目录第一部分 总表表01 ECL集成电路主要参数符号及引出端功能符号表 2
表02 ECL集成电路系列品种、型号一览表 6
表03 ECL集成电路诸品种外引线功能端排列图 9
表04 ECL集成电路系列品种简要特性表 18
第二部分 ECL集成电路基础绪论 24
第一章 ECL集成电路基础 28
1.1 ECL基本门电路的结构和工作原理 28
一、基本门电路的结构 28
二、基本门电路的工作原理 30
一、特点 32
1.2 ECL电路的特点及应用范围 32
二、应用范围 35
1.3 ECL门电路的逻辑扩展 36
一、“线或”结构 36
二、“点与”结构 37
三、“串级门”结构 38
1.4 改进型及变型ECL电路 41
一、温度-电压全补偿的ECL电路 41
二、E2CL电路 43
三、EFL电路 44
一、ECL触发器概述 45
1.5 ECL触发器概述及工作原理 45
二、ECL触发器的工作原理 46
第二章 ECL集成电路系列 51
2.1 概述 51
2.2 ECL诸系列集成电路的特性 51
一、CE1600系列1毫微秒集成电路的特性 51
二、CE10K系列2毫微秒集成电路的特性 52
三、CE12K系列高速锁相环集成电路的特性 52
五、CE11C00系列亚毫微秒集成电路、CE100K系列亚毫微秒全补偿集成电路的特性 53
四、CE8000系列高速低功耗分频器的特性 53
2.3 ECL诸系列集成电路的性能比较 54
一、主要电性能 54
二、速度-功耗特性 57
三、功耗-频率特性 58
四、工作温度范围 58
五、基本门电路的结构 59
六、电路封装 61
一、电路损坏的极限定额值 63
3.2 ECL集成电路的极限定额值 63
第三章 ECL集成电路的技术数据 63
3.1 概述 63
二、电路性能退化的极限定额值 64
3.3 ECL集成电路的直流参数 64
一、电源电流 64
二、输入高电平电流和输入低电平电流 65
三、输出高电平电压、输出低电平电压和输出高电平阈值电压、输出低电平阈值电压 65
四、输入特性 69
3.4 ECL集成电路的电压转换特性 69
一、电压转换特性曲线 69
二、电压转换特性简析 72
三、温度和电源电压对电压转换特性的影响 73
3.5 ECL集成电路的噪声容限 73
一、直流噪声容限的测定 73
二、直流噪声容限值 74
二、交流抗扰度 74
3.6 ECL集成电路的交流参数 75
一、主要交流参数 75
二、电源电压和温度对开关时间的影响 77
三、CE10K系列电路的品种 80
二、CE10K系列电路的工作特性 80
第三部分 ECL集成电路系列品种第四章 CE10K系列2毫微秒集成电路 80
一、CE10K系列电路的特点 80
4.1 概述 80
4.2 门电路——CE10101/CE10501,CE10102/CE10502,CE10104/CE10504,CE10105/CE10505,CE10106,CE10107/CE10507,CE10109/CE10509,CE10110,CE10111,CE10117/CE10517,CE10118,CE10119,CE10121/CE10521 83
一、门的工作特性 86
二、门的应用 92
4.3 触发器 92
一、锁存触发器——CE10130,CE10133,CE10175 95
二、主-从触发器——CE10131/CE10531,CE10231/CE10631,CE10176,CE10135 98
4.4 计数器——CE10136,CE10137 108
一、同步计数器的工作特性 108
二、计数器的典型应用 115
4.5 线接收器——CE10115,CE10116/CE10516,CE10216 116
一、线接收器的工作特性 117
二、线接收器的应用 120
4.6 电平转换器——CE10124,CE10125,CE10177 120
一、TTL-ECL、ECL-TTL电平转换器——CE10124,CE10125 120
二、ECL-NMOS电平转换器——CE10177 124
一、译码器——CE10161,CE10162,CE10171,CE10172 126
4.7 译码器、编码器 126
二、编码器——CE10165 134
4.8 数据选择器 136
一、双2选1数据选择器——CE10132,CE10134 138
二、四2选1数据选择器——CE10158,CE10159,CE10173 142
三、8选1和双4选1数据选择器——CE10164,CE10174 144
四、选择器的典型应用 150
一、移位寄存器的工作特性 153
4.9 移位寄存器——CE10141 153
二、移位寄存器的典型应用 156
4.10 运算电路 156
一、数值比较器——CE10166 156
二、奇偶校验／产生器——CE10160,CE10170 159
三、加法／减法器——CE10180 163
四、4位算术逻辑单元／函数产生器——CE10181 166
五、超前进位产生器——CE10179 168
二、CE1600系列电路的主要应用范围 177
