1-1晶体的对称和点群 1
一、对称（宏观对称素） 1
第一章 晶体学基础 1
二、点群 3
1-2空间点阵 7
一、空间点阵的建立 7
二、布喇菲点阵 7
三、点阵方向和点阵平面指数 10
1-3空间群 14
一、晶体结构的微观对称素 14
二、点群和空间群的关系 16
三、空间群符号 17
1-4晶体结构和布喇菲点阵 19
一、平移算符 20
二、两种晶体布喇菲点阵 21
2-1电子的性质 24
第二章 电子及X射线的性质 24
一、电子的散射 26
二、电子与固体物质作用产生的信息 27
2-2X射线的性质 31
一、X射线的波粒二象性 31
二、X射线管 33
三、X射线谱 34
四、X射线与物质的相互作用 40
第三章 晶体的衍射效应及衍射几何 50
3-1可见光的光栅衍射现象 50
3-2X射线衍射的基本原理 52
一、X射线在晶体中的衍射 52
二、劳埃方程 53
三、布拉格方程 57
四、倒易点阵 64
五、衍射矢量方程及厄瓦尔德图解 75
3-3薄晶体的电子衍射 79
一、单晶体电子衍射花样 80
二、多晶体电子衍射花样 80
第四章 X射线和电子衍射的强度 83
4-1一个电子对X射线的散射 83
一、强度定义 83
二、一个电子对X射线的散射 84
4-2一个原子的散射 85
一、一个原子对X射线的散射 85
二、一个原子对电子波的散射 86
4-3一个晶胞的散射 87
4-4结构因素或结构振幅的计算 90
一、一些有用的关系 91
二、结构因数计算举例 91
一、偏离布拉格条件下的晶体衍射 95
4-5一个小晶体的衍射 95
二、一个小晶体衍射束强度的推导 96
三、倒易点的形状和大小 99
四、倒易杆与衍射束 99
4-6粉末衍射的积分强度 100
一、非理想条件下的衍射 100
二、粉末多晶体的衍射 101
三、衍射强度计算举例 107
一、X射线管 112
第五章 X射线衍射分析设备 112
5-1X射线晶体分析仪 112
二、供电系统 114
三、X射线相机 115
四、晶体单色器 119
5-2X射线衍射仪 121
一、X射线衍射仪的结构原理和光学系统 121
二、探测器 124
三、测量系统 131
5-3X射线设备的新进展 133
一、衍射仪的计算机控制 133
二、新的衍射仪附件 133
三、高强度X射线源 134
四、新型探测器 134
五、新型X射线衍射仪 135
第六章 电子显微镜 138
6-1电子光学基础 138
一、光学显微镜的局限性 138
二、电场对电子的作用静电透镜 139
三、磁场对电子的作用电磁透镜 140
四、电磁透镜的像差 142
五、电子光学系统的分辨率 144
六、场深和焦深 146
6-2透射电子显微镜 147
一、镜筒 148
二、真空系统 152
三、供电系统 153
6-3扫描电子显微镜 153
一、扫描电子显微镜的工作原理和结构 153
二、扫描电子显微镜在材料研究中的应用 161
6-4试样制备 162
一、透射电镜的试样制备 162
二、扫描电镜的试样制备 168
6-5电子显微镜的新发展 168
第七章 多晶体X射线衍射和单晶体电子衍射花样指数标定 171
7-1X射线粉未衍射花样指数标定和晶体结构测定原理 171
一、立方晶系衍射花样的指数标定 172
二、非立方晶系衍射花样的指数标定（图解法） 174
三、晶胞中原子位置的测定 178
四、相图与衍射花样 179
7-2电子衍射与电子衍射仪 180
7-3电子显微镜中的电子衍射 182
一、电子显微镜中的电子衍射 182
二、有效相机常数 182
三、选区电子衍射 183
四、选区误差 185
7-4多晶体和单晶体电子衍射花样 187
一、多晶体电子衍射花样 187
二、单晶体电子衍射花样 187
7-5简单电子衍射花样的指数标定 190
一、立方系单晶体已知物质的衍射指数标定 191
二、入射束方向 195
三、非立方系单晶体衍射花样指数标定 195
四、未知晶体衍射斑点的标定 199
五、180°不唯一性 199
一、基矢变换和指数变换（基础知识） 201
7-6复杂电子衍射花样 201
二、高阶劳埃带 203
三、双晶带电子衍射和应用 209
四、菊池线 210
五、二次电子衍射 215
六、孪晶电子射衍 216
8-1X射线物相定性分析 221
一、物相定性分析的原理和方法 221
第八章 物相分析 221
二、卡片 222
三、索引 223
四、分析步骤 224
五、定性物相分析应注意的问题 225
六、定性物相分析应用举例 226
8-2X射线物相定量分析 228
一、基本原理 228
二、外标法 229
三、内标法 230
四、直接对比法 232
