第一章 绪论 1
1.1 测试技术的作用及其发展 1
1.2 现代测试系统的特点 3
1.2.1 现代测试系统的分类 3
1.2.2 现代测试系统的特点 4
1.3 现代测试系统的基本结构 6
1.3.1 非电量的特征 6
1.3.2 计算机控制的数据采集系统 6
1.3.3 标准接口系统 9
1.3.4 工艺过程计算机闭环采样控制系统 10
2.1.2 自然干扰 12
2.1.1 干扰的分类 12
2.1 干扰源 12
第二章 干扰及其抑制 12
2.1.3 电气设备干扰 13
2.1.4 内部干扰 14
2.2 干扰的耦合 15
2.2.1 电阻耦合 15
2.2.2 容性（电场）耦合 16
2.2.3 感性（磁场）耦合 18
2.3 电磁屏蔽 19
2.3.1 电场屏蔽 19
2.3.2 磁场屏蔽 21
2.4 接地 24
2.4.1 安全接地 24
2.4.2 信号接地 25
2.4.3 电缆屏蔽层的接地 28
2.4.4 隔离 29
第三章 信号传输 32
3.1 信号传输中的基本问题 32
3.1.1 概述 32
3.1.2 信号传输中的基本问题 32
3.2 调制原理 34
3.2.1 概述 34
3.2.2 调幅 38
3.2.3 角调制 43
3.3 脉冲调制 51
3.3.1 模拟信号的采样 51
3.3.2 脉冲幅度调制 51
3.3.3 脉宽调制与脉位调制 53
3.4 多路传输原理 54
3.4.1 频分制多路传输 55
3.4.2 时分制多路传输 58
3.4.3 频分制和时分制的比较 60
3.5 数字信号的基带传输 60
3.5.1 概述 60
3.5.2 数字基带信号的码型 61
3.5.3 PCM基带信号的功率谱 62
3.5.4 信道对信号波形的影响 63
3.5.5 幅频特性的滚降 64
3.6 数字信号的频带传输 66
3.6.1 数字调幅（ASK） 66
3.6.2 数字调频（FSK） 67
3.6.3 数字调相（PSK） 68
4.1 引言 71
第四章 信号处理 72
4.2 滤波 72
4.2.1 理想滤波器 72
4.2.2 滤波器的传递函数 73
4.2.3 RC有源滤波器 80
4.2.4 RC有源滤波器的设计方法 85
4.2.5 有源陷波器 91
4.3 信号线性化 93
4.3.1 线性化的意义 93
4.3.2 模拟硬件线性化器 94
4.3.3 特殊线性化器 99
4.3.4 用软件实现线性化 102
4.4 数据处理与系统自校准 106
4.4.1 误差的类型及其特点 106
4.4.2 测量数据的处理 107
4.4.3 测试系统的自校准 110
4.5 干扰信号的软件处理 112
4.5.1 单频率干扰信号的处理 112
4.5.2 测量曲线的平滑 114
4.5.3 强干扰信号的处理 115
第五章 数据采集与控制系统 118
5.1 接口和总线概述 118
5.1.1 接口 118
5.1.2 总线 119
5.2.2 ADC0809与MCS-51单片机的接口 120
5.2.1 A/D转换器概述 120
5.2 模—数转换器与DSP 120
5.2.3 AD574与微型计算机接口 123
5.2.4 A/D转换器与计算机接口的一般规律 128
5.2.5 高速数字信号处理器（DSP） 129
5.3 数—模转换器 131
5.3.1 D/A转换器概述 131
5.3.2 DAC0832与MCS-51单片机接口 131
5.3.3 DAC0808与微型计算机接口 134
5.3.4 DAC1210与MCS-51接口 135
5.4 示波器及X-Y绘图仪接口 137
5.4.1 示波器与微处理机接口 137
5.4.2 X-Y绘图仪与微处理机接口 139
5.5.1 磁带录音机中磁带记录格式 140
5.5 标准音频磁带机接口 140
5.5.2 磁带机接口电路 141
5.6 打印机接口 143
5.6.1 μ80打印机概述 143
5.6.2 接口信息及控制时序（Centronics标准） 143
5.6.3 μ80打印机与Z80-P1O的硬件连接 144
5.7 RS-232C异步通信接口原理及应用 145
5.7.1 异步通信规程 145
5.7.2 RS-232C接口 146
5.7.3 异步通信适配器 148
5.7.4 常用计算机间双RS-232C接口连接 150
5.8 STD总线 151
5.8.1 总线的实现 151
5.8.2 总线信号的定义和排列 152
5.8.3 总线信号的功能 153
5.9 两级分布式测控、管理系统 155
5.9.1 概述 155
5.9.2 两级分布式测控、管理系统总体结构 156
5.9.3 上级机配置及功能 156
5.9.4 多路通信工作站配置及功能 157
