第1章 集成电路测试概述 1
集成电路测试的定义 1
集成电路测试的基本原理 1
集成电路故障与测试 1
集成电路测试的过程 2
集成电路测试的分类 6
集成电路测试的意义与作用 7
半导体技术的发展对测试的影响 9
第2章 数字集成电路测试技术 11
概述 11
典型的数字集成电路测试顺序 13
数字集成电路测试的特殊要求 14
直流参数测试 15
交流参数测试 29
功能测试 33
第3章 半导体存储器测试技术 47
存储器的组成及结构 47
存储器的失效模式和失效机理 48
存储器的故障模型及验证方法 50
图形算法在存储器测试中的作用 54
存储器的测试项目 66
内建自测试在存储器测试中的应用 68
存储器测试需要注意的问题 70
第4章 模拟集成电路测试技术 71
概述 71
模拟集成运算放大器测试技术 72
模拟集成比较器测试技术 86
影响运算放大器闭环参数测试精度的原因分析 88
集成稳压器测试技术 90
模拟开关集成电路测试技术 101
第5章 数模混合集成电路测试技术 119
5．1概述 119
ADC、DAC测试的必要性 121
测试方法 123
基于DSP的测试技术 123
DAC测试技术 126
ADC测试技术 133
数模混合集成电路测试参数分析 139
DAC和ADC测试相关误差分析 143
第6章 DSP在混合电路测试中的应用 145
DSP概述 145
DSP测试基础 147
基于DSP的测试优点 160
基于DSP的功能测试 161
基于DSP的动态参数测试 163
混合信号电路对基于DSP的测试系统的要求 168
第7章 SOC测试技术 169
前言 169
SOC芯片对测试的要求 170
SOC中混合信号测试 172
SOC混合信号测试的发展方向 179
第8章 IDDQ测试 181
引言 181
IDDQ测试检测的故障 182
IDDQ测试方法 186
IDDQ测试的局限性 191
ΔIDDQ测试 191
IDDQ内建电流测试 193
IDDQ可测试性设计 194
小结 194
第9章 DC-DC参数测试方法 195
DC-DC模块的发展 195
DC-DC电源模块直流参数测试原理 196
交流参数测试原理 208
DC-DC电源模块测试系统 215
第10章 集成电路测试系统 220
集成电路测试系统概述 220
现代混合集成电路测试系统的基本结构 222
SOC测试系统 232
第11章 设计到测试的链接 243
引言 243
设计、测试技术面临的问题 245
设计到测试的无缝链接 247
芯片的验证测试 251
设计到测试的自动转换 256
第12章 测试接口板DIB设计技术 262
测试接口板基础 262
PCB设计与制作 264
DIB连线屏蔽保护 266
传输线 274
测试接口板接地点和电源布线设计技术 279
DIB设计中元器件的选择 282
DIB印制电路板的可靠性设计 285
DIB印制电路板的效果验证 288
参考文献 289