五、定量物相分析应注意的问题 235
8-3其他相分析法 237
一、化学相分析法 237
二、金相法 239
第九章 内应力的测量 242
9-1引言 242
9-2X射线法宏观应力的测量 242
一、X射线法的特点 242
二、测量原理 243
三、测量方法 247
四、测量技术 250
9-3钻孔法宏观应力的测量 257
9-4微观应力和晶粒尺寸的测定 259
一、微观应力对X射线衍射线的影响 259
二、晶粒尺寸对X射线衍射线的影响 260
三、仪器宽度的扣除方法 262
四、微观应力和晶粒尺寸的测定 266
9-5宏观应力测定的新发展 267
一、三维应力的测量方法 267
二、织构材料中残余应力的测量方法 270
第十章 劳埃法与单晶定向 273
10-1晶体投影 273
一、球面投影及极射赤面投影 273
二、吴氏网、极式网及其应用 276
三、晶带的极射赤面投影 281
四、标准极射赤面投影（标准投影） 282
10-2劳埃法 285
一、劳埃实验方法的一般介绍 285
二、劳埃斑点及分布规律 286
三、劳埃法的厄瓦尔德图解 288
一、透射劳埃法测定单晶取向 290
10-3单晶体取向的测定 290
二、背射劳埃法测定单晶取向 295
三、衍射仪法测定单晶取向 297
第十一章 多晶体范性形变后的衍射效应 301
11-1点阵应变效应 301
11-2回复和再结晶效应 303
11-3多晶体材料的择优取向 306
11-4线材织构（丝织构）——照相法 309
11-5板材织构 312
一、透射法测定板材织构极图 313
二、反射法测量极图 315
三、概图分析 317
四、反极图 319
第十二章 扫描电子显微镜和透射电子显微镜成像原理 321
12-1扫描电子显微镜成像原理 321
一、二次电子像 321
二、背散射电子像 323
三、吸收电子像 324
四、透射电子像 325
五、电子通道花样 325
12-2透射电子显微镜成像原理 327
一、复型试样成像原理 327
二、衍射衬度像 329
三、完整晶体中衍衬像运动学理论 331
四、不完整晶体中衍衬像运动学理论 339
五、衍衬像动力学理论概要 348
六、多相合金的衍射和衬度效应 355
第十三章 材料化学成分的物理分析方法 367
13-1电子探针X射线显微分析 367
一、仪器结构及工作原理 367
二、X射线谱仪 369
三、定量分析 374
四、分析方法及应用举例 376
13-2离子探针显微分析 377
13-3俄歇电子能谱分析 379
一、概述 379
二、谱仪的结构原理 380
三、谱仪的应用 382
四、低能电子衍射 382
13-4X射线光电子能谱分析 383
13-5荧光X射线分析 384
一、概述 384
二、谱仪结构 385
三、定性分析 386
四、定量分析 386
五、能谱分析 390
二、薄膜厚度判据 391
一、扫描透射电子显微像 391
14-1扫描透射电子显微术 391
第十四章 分析电子显微术简介 391
二、扫描透射显微术的特点 393
14-2薄膜晶体X射线显微分析原理 393
一、引言 393
三、电子束展宽空间分辨率 395
四、非试样散射 396
五、试验条件选择 397
六、应用举例——比值法 398
14-3电子能量损失谱（EELS） 399
一、引言 399
二、EELS装置原理 399
三、能量损失谱 404
14-4微衍射 405
一、引言 405
二、会聚束衍射 405
三、聚焦电子束微衍射 407
四、聚焦光栏电子束微衍射 408
五、摇摆束微衍射 408
六、微衍射的应用 409
第十五章 原子核环境的研究方法 411
15-1原子核的电、磁行为 411
一、原子核的构成 411
二、原子核磁矩和电四极矩 411
三、原子核放射性衰变 416
15-2穆斯堡尔效应 418
一、基本原理 419
二、实验方法 423
三、穆斯堡尔谱提供的信息 425
四、穆斯堡尔谱在材料研究中的应用 428
15-3核磁共振 431
一、基本原理 431
二、弛豫过程 433
三、实验方法 434
四、核磁共振谱的主要参数和提供的信息 436
五、核磁共振在材料研究中的应用 439
六、穆斯堡尔效应和核磁共振方法比较 441
第十六章 非晶态的结构分析 443
16-1非晶态简介 443
16-2非晶态固体的结构模型 444
16-3非晶态结构的测定 446
一、X射线衍射法 446
二、扩展X射线吸收谱精细结构法 451
三、电子显微法 453
16-4非晶态的晶化研究方法 454
一、X射线衍射法结晶度的测定 455
二、电子显微法晶化相结构的测定 458
附录 460
参考文献 514