一、CE1600系列电路的特点 177
第五章 CE1600系列1毫微秒集成电路 177
5.1 概述 177
三、CE1600系列电路品种 178
5.2 门电路——CE1611,CE1660,CE1661,CE1616,CE1617,CE1672,CE1674 178
一、CE1600系列基本门电路的工作原理 178
二、基本门电路的典型工作特性 180
三、CE1600系列门电路的电参数 189
四、CE1600系列电路的使用说明 189
五、门电路的典型应用 192
一、D型触发器简介 195
5.3 触发器——CE1615,CE1618,CE1670,CE1666,CE1668,CE1690 195
二、CE1600系列触发器的电参数 199
三、触发器的典型应用 199
5.4 计数器、分频器和移位寄存器——CE1654,CE1678,CE1694,CE1697,CE1699 204
一、计数器 204
二、分频器 207
三、移位寄存器 210
5.5 接口电路——CE1692 213
一、CE1692四线接收器的工作原理 213
二、主要性能 213
三、典型应用 214
5.6 A/D转换器——CE1650/CE1651 216
一、A/D转换器的工作原理 216
二、主要性能 217
三、典型特性及其测试方法 218
四、典型应用 223
第六章 CE12K系列高速锁相环集成电路 225
6.1 概述 225
一、锁相技术的应用 225
二、基本的锁相环路 225
三、频率合成器简介 226
四、CE12K系列电路品种 229
6.2 压控振荡器——CE1648 230
一、CE1648主要电参数 231
二、电路原理分析 231
三、变容管偏置电压和振荡频率的关系 233
四、温度特性 235
五、使用中的几个问题 235
6.3 鉴频／鉴相器——CE12040 237
一、CE12040主要电参数 238
二、电路原理分析 239
三、鉴频／鉴相特性 241
四、“泵”电路——ER4807 243
五、TTL型鉴频／鉴相器——ER4044 245
6.4 双模数前置（预）分频器——CE12012 251
一、CE12012主要电参数 251
二、工作原理 256
三、使用中的几个问题 260
四、典型应用 262
一、CE12013主要电参数 264
6.5 600MHz双模数前置预分频器——CE12013 264
二、工作原理 265
三、使用中的几个问题 268
6.6 可编程序十进计数器——ER4016 268
一、ER4016主要电参数 269
二、工作原理 269
三、典型应用 270
6.7 计数控制逻辑电路——CE12014/CE12514 270
一、CE12014/CE12514主要电参数 271
二、工作原理 274
三、典型应用 280
7.1 概述 285
一、CE8000系列分频器的特点 285
二、CE8000系列分频器的工作特性 285
第七章 CE8000系列高速低功耗分频器 285
三、CE8000系列分频器的应用范围 286
四、CE8000系列分频器的品种 286
7.2 高速低功耗分频器 286
一、高速低功耗分频器的结构和工作原理 286
二、高速低功耗分频器的工作特性 289
一、÷2前置分频器——CE8607,CE8602,CE8603,CE8604 291
7.3 前置分频器 291
二、÷4前置分频器——CE8600,CE8616,CE8614 295
三、÷5前置分频器——CE8620,CE8622 300
四、÷10前置分频器——CE8630,CE8632,CE8668 302
五、÷16前置分频器——CE8650 305
7.4 双模数前置分频器——CE8643,CE8685 306
一、工作特性 307
二、典型应用 310
一、特点 313
7.5 低功耗前置分频器——CE8655,CE8657,CE8659 313
二、工作特性 315
三、典型应用 316
7.6 二-十进制前置分频器——CE8634,CE8635,CE8636,CE8637 316
一、特点 316
二、工作特性 316
三、典型应用 319
三、CE11C00系列电路品种 321
一、双4-5输入或／或非门电路——CE11C01 321
8.2 门电路 321
一、CE11C00系列电路的特点 321
二、CE11C00系列电路的主要应用范围 321
8.1 概述 321
第八章 CE11C00系列亚毫微秒集成电路 321
二、门电路的主要特性 322
三、典型应用 323
8.3 触发器和压控振荡器 323
一、750MHzD型触发器——CE11C06 323
二、650MHzD型触发器（有R-S端）——CE11C70 325
四、双压控多谐振荡器——CE11C24 326
三、触发器的使用方法 326
8.4 计数分频器 330
一、1000MHz÷4前置分频器——CE11C05 330
二、1000MHz÷248/÷256双模数分频器——CE11C83 332
三、650MHz双模数分频器——CE11C90/CE11C91 336
