第一章 数据域检测与逻辑分析仪 1
1.1 引言 1
1.2 数据域与数据域仪器 2
1.3 数字系统信号特征及其对检测的要求 4
1.4 逻辑分析仪的特点 6
1.4.1 逻辑分析仪与示波器的比较 7
1.4.2 逻辑分析仪的特点 11
1.5 逻辑分析仪的分类 15
第二章 逻辑分析仪的基本功能与原理 18
2.1 数据的采集方式 18
2.1.1 采样方式 18
2.1.2 锁定方式 21
2.2 触发与跟踪方式 22
2.2.1 触发、触发字与跟踪方式 22
2.2.2 基本触发 23
2.2.3 延迟触发 24
2.2.4 序列触发 27
2.2.5 “非”触发 32
2.2.6 出错触发 34
2.2.7 “或”触发 34
2.2.8 触发限定 36
2.2.9 交互触发 37
2.2.10 毛刺触发 40
2.2.11 触发窗口 40
2.2.12 关于触发的小结 41
2.3 数据的存储 41
2.3.1 基本存储方式 42
2.3.2 选择性存储 43
2.3.3 瞬变存储 48
2.3.4 三种存储方法的比较 52
2.4 数据的显示 52
2.4.1 状态表显示 52
2.4.2 定时图显示 56
2.4.3 图形显示 58
2.4.4 映射图显示 61
2.4.5 电平显示 64
2.4.6 双门限方式 65
2.4.7 输入信号状态显示 67
2.5 其它功能 67
2.5.1 比较和检索 67
2.5.2 计数测量 69
2.5.3 列消隐 69
第三章 逻辑状态分析仪 71
3.1 数据获取 71
3.1.1 探头 71
3.1.2 延迟网络 74
3.1.3 暂存器(采样电路) 77
3.1.4 限定与触发识别电路 78
3.1.5 触发产生电路 79
3.1.6 数字延迟电路 81
3.1.7 存储控制 82
3.1.8 存储器 83
3.1.9 时序信号产生器 84
3.1.10 数据获取工作过程 85
3.2 逻辑状态分析仪的数据显示 87
3.2.1 状态表显示原理 87
3.2.2 映射图显示原理 97
3.2.3 联机工作方式的数据显示 99
第四章 逻辑定时分析仪 101
4.1 引言 101
4.2 最高工作频率与时间分辨力 102
4.2.1 最高工作频率 102
4.2.2 影响时间分辨力的因素 103
4.2.3 解决分辨力与观察窗口之间矛盾的两种实用方法 107
4.3 异步触发与触发滤波 108
4.3.1 异步触发 108
4.3.2 触发滤波 108
4.4 毛刺检测与毛刺触发 110
4.4.1 毛刺 110
4.4.2 锁定工作方式 112
4.4.3 毛刺方式 114
4.4.4 毛刺存储 115
4.4.5 毛刺触发及其与毛刺检测的关系 118
4.5 时间延迟 119
第五章 智能逻辑分析仪 121
5.1 清单 121
5.1.1 格式清单 121
5.1.2 跟踪清单 122
5.1.3 比较清单和区域跟踪清单 124
5.2 工作原理 126
5.2.1 触发字设置与触发识别电路 126
5.2.2 门限电平产生电路 128
5.2.3 状态控制器 128
5.2.4 序列触发 130
5.2.5 区域跟踪 134
5.2.6 时间标志电路 136
5.2.7 数据显示 138
5.2.8 微处理器控制 141
5.2.9 软件 146
第六章 逻辑分析仪的发展趋势 149
6.1 速度、通道和存储容量 150
6.2 逻辑分析系统 151
6.2.1 逻辑分析系统的组成 151
6.2.2 逻辑分析系统的特点与应用 153
6.3 系统性能分析 154
6.3.1 软件性能分析 155
6.3.2 硬件性能分析 155
6.3.3 常见的两种直方图 156
6.3.4 性能分析基本工作原理 158
6.4 特征分析 159
6.4.1 特征分析基本原理 160
6.4.2 特征分析的两种形式 160
6.5 遥控分析与自动测试 163
6.5.1 遥控分析 163
6.5.2 自动测试 164
6.6 与微计算机相结合 165
6.6.1 逻辑分析仪与微机相结合的优点 165
6.6.2 逻辑分析仪与微机相结合的两种方法 166
6.7 单片逻辑分析仪 168
6.7.1 单片逻辑分析仪的特点 169
