绪论 1
第一章 X射线的性质 3
1-1 引言 3
1-2 X射线的本质 3
1-3 X射线的产生及X射线管 5
1-4 X射线谱 6
1-5 X射线与物质的相互作用 10
习题 16
第2章 X射线衍射方向 17
2-1 引言 17
2-2 晶体几何学基础 18
2-3 衍射的概念与布拉格方程 26
2-4 布拉格方程的讨论 28
2-5 衍射方法 30
习题 32
第三章 X射线衍射强度 34
3-1 引言 34
3-2 结构因子 34
3-3 多晶体的衍射强度 41
3-4 积分强度计算举例 49
习题 50
4-1 引言 53
4-2 粉末照相法 53
第四章 多晶体分析方法 53
4-3 X射线衍射仪 60
4-4 衍射仪的测量方法与实验参数 67
4-5 点阵常数的精确测定 70
习题 78
第五章 X射线物相分析 80
5-1 引言 80
5-2 定性分析的原理和分析思路 80
5-3 粉末衍射卡片的组成 81
5-4 PDF卡片的索引 83
5-5 物相定性分析方法 84
5-6 物相定量分析 87
习题 94
第六章 宏观应力测定 96
6-1 引言 96
6-2 单轴应力测定原理 97
6-3 平面应力测定原理 98
6-4 试验方法 100
6-5 试验精度的保证及测试原理的适用条件 103
习题 107
第七章 电子光学基础 108
7-1 电子波与电磁透镜 108
7-2 电磁透镜的像差与分辨本领 111
7-3 电磁透镜的景深和焦长 115
习题 116
8-1 透射电子显微镜的结构与成像原理 117
第八章 透射电子显微镜 117
8-2 主要部件的结构与工作原理 122
8-3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定 125
习题 126
第九章 复型技术 127
9-1 概述 127
9-2 质厚衬度原理 127
9-3 一级复型和二级复型 130
9-4 萃取复型与粉末样品 132
习题 134
10-1 概述 135
第十章 电子衍射 135
10-2 电子衍射原理 136
10-3 电子显微镜中的电子衍射 146
10-4 单晶体电子衍射花样标定 149
10-5 复杂电子衍射花样 153
习题 160
第十一章 晶体薄膜衍射成像分析 161
11-1 概述 161
11-2 薄膜样品的制备 161
11-3 衍衬成像原理 164
11-4 消光距离 166
11-5 衍衬运动学简介 168
11-6 晶体缺陷分析 175
习题 182
第十二章 扫描电子显微镜 183
12-1 电子束与固体样品作用时产生的信号 183
12-2 扫描电子显微镜的构造和工作原理 185
12-3 扫描电子显微镜的主要性能 187
12-4 表面形貌衬度原理及其应用 190
12-5 原子序数衬度原理及其应用 195
习题 197
第十三章 电子探针显微分析 198
13-1 电子探针仪的结构与工作原理 198
13-2 电子探针仪的分析方法及应用 203
习题 205
第十四章 其它显微分析方法简介 206
14-1 离子探针 206
14-2 低能电子衍射 209
14-3 俄歇电子能谱仪 213
14-4 场离子显微镜 217
14-5 扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM) 223
14-6 X射线光电子能谱仪 229
习题 237
实验指导书 238
主要参考文献 253
附录 255