第一章 引论 1
1.1 关于CCD的基本概念 1
1.2 CCD制造技术概述 4
1.3 CCD的发明与发展 7
1.4 CCD的应用 11
1.5 教学要求 15
第二章 CCD的物理基础——半导体表面层和MIS结构 17
2.1 MIS电容 17
2.2 半导体表面感生电荷层 19
2.3 理想MIS结构的C-V特性 28
2.4 实际MIS结构及其C-V特性 35
2.5 界面态 43
2.6 深耗尽态 47
第三章 CCD的工作原理 51
3.1 表面沟电荷耦合器件（SCCD） 51
3.2 埋沟电荷耦合器件（BCCD） 83
3.3 注入和输出电路 99
第四章 红外CCD 116
4.1 红外探测器的基本概念 117
4.2 红外CCD 132
第五章 CCD特性分析 145
5.1 CCD的势阱最大容量 145
5.2 CCD的电荷转移失效率 147
5.3 暗电流 162
5.4 CCD的噪声 164
5.5 CCD的工作频率 175
第六章 CCD在信号处理方面的应用 177
6.1 CCD信号处理功能概念 177
6.2 CCD模拟延迟线 185
6.3 CCD横向滤波器（CCDTF） 202
6.4 CCD相关器 224
第七章 CCD摄像机的工作原理 236
7.1 扫描成像的基本原理 237
7.2 CCD摄像机工作原理 244
7.3 CCD摄像机应用举例 285
7.3.1 CCD计算机图像输入系统 285
7.3.2 机载CCD遥感成像系统 289
7.3.3 CCD图形轮廓测量系统 293
第八章 CCD存贮器 297
8.1 存储器概念 297
8.2 CCD存贮器工作原理 302
8.3 CCD存贮器结构 305
8.4 CCD存贮器特性分析 307
8.5 CCD存贮器的发展及其所面临的问题 309
主要参考文献 311