第一章 逻辑电路测试的一般概念 1
第一节 逻辑电路及其测试 1
第二节 故障 7
第三节 穷举测试法 8
第四节 故障模型 26
参考文献 38
习题 39
第二章 组合电路的测试产生 41
第一节 布尔差分法 41
第二节 D算法 50
第三节 分支判决法 68
第四节 随机测试产生 76
第五节 多故障诊断 80
参考文献 93
习题 95
第三章 测试的响应分析 97
第一节 故障模拟和响应存贮法 97
第二节 比较法 101
第三节 响应的压缩 104
第四节 特征分析器 112
参考文献 133
习题 134
第四章 时序电路的测试 135
第一节 检查实验 135
第二节 时序电路的迭代阵列模型 145
第三节 时滞测试 148
第四节 随机访问存贮器（RAM）的测试 156
参考文献 160
习题 160
第五章 可测试性设计 162
第一节 可测试性的测度 162
第二节 可测试性设计的特定方法 174
第三节 级敏扫描设计（LSSD） 178
第四节 其他可测试性设计 189
第五节 内测试 202
第六节 自治测试 208
参考文献 220
习题 221
第六章 微处理器的测试 225
第一节 微处理器的测试及可测试性设计 225
第二节 包含微处理器的数字系统的功能故障模型 233
第三节 给定功能故障的测试产生 245
第四节 微处理器的测试生成程序 255
参考文献 271
第七章 可编程序逻辑陈列的测试 272
第一节 PLA的结构 272
第二节 PLA故障模型 274
第三节 PLA的可测试性设计 301
参考文献 322
附录 323