5.9.5 前端机配置及功能 157
5.9.6 通信问题 158
第六章 GP-IB标准接口系统及其应用 159
6.1 概述 159
6.1.1 GP-IB标准接口系统的由来与发展 159
6.1.2 接口系统的基本特性 159
6.1.3 GP-IB接口的应用 160
6.2.1 器件职能 161
6.2 GP-1B总线结构 161
6.2.2 GP-IB总线描述 162
6.2.3 三线挂钩过程 164
6.2.4 总线电缆及电缆接头 165
6.3 接口功能设置 166
6.3.1 讲者功能（T）和听者功能（L） 166
6.3.2 源挂钩功能（SH）和受者挂钩功能（AH） 167
6.3.3 控者功能（C） 167
6.3.4 服务请求功能（SR） 167
6.3.5 并行点名功能（PP） 167
6.3.6 远地／本地功能（R/L） 167
6.3.7 器件触发功能（DT） 168
6.3.8 器件清除功能（DC） 168
6.4.1 消息的分类 169
6.4 消息编码及传递 169
6.4.2 消息的编码 171
6.4.3 消息传递 176
6.5 接口功能的状态图 177
6.5.1 器件清除功能（DC功能）状态图 178
6.5.2 器件触发功能（DT功能）状态图 178
6.5.3 听功能（L功能和LE功能）状态图 179
6.5.4 受者挂钩功能（AH功能）状态图 181
6.5.5 讲功能（T功能和TE功能）状态图 183
6.5.6 源挂钩功能（SH功能）状态图 185
6.5.7 服务请求功能（SR）状态图 187
6.5.8 并行点名功能（PP功能）状态图 188
6.5.9 远地／本地功能（RL功能）状态图 189
6.5.10 控功能（C功能）状态图 190
6.5.11 接口功能子集 195
6.5.12 器件接口功能的配置 195
6.6 GP-IB接口设计 196
6.6.1 用中、小规模集成电路设计接口 196
6.6.2 用GP-IB专用大规模集成电路设计接口 202
6.6.3 用软件模拟实现接口功能 212
6.7 测量仪器的程控 214
6.7.1 概述 214
6.7.2 程控仪器的寻址 215
6.7.3 远控和本控切换 216
6.8 器件消息的编码格式 219
6.8.1 器件消息的一般编码格式 219
6.8.2 程控指令的编码格式 224
6.8.3 测量数据的编码格式 226
6.8.4 状态拜特的编码格式 227
第七章 CAMAC标准接口系统 229
7.1 引言 229
7.2 基本机箱标准 231
7.2.1 CAMAC系统的基本特点 231
7.2.2 机箱结构 231
7.2.3 信号电平标准 233
7.2.4 数据电路源标准 233
7.3 数据路及其操作 234
7.3.1 命令（NAF） 234
7.3.2 数据路操作的定时 238
7.3.4 状态信息（L,B,Q,X） 241
7.3.3 数据及其传递 241
7.3.5 公共控制（Z,C,I） 248
7.3.6 其它连线 249
7.3.7 组件设计与系统实例 249
7.4 CAMAC分支系统 250
7.4.1 概述 . 250
7.4.2 分支总线的结构 251
7.4.3 分支操作与定时 253
7.4.4 分支驱动器与A-Ⅰ型机箱控制器 255
7.5 CAMAC串行系统 257
7.5.1 概述 257
7.5.2 电文格式 258
7.5.3 电文序列与SCC动作序列 264
7.6.2 辅助控制器总线（ACB） 267
7.6 多控制器系统 267
7.6.1 概述 267
7.6.3 辅助控制器总线的使用 269
第八章 VXI总线系统 271
8.1 VXI总线的由来与特点 271
8.1.1 VXI总线的由来 271
8.1.2 VXI总线的特点 272
8.2 VXI系统的组成结构 273
8.2.1 VXI插件及连接器 273
8.2.2 VXI主机架 274
8.2.3 系统的控制方式和零插槽 275
8.2.4 VXI系统组成结构实例 276
8.3.2 P1连接器及有关的总线 277
8.3.1 引言 277
8.3 VXI系统的总线结构 277
8.3.3 P2连接器及有关的总线 282
8.3.4 P3连接器及有关的总线 285
8.4 VXI总线器件及其通讯协议 287
8.4.1 VXI总线器件分类 287
8.4.2 VXI总线器件通讯协议 288
8.5 VXI总线器件的实现 291
8.5.1 VXI总线仪器 291
8.5.2 488-VXI总线接口 294
参考文献 298
附录A GP-IB接口功能子集表 299
附录B GP-IB英文缩写索引 304
附录C 集成电路符号对照 308