目 录 1
第一部分 常用电子元器件测量 1
一、固定电阻器的测量 1
1用万用表测量固定电阻器 1
2．用晶体管特性图示仪测量电阻器 2
3．用电桥测量电阻器 3
4．热元件电阻值的测量 4
5．热敏电阻器的测量 5
二、可变电阻器（电位器）的测量 6
1．用万用表测量电位器 7
2．用示波器测量电位器的噪声 8
3．电位器滑动噪声指标的测量 9
4．同轴电位器的测量 10
三、电容器的测量 12
1．用万用表测量电容器容量 12
2．电容器漏电的测量 15
3．用万用表测量电解电容器的极性 16
4．用万用表测量双连可变电容器 17
5．用万用电桥测量电容器容量 17
6．用DY1型多用表测量电容器 18
7．用高频Q表测量电容器 19
四、电感器的测量 20
1．用万用表测量电感器 20
2．用DY1型多用表测量电感器 21
3．用电桥测量电感器 21
4．用高频Q表测量电感器 22
5．用谐振电路测量电感器 23
五、磁性元件的测量 24
1．目测法 25
2．水磨法 25
3．用万用表测量 26
4．用高频Q表测量 26
5．用示波器测量磁滞和饱和 27
六、录音机磁头的测量 28
1．录／放磁头、直流抹音磁头、交流抹音磁头的判别 29
2．录、放磁头阻抗的测量 29
3．磁头频率特性和电感量的测量 30
4．磁头谐振频率的测量 31
2．中频变压器及可调线圈空载Q值的测量 32
1．用万用表测量中频变压器 32
七、中频变压器及可调线圈的测量 32
3．中频变压器及可调线圈电感量、可调范围的测量 33
4．中频变压器及可调线圈电压比的测量 33
八、变压器的测量 34
1．变压器直流电阻的测量 35
2．变压器绝缘电阻的测量 35
3．变压器效率的测量 36
4．电源变压器的空载试验 36
5．变压器频率响应的测量 37
6．变压器相位的测定 37
7．变压器平衡绕组的测量 39
8．变压器电感量的测量 39
9．输入电容的测量 2 40
11．传输门频率响应的测量 2 41
9．输入、输出变压器的判别 41
九、继电器的测量 42
13．传输门控制端最高允许重复频率的测量 2 43
1．用万用表测量灵敏继电器 43
2．用示波器测量继电器 44
十、干簧管的测量 45
2电子管混极的测量 47
十一、电子管的测量 47
1用万用表测量电子管 47
3．电子管屏流的测量 48
4电子管的放射试验 49
5．电子管跨导的测量 49
6．电子管整流管的测量 49
7．闸流管的动作试验 50
8．调谐指示管（电眼）的动作试验 50
十二、扬声器的测量 51
1．用万用表判断扬声器的好坏 51
2．用万用表判别扬声器的相位 51
3．扬声器谐振频率的测量 52
4．扬声器电声参数的测量 54
十三、话筒的测量 57
2．话筒相位的检查 58
1．用万用表测量话筒 58
3．用示波器测量话筒失真 59
4．用示波器测量话筒的频响 60
5．话筒灵敏度的测量 61
十四、用万用表测量耳机 63
十五、助音箱电声性能的测量 63
1．纯音试听 64
2．曲线阻抗的测量 64
3．频率响应的测量 65
十六、传输线和天线的测量 65
1．传输线的测量 66
2．天线的测量 67
十七、黑白显象管的测量 67
1．用电阻法测量显象管 68
2．显象管阴极活性和阴极发射电流的测量 68
十八、彩色显象管的测量 70
十九、彩色电视机X光射线的测量 71
二十、彩色电视机延时线的测量 72
二十一、彩色电视机SAW故障的检查 74
二十二、表头内阻的测量 75
二十三、液晶显示的测量 76
1．用软导线检查液晶显示 76
2．用万用表对液晶显示屏进行简单检查 76
3．液晶显示器驱动电流的测量 77
二十四、石英晶体好坏的判断 79
二十五、微型电池的测量 80
1．用万用表测量 81
二十六、普通晶体二极管的测量 81
2．用晶体管图示仪测量 83
3．用运算放大器测量配对二极管 85
4．用万用表测量高压二极管 86
二十七、稳压二极管的测量 88
1．用万用表测量稳压二极管 88
2．测量三个管脚的稳压二极管 89
3．用运算放大器测量稳压二极管 90
4．用晶体管图示仪测量稳压二极管 91
二十八、隧道二极管的测量 92
2．用晶体管特性图示仪测量隧道二极管 93
1．用万用表测量隧道二极管 93
3．用示波器测量隧道二极管 95
二十九、发光二极管的测量 96
1．用万用表判别发光二极管 96
2．测量发光二极管的工作电流 97
3．用晶体管图示仪测量发光二极管 98
4．采用运算放大器测量发光二极管 100
三十、变色发光二极管的测量 101
三十一、光电二极管的测量 103
三十二、氖管的测量 104
三十三、硒片的耐压和整流电流的判别 105
三十四、全桥堆的测量 106
三十五、中、小功率晶体三极管的测量 107
1．用万用表判别管脚 107
2．用万用表判别硅管还是锗管 109
