目录 1
一、绪言 1
1.1本报告的范围 1
1.2外来计数 2
1.3计数统计学方面的一些考虑 4
1.4分析程序 8
1.5低水平放射性的标准源和参考源 11
二、样品的处理 13
2.1引言 13
2.2样品处理方法 16
2.3样品和试剂的污染 22
三、γ和X射线发射体的分析 27
3.1引言 27
3.2本底的成分及其减小措施 29
3.3闪烁计数器 41
3.4半导体探测器 53
3.5正比计数器 56
3.6专门技巧 58
3.7γ射线能谱的分析 61
4.1引言 64
四、β粒子发射体的分析 64
4.2气体放电计数器 65
4.3塑料闪烁计数器 75
4.4液体闪烁计数器 77
4.5契伦柯夫计数器 85
4.6半导体探测器 87
4.7特殊放射性核素的分析方法 88
五、α粒子发射体的分析 96
5.1引言 96
5.2本底 96
5.4α粒子探测方法的分类 97
5.3灵敏度 97
5.5测量固体源中的α粒子总发射率 98
5.6气态α粒子发射体的测量 102
5.7α粒子的能谱测定 104
5.8核径迹技术 107
六、标准源和参考源 108
6.1引言 108
6.2某些专门的低水平标准源 109
6.3标记化合物 112
6.4最少放射性的源材料 113
参考文献 115