6.7.2 HP1651A的特点与分析 171
6.8 便携式逻辑分析仪 180
6.9 独特的功能 181
6.9.1 主动测试方式 181
6.9.2 仿真 183
6.9.3 引入模拟通道 184
6.9.4 显示方式多样化 185
6.9.5 使用自然语言 185
6.9.6 选件多样化与功能扩充 186
第七章 逻辑分析仪的选用 190
7.1 选用原则 190
7.2 分析测试需要 190
7.3 选择逻辑分析仪 193
第八章 逻辑状态分析仪的应用 202
8.1 引言 202
8.2 逻辑状态分析仪的应用特点和常用功能 203
8.2.1 逻辑状态分析仪的输入信号 203
8.2.2 逻辑状态分析仪的触发选择 211
8.2.3 逻辑状态分析仪的存储和显示 218
8.3 逻辑状态分析仪的基本应用--跟踪程序实例 226
8.3.1 被跟踪的对象 226
8.3.2 基本跟踪方法 227
8.3.3 时钟限定和选择跟踪在实例中的应用 233
8.4 逻辑状态分析仪应用实例 237
8.4.1 用逻辑状态分析仪监测偶发故障 237
8.4.2 检测微计算机送至输出口的数据 241
8.4.3 用序列触发跟踪程序中的特定路径 246
8.4.4 观测Z80响应中断的过程 249
8.4.5 用比较功能测试ROM 251
8.4.6 程序执行时间的测量 253
8.4.7 用双时钟同时测量系统中的高、低速部分 255
8.4.8 用计数和条件清除功能统计事件次数 257
第九章 逻辑定时分析仪的应用 260
9.1 逻辑定时分析仪的应用特点 260
9.1.1 逻辑定时分析仪的数据采集 261
9.1.2 定时图的调整和时间测量 267
9.1.3 逻辑定时分析仪的触发选择 274
9.1.4 逻辑定时分析仪的显示特点 275
9.2 逻辑定时分析仪的基本应用--定时图的调整和观测 278
9.2.1 观察译码器各路输出信号的时序 279
9.2.2 测量一路信号的持续时间 281
9.2.3 观察有无毛刺存在 282
9.2.4. 寻找毛刺产生的原因 283
9.3 逻辑定时分析仪应用实例 285
9.3.1 观测Z80-PIO的输出过程 285
9.3.2 中断响应及脱离暂停的观测 288
9.3.3 观测对复位信号的响应时间 291
9.3.4 异步触发持续时间的应用 294
9.3.5 用毛刺触发功能检测故障原因 296
9.4 GPIB系统的观测与分析 299
9.4.1 GPIB系统的简单工作过程 300
9.4.2 被测系统及其运行程序实例 303
9.4.3 用逻辑分析仪观测GPIB的工作过程 307
9.4.4 用逻辑分析仪改进GPIB程序实例 309
9.4.5 三线挂钩过程的测试 311
第十章 逻辑分析仪在微计算机化设备研制中的应用 317
10.1 微计算机化设备的研制过程 317
10.2 大规模和超大规模集成电路的测试 319
10.2.1 激励--响应法在集成电路测试中的应用 320
10.2.2 测试实例--用激励响应法测试MPU 322
10.3 逻辑分析仪在微计算机化设备总装过程的应用 328
10.3.1 CPU的装配测试 330
10.3.2 检验ROM的工作 331
10.3.3 检验RAM和I／O设备的工作 333
10.4 交互分析的应用 337
10.4.1 常用交互分析及其实验演示实例 338
10.4.2 用交互分析排除故障实例 345
10.5 性能分析的应用 349
10.5.1 性能分析用于微计算机化设备的设计过程 349
10.5.2 性能分析应用实例 350
第十一章 用逻辑分析仪对软件和硬件进行剖析 356
11.1 引言 356
11.2 用逻辑分析仪剖析存储器内容 359
11.2.1 剖析EPROM存储内容的原理和电路 359
11.2.2 用逻辑分析仪剖析EPROM实例 362
11.3 用逻辑分析仪动态分析程序执行过程 365
11.3.1 动态分析与静态分析的比较 365
11.3.2 根据硬件寻找与待分析程序有关的信号 369
11.3.3 动态剖析程序实例 371
11.4 用逻辑分析仪剖析硬件电路 384
11.4.1 硬件剖析的场合及步骤 384
11.4.2 用逻辑分析仪剖析硬件电路实例 387