目录 1
第一章常用的半导体器件参数测试仪简介 1
第一节引言 1
第二节指针式测试仪 3
第三节半自动分选机 6
第四节自动分选机 8
第五节用电子计算机控制的测试仪 9
第六节特性曲线图示仪 11
第八节小结 12
第七节其他测试仪 12
第二章半导体器件参数快速综合测试仪 15
第一节仪器的工作原理和基本方框图 15
一、仪器的工作原理 15
二、仪器的基本方框图 20
第二节简易电子示波器的方框图 32
一、用示波管的简易示波器 32
二、用电视显象管的简易光栅扫描示波器 35
第三节仪器的应用简介 41
一、测试取样电路的设计要求 41
二、仪器的应用范围 43
三、应用举例 45
第四节仪器的设计、组合方法 61
第三章控制单元电路 65
第一节主控振荡器 65
一、专用测试仪用的主控振荡器 66
二、通用型测试仪用的主控振荡器 70
三、脉冲反相器 73
第二节计数器 74
一、用分立元件的计数器 74
二、用集成电路组成的计数器 78
三、被测参数个数倍乘电路 86
第三节译码器 89
一、由二极管“与门”组成的译码器 89
二、由集成电路“与非”门组成的译码器 94
三、集成化计数—译码控制器 99
第四节延时电路 104
一、用分立元件制作的延时电路 104
二、厚膜单稳电路 106
三、半导体集成单稳电路 107
第五节继电器和电子开关 113
一、干簧继电器 114
二、电子开关 117
第六节开关驱动电路 127
一、继电器驱动器 127
二、电子开关驱动器 128
第七节手动测试控制器 134
一、慢速手测控制器 134
二、快速手测控制器 135
第八节同步信号发生器 139
一、外接示波器用的同步信号发生器 141
二、仪器自备示波器的同步信号发生器 145
第九节信号源 146
第十节电源 149
一、串联型晶体管稳压电源 150
二、简易的恒流源 152
三、电压可变的稳压管 155
四、用运算放大器的稳压源和恒流源 158
五、数控电源和数字化电源 165
一、表头监测电路 172
二、校正信号电路 172
第十一节辅助电路 172
三、测试矩阵电路 174
四、数字显示电路 178
五、计数器的代码预置电路 183
第十二节设计控制器的电路的注意事项 185
第四章测试与取样电路 186
第一节测试漏电流的电路 186
第二节测试击穿电压的电路 190
第三节测试直流工作电压和电流的电路 194
第四节直流放大参数的测试 197
第五节交流小信号参数测试电路 200
第六节集成电路逻辑功能的测试 204
笫七节其他参数的测试 208
第八节测试电路的组合 211
第九节测试电路与示波器的连接 213
第五章简易示波器的设计 215
第一节扫描发生器 215
一、X轴扫描电路 215
二、Y轴电流扫描电路 223
第二节Y轴信号放大器 223
一、电压比较器 227
第三节调辉电路 227
二、线性锯齿波电压发生器 229
三、窄脉冲发生器 231
四、回扫消影电路 233
第四节电源 234
一、＋150V～＋300V的直流高压电源 234
二、±1500V直流电压 236
三、示波管的直流供电系统 238
四、电视显象管的直流供电系统 238
第五节简易电子示波器设计方案选择 239
第六节光栅扫描示波器 240
一、基本技术指标 240
一、简易式光栅扫描示波器 240
二、用示波管的简易电子示波器 240
二、光栅扫描示波器的方框图 241
三、简易光栅扫描示波器电路图 241
四、工艺设计 242
五、几点说明 246
第七节用示波管的简易示波器 246
三、简易示波器的电路图 247
二、简易示波器的方框图 247
一、技术指标 247
四、工艺设计原则 248
五、几点说明 248
第六章设计实例及其应用 249
第一节晶体管直流参数快速综合测试仪 249
一、设计目的 250
二、设计方案 250
四、时间关系图 251
五、电原理图 251
三、仪器的总方框图 251
六、仪器的结构和工艺 261
第二节晶体管直流参数快速综合测试仪的应用 265
一、使用方法 265
二、测试条件的调整方法 267
三、仪器的校正方法 268
笫三节集成电路直流参数快速综合测试仪 273
一、设计目的 273
二、设计方案 274
五、电原理图 275
四、时间关系图 275
三、仪器的总方框图 275
六、仪器的结构和工艺 292
七、更改电路设计方案的提示 293
第四节集成电路直流参数快速综合测试仪的应用 301
一、使用方法 301
二、测试输入插座的接线方法 306
三、仪器的校正方法 314
四、显示波形实例 319
第一节仪器的结构设计 322
第七章安装与调试工艺简介 322
第二节印刷电路板的设计原则 324
第三节总装布线工艺 325
一、电流结点与电压结点 326
二、等电位连接 327
三、测试取样电压的取出方法 329
四、防止寄生耦合干扰的措施 330
第四节调试工艺 331
第五节元件的挑选 333
第八章集成电路动态波形和高频参数的测试 334
第一节高频特性和动态波形的取样显示法 335
第二节用巡迴检测法来测试集成电路的输出波形 337
第三节跟随器电路 342
一、复合式电压跟随器 342
二、宽频带阻容分压器 343
第四节乐音发生器 346
一、音调发生器 347
二、辅助音发生电路 349
三、低频放大器 352
第五节集成电路动态特性巡迴测试仪 352
一、各控制开关的作用 354
第六节集成电路动态特性巡迴测试仪的应用 354
二、使用方法 356
三、测试输入插座CZ1的连接方法 357
附录： 360
一、本书使用的符号及其意义 360
二、本书使用的MOS型集成电路引线排列图 362
三、半导体集成电路中增益运算放大器FC3的特性和应用 365
四、本书各单元电路所用变压器数据表 367
五、参考书目 367