第九章 CE100K系列亚毫微秒全补偿集成电路 345
9.1 概述 345
9.2 工艺结构、电路特点及应用范围 345
一、CE100K系列的工艺结构 345
二、CE100K系列的电路特点 347
三、CE100K系列电路的主要应用范围 351
9.3 门电路——CE100101,CE100102,CE100107,CE100112,CE100117,CE100118 351
一、基本门电路的工作原理 351
二、CE100K系列门电路的电参数 358
9.4 触发器——CE100130,CE100131,CE100150 360
一、CE100K系列触发器的品种和功能 360
二、CE100K系列触发器的电参数 363
9.5 计数／移位寄存器——CE100136 365
一、CE100136 4位计数／移位寄存器的结构和功能 365
一、CE100K系列运算电路的品种和功能 367
二、CE100136 4位计数／移位寄存器的电参数 367
9.6 运算电路——CE100160,CE100166,CE100179,CE100180,CE100181 367
二、CE100K系列运算电路的电参数 375
第四部分 ECL集成电路测试与应用第十章 ECL集成电路的测试方法 380
10.1 概述 380
一、基本参数及其涵义 380
二、测试方法分类 384
10.2 静态（直流）参数测试方法 384
一、电源电流（IEE） 384
二、输入电流（IIH和IIL） 384
四、输出阈值电平（VOHA和VOLA） 385
三、输出电平（VOH和VOL） 385
10.3 动态（交流）参数测试方法 386
一、传输延迟时间（tpd） 386
二、上升时间（tr）和下降时间（tf） 387
三、最高工作频率（fM） 389
四、建立时间（tset）和维持时间（th） 390
五、最小脉冲宽度及分辨时间（tWmin） 391
10.4 交流抗扰度的测试方法 392
一、输入噪声 392
二、VCC噪声 394
三、VEE噪声 395
四、VTT噪声 397
10.5 对测试系统的要求及测量精度 399
一、对测试系统的要求 399
二、测量仪器及测量精度 400
第十一章 ECL电路系统设计规则 402
11.1 ECL电路的逻辑设计方法 402
一、正、负逻辑等效方法 402
二、ECL与TTL逻辑功能比较 404
三、TTL设计变换到ECL设计的方法 405
四、逻辑设计的某些考虑 407
11.2 系统的互连 408
一、系统布局的考虑 408
二、传输线 409
三、端接线与非端接线 414
四、电缆线、双绞线的应用方法 425
五、印制电路板的布线技术 430
11.3 电源分配与热特性 432
一、系统的电源分配 434
二、底板和插件板上的电源分配 435
三、VTT和VEE电源 438
四、热特性参数 440
五、直流热特性 442
六、散热方法 444
第十二章 ECL集成电路的使用注意事项 449
12.1 电源 449
一、ECL电路的工作电源的几种接法 449
二、输入直流偏置电压的几种接法 450
12.2 功耗 453
12.3 负载 454
12.4 扇出 455
12.5 外引线排列顺序及识别方法 456
第十三章 ECL集成电路的应用 458
13.1 ECL集成电路在脉冲生成中的应用 458
一、ECL振荡器 458
二、脉冲成形器 467
三、单稳态电路 469
四、单脉冲电路 471
五、脉冲延时电路 474
六、实验用ECL脉冲信号源举例 475
13.2 ECL计数器和分频器 477
一、二到九进制计数器和分频器 477
二、十进制计数器和分频器 481
三、其它进制计数器和分频器 486
13.3 ECL组合电路的应用 488
一、译码器和编码器 488
二、数据选择器和数据分配器 500
三、数值比较器 505
四、校验校正电路 508
五、运算逻辑电路 511
13.4 ECL电路的其它应用 516
一、电平转换电路 516
二、线性应用 518
三、高速锁相环 520
四、移位寄存器和移位器 522
五、综合应用 524
一、可靠性的重要意义 543
二、可靠性的基本概念 543
14.1 概述 543
第十四章 ECL集成电路的可靠性 543
14.2 影响ECL电路可靠性的主要因素及提高可靠性的途径 545
一、保护E-B结 546
二、缓解电迁移效应 546
三、消除C-E极间漏电 547
四、减少氧化层针孔 547
五、采用表面钝化处理 547
六、提高封装和键合质量 547
一、常规的质量考核试验 548
14.3 ECL集成电路可靠性试验方法及试验结果 548
七、严格进行工艺筛选 548
二、长期可靠性试验 550
三、现场考核试验 556
14.4 失效现象及失效分析 556
一、失效判别依据 557
二、失效现象及一般分析 558
三、几种失效机理分析 562
第五部分 附录附录Ⅰ ECL集成电路图形符号 566
附录Ⅱ ECL集成电路封装外形尺寸 569
附录Ⅲ ECL集成电路国内外型号对照表 572