目录 1
第一章 绪论 1
1-1 数字系统故障对策概论 1
1-2 数字系统可靠性技术概论 12
1-3 问题的核心 19
小结 20
参考文献 21
2-1 常用数字电路测试设备 22
第二章 故障查找基础 22
2-2 逻辑分析仪及特征分析仪 29
2-3 故障查找基本策略和方法 36
2-4 故障检修流程图 43
2-5 数字电路故障分析 46
小结 55
参考文献 56
第三章 逻辑故障诊断 57
3-1 逻辑故障模型及可测试性 57
3-2 布尔差分法 64
3-3 通路敏化法 71
3-4 D算法 75
3-5 PODEM算法和FAN算法 84
3-6 逻辑故障测试难点讨论 92
3-7 时序逻辑的组合化测试法 100
3-8 时序机的功能测试 105
3-9 逻辑故障实用测试技术 114
3-10 动态逻辑故障对策 118
小结 126
参考文献 128
第四章 数字信号传输故障对策 130
4-1 数据传输概论 130
4-2 差错控制码 138
4-3 传输畸变及对策 152
4-4 间歇差错产生原因及排除 163
4 5 光纤数据通信 167
小结 170
参考文献 172
5-1 数字电路的抗干扰能力 173
第五章 干扰与噪声的防治 173
5-2 干扰来源及抗干扰一般对策 177
5-3 工频电源干扰的防治 182
5-4 电磁干扰及电磁相容性设计 189
5-5 其他干扰的防治 201
5-6 数字系统内部噪声的抑制 206
小结 213
参考文献 214
6-1 可靠性特征量 216
第六章 可靠性技术基础 216
6-2 系统的可靠性模型 224
6-3 提高数字系统可靠性基本方法 232
6-4 可靠性设计概论 241
6-5 系统可靠性预计和分配 244
小结 254
参考文献 255
第七章 数字系统易测性设计 257
7-1 逻辑可控性和可观性 258
7-2 改善逻辑电路易测性基本方法 262
7-3 组合逻辑易测性结构设计 275
7-4 时序逻辑易测性结构设计 282
7-5 印制电路板的易测性设计 290
小结 299
参考文献 300
第八章 故障自检测与失效保险 302
8-1 故障安全与自检测 302
8-2 组合逻辑自检测电路设计 306
8-3 自检测时序电路设计 317
8-4 失效保险设计 325
小结 331
参考文献 332
第九章 容错技术 334
9-1 概述 334
9-2 硬件容错技术 337
9-3 信息余裕 352
9-4 软件容错技术 364
9-5 时间余裕 376
小结 378
参考文献 379