绪论 1
第一节测试的新领域 1
目 录 1
第二节数据域测试的基本方法 2
第三节计算机辅助测试 3
第四节可测性和内测试 4
第五节数据域测试仪器 5
参考文献 5
一、数字系统测试的必要性和复杂性 7
第一章数据域测试的基本概念 7
第一节数字系统及其测试 7
二、故障与测试 10
三、测试矢量的产生 14
四、测试响应的观察 15
五、复杂系统的测试 15
第二节穷举测试法 16
一、单输出无扇出电路 16
二、带汇聚扇出的单输出电路 20
三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路 22
第三节故障表方法 23
一、固定式列表计划侦查 23
二、固定计划定位 25
三、适应性计划侦查和定位 28
本章习题 34
第二章组合逻辑电路的测试 36
第一节通路敏化 36
一、敏化通路 36
二、通路敏化法 37
三、一维敏化的问题 40
四、树形电路 41
五、二维敏化 41
第二节d算法 43
一、d算法的基础知识 43
二、d算法的基本步骤 46
三、d算法举例 47
第三节扩展d算法 52
一、基本概念 53
二、扩展d算法 60
三、举例 62
第四节布尔差分法 65
一、基本概念 65
二、布尔差分及其运算特点 67
三、求布尔差分的方法 68
四、单故障的测试 71
五、多重故障的测试 74
六、产生测试的算法 76
一、等效范式 80
第五节等效范式（ENF）法 80
二、文字变量的敏化和测试的寻求 82
三、ENF法的特点 82
四、寻求最理想测试集的启发式方法 84
本章习题 88
第三章时序逻辑电路的测试 91
第一节迭接电路法 91
一、基本思想 91
二、故障的侦查 92
三、故障的定位 98
第二节状态变迁检查法 100
一、初始状态的识别和区分序列 101
二、终止状态识别以及复原和同步序列 107
三、用状态识别法来识别机器 110
四、状态变迁检查法 112
第三节逻辑电路的时滞测试 118
一、时滞测试的基本概念 118
二、时滞测试的实现方法 120
本章习题 121
第一节存贮器的测试 127
第四章微机系统的测试 127
一、RAM中的故障类型 128
二、测试的若干原则性考虑 129
三、存贮器测试方法 130
四、方法的比较 136
五、测试的实施 136
第二节微处理器的测试 140
一、裸μP的测试 142
二、裸μP的算法产生测试 143
三、裸μP的功能性测试的一般方法 146
一、基本概念 151
第三节利用被测系统的应用程序进行测试 151
二、应用程序的模型化 153
三、关系图 155
四、测试的组织 157
五、通路测试的算法 159
第四节利用总线观察进行测试 164
本章习题 165
一、概述 166
第一节计算机辅助测试的基本概念 166
第五章数字系统的计算机辅助测试 166
二、CAT的结构模型 167
三、测试算法 167
四、逻辑和功能描述语言 168
五、数据库 169
六、输出 169
第二节d算法程序 169
一、DALG-Ⅱ程序 169
二、实用中的具体问题 173
一、系统结构 175
第三节扩展d算法程序 175
二、LISP语言的特点 176
三、SXMS测试码自动生成系统 179
四、SXMDIAG故障测试系统 184
五、应用举例 185
第四节微处理器测试产生程序 186
一、基本思想 187
二、RTL语言简介 188
三、测试码的生成 190
本章习题 196
四、实例 197
第六章可测性设计 197
第一节可测性的测度 198
一、基本定义 198
二、标准单元的可测性分析 200
三、可控性和可观测性的计算 203
第二节可测性设计方法 206
一、可测性的改善设计 206
二、结构可测性设计 208
三、其他可测性设计简介 213
一、Reed-Muller展开式 215
第三节组合电路的异或门串联结构 215
二、异或门串联电路结构测试分析 216
第四节内测试设计 218
一、多位线性反馈移位寄存器 219
二、伪随机数发生器 220
三、特征分析器 222
四、内测试电路设计 224
本章习题 226
一、逻辑笔 228
第一节简易逻辑测试仪 228
第七章数据域测试仪器 228
二、逻辑脉冲发生器 229
三、电流故障检寻器 230
第二节特征分析仪 232
一、特征分析仪的基本原理 233
二、特征分析仪的故障侦出率 233
三、特征分析仪的基本结构 237
四、特征分析仪的工作 237
五、“特征”设计 243
第三节逻辑分析仪 244
一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标 245
二、逻辑分析仪的基本结构 246
三、数据捕获 246
四、数据显示 256
五、应用 260
第四节GP-IB母线分析仪 270
一、概述 270
二、母线分析仪的作用和功能 270
四、国产母线分析仪举例 275
三、母线分析仪的内部组织 275
第五节开发系统 278
一、概述 278
二、开发系统的功能和基本结构 278
三、仿真器 280
四、简易开发系统 289
五、通用开发系统 290
六、HP64000逻辑开发系统简介 298
本章习题 300
参考文献 301