第一章 X射线物理学概要 1
1 X射线的产生及其本性 1
2 X射线谱 3
3 X射线与物质交互作用的基本现象 7
4 X射线的探测和防护 11
第二章 晶体学与倒易点阵 13
1 点阵 13
2 点阵方向及点阵平面 14
3 对称 16
4 点群 17
5 晶系 18
6 布拉菲点阵(平移群) 19
7 空间群 22
8 倒易点阵 24
第三章 X射线衍射原理 28
1 衍射的基本方程与瓦尔德图解法 28
2 X射线的衍射方法 31
3 结构因子与点阵消光法则 32
4 完整小晶体的衍射强度和干涉函数 37
5 多晶体衍射强度 39
第四章 多晶体粉末照相 45
1 德拜照相成相原理 45
2 德拜相机 46
3 试样制备与调整 47
4 底片安装方式 48
5 辐射及滤波片的选择 49
6 曝光时间 51
7 衍射线位置的测量 52
8 衍射花样的晶面指数标定 52
9 聚焦相机 58
参考文献 69
第五章 X射线衍射仪 71
1 引言 71
2 X射线光源 73
3 X射线测角仪 78
4 探测与记录系统 94
5 微型电子计算机对衍射仪的运控、测量和数据处理 101
6 衍射仪主要技术指标与验收 104
7 实验与测量方法 108
参考文献 116
第六章 多晶体X射线相分析 118
1 引言 118
2 JCPDS粉末衍射卡片及索引 119
3 X射线衍射相分析方法 123
4 电子计算机自动检索方法 128
5 多晶体相分析中存在的一些问题 132
6 单颗微粒的X射线相分析 135
参考文献 139
第七章 X射线衍射定量相分析 140
1 引言 140
2 定量相分析的基本原理 141
3 外标法 142
4 内标法 143
5 基体冲洗法及绝热法 145
6 联立方程法 150
7 直接比较法 152
8 应注意的几个问题 158
参考文献 159
第八章 点阵参数的精确测定 161
1 一般考虑 162
2 德拜-谢乐照相法 164
3 用衍射仪法测定点阵参数 171
4 点阵参数测定的实际应用 176
参考文献 179
第九章 单晶取向的测定 181
1 极射赤面投影和心射切面投影 181
2 晶体坐标网 184
3 劳厄照相法 195
4 衍射仪法 212
参考文献 213
第十章 金属材料织构的测定 214
1 引言 214
2 织构的类型及其描述方法 216
3 轴向对称织构的测定 221
4 板材织构(极图)的测定 226
5 反极图的测定 241
6 织构分析的取向分布函数法 245
7 结束语 257
参考文献 258
第十一章 面心立方金属与合金的堆垛层错能测定 259
1 引言 259
2 层错能测量的X射线线形分析方法 260
3 两个重要的经验关系式 262
4 面心立方金属和合金堆垛层错能的测定--X射线织构法 264
参考文献 272
第十二章 有序无序转变 274
1 长程有序度的定义 274
2 有序化的X射线衍射效应 275
3 形成超点阵线的物理原因 276
4 实验及计算 278
5 近程有序度的测定 279
参考文献 282
第十三章 显微畸变和嵌镶碎化尺寸的X射线分析 283
1 近似函数图解法 284
2 瓦伦-艾弗巴赫傅氏分析法 329
3 方差分析法 348
附录 350
参考文献 361
第十四章 宏观残余应力测定 363
1 引言 363
2 宏观残余应力的测量原理和方法 364
3 应力常数的确定及定峰方法 370
4 X射线应力分析仪器 376
5 样品状态对应力测定的影响 380
6 侧倾法 382
7 应力测定中的一些问题 388
参考文献 390
第十五章 调幅结构的X射线分析 392
1 不完整晶体X射线衍射强度的普遍公式 393
2 调幅结构的衍射图象及形成原理 399
3 实验技术 405
4 应用实例 406
参考文献 409
附录 411
1.元素的特征谱及吸收限波长×10(？) 411
2.质量吸收系数μι/ρ及密度ρ 413
3.原子散射因子f 415
4.△f′к数值 418
5.△f″к数值 420
6.元素原子的散射能参数δк 420
7.德拜函数Φ(x)数值 421
8.德拜函数？+？数值 421
9.德拜-瓦伦温度因子е-Bsln?/λ3=e-M 422
10.立方晶系晶面(或晶向)间夹角 424
11.六角晶系晶面间夹角(°) 431
12.透射法在不同ɑ°、2θ°和e-μt条件下的强度校正因子？×100 432