6.1 设计方式 176

6.2 用户设计 178

6.3 用户设计VLSI的分层次设计 179

6.4 硅电路成型车间 182

6.5 LSI的用户设计和半用户设计的其它方法 183

6.6 可测性设计 189

6.7 划分和冗余 192

6.8 采用扫描通道的内设测试方案 194

6.9 符号分析内设测试方案 195

6.10 测试 198

6.11 电路封装 200

6.12 热设计考虑 202

6.13 栅极输入保护 204

6.14 输出电路 208

参考文献 211

第七章 计算机辅助设计 212

7.1 综合:绘图的辅助设计 213

7.2 综合:自动布线 216

7.3 综合:符号布图系统 217

7.4 综合:编译法设计版图 220

7.5 分析:设计规则的校核 223

7.6 分析:电路的提取 225

7.7 分析:模拟分析 226

7.8 小结 229

参考文献 229

第八章 模拟MOS电路 231

8.1 模拟电路用的MOS元件 232

8.2 开关电容滤波器介绍 243

8.3 数据转换 253

参考文献 265

附录A 作业举例:四位二进制计数器 266

附录B 有关MOS LSI设计的若干习题和答案 290