3．用万用表判别是高频管还是低频管 110
4．用万用表测量三极管穿透电流IoEo 111
5．用万用表测量电流放大系数β近似值 112
6．用图示仪测量输出特性曲线和电流放大系数 114
7．用图示仪测量输入特性曲线和输入阻抗 122
8．用图示仪测量饱和压降VcEs 124
9．用图示仪测量反向击穿电压 125
三十六、大功率晶体三极管的测量 129
1．用万用表测量极间电阻 129
2．用万用表测量放大能力 131
3．用万用表测量穿透电流 131
4．用万用表测量共发射极直流电流放大系数 132
5．用万用表测量共发射极集电极饱和压降 133
6．用万用表快速判断锗大功率管的好坏 134
7．图示仪测量输出特性曲线和电流放大系数 134
8．图示仪测量饱和压降 135
9．图示仪测量反向截止电流 137
10．图示仪测量反向击穿电压 139
1．万用表判别复合管的好坏 141
三十七、高阻抗复合管的测量 141
2．电压传输系数K及最大输入信号电压的测量 143
三十八、单结晶管的测量 144
1．用万用表测量硅单结晶体管 144
2．用检测器测量单结晶管 146
3．晶体管特性图示仪测量单结晶管 147
1．用万用表检查结型场效应管 150
三十九、场效应晶体管的测量 150
2．图示仪测量结型场效应管的漏极特性 151
3．图示仪测量结型场效应管的转移特性 153
4．图示仪测量MOS场效应管的饱和漏电流 154
5．图示仪测量MOS场效应管的低频跨导 155
6．图示仪测量MOS场效应管的夹断电压 156
7．图示仪测量MOS场效应管的击穿电压 157
四十、可控硅的测量 157
1．万用表判别可控硅电极 157
2．简单判别可控硅的好坏 158
3．用万用表测量可控硅 158
4．图示仪测量可控硅 161
四十一、红外发光二极管的测量 165
四十二、光电耦合器的测量 166
1．输入端发光二极管正向特性的测量 167
2．输入端发光二极管反向特性的测量 168
3．输出端光敏管击穿特性测量 168
4．光电耦合器输出特性测量 169
5．电流传输比特性测量 170
四十三、荧光、辉光、半导体数码管的测量 171
1．用万用表检查荧光数码管 172
2．辉光数码管的检查 173
3．半导体数码管的检查 174
四十四、电平指示器的测量 175
1．测量范围 175
2．灵敏度的测量 176
3．输入阻抗的测量 177
4．电源功耗的测量 177
第二部分集成电路的测量 178
一、集成电路外形识别 178
1．A,B型 178
2．C,D型 179
3．Y型 181
4．F型 182
二、集成稳压器的测量 183
1．电压调整率Sv的测量 184
2．电流调整率Sr的测量 184
3．纹波抑制比S的测量 186
4．输出阻抗Zo的测量 187
6．输出噪声电压UN的测量 188
5．输出电压温漂ST的测量 188
7．用晶体管图示仪测量集成稳压器 189
1．运算放大器引出端排列规则 194
三、运算放大器的测量 194
2．输入失调电压Vcg和失调电流Lcg的测量 195
3．输入基极电流Ib的测量 196
4．共模抑制比CMRR的测量 197
5．开环电压增益和静态动耗的测量 198
6．最大输出幅度的测量 198
7．用专用仪器测量运算放大器 199
8．业余条件下测量运算放大器 200
9．用万用表测量运算放大器 202
四、DTL与非门的测量 204
1．开门电平和关门电平的测量 204
2．输入短路电流的测量 205
3．输出高电平和输出低电平的测量 205
4．负载个数（扇出系数）的测量 206
6．平均传输延迟时间的测量 207
5．空载通导功耗的测量 207
五、TTL门电路的测量 207
1．用万用表判别TTL电路的好坏 208
2．开门电压的测量 209
4．输出低电平的测量 211
3．关门电压的测量 211
5．输出高电平的测量 212
6．静态功耗的测量 213
八、CMOS电路直流参数测量 214
7．输入短路电流的测量 215
8．输入交叉漏电流的测量 217
六、TTL门电路交流参数的测量 218
七、TTL触发器的测量 220
1．空载功耗的测量 221
2．输入端短路电流的测量 221
3．输入端交叉漏电流的测量 222
4．输出高电平和输出低电平的测量 222
5．触发器最高工作频率的测量 223
1．静态器件电流的测量 224
2．输出低电平的测量 225
3．输出高电平的测量 226
4．输出驱动电流的测量 226
5．直流噪声容限的测量 227
6．输入电流的测量 228
7．电路最大允许电源电压的测量 229
8．电路最小允许电源电压的测量 230
9．传输门导通电阻的测量 231
10．传输门关态电流的测量 232
11．传输门控制端噪声容限 233
九、CMOS电路交流参数的测量 233
1．上升、下降时间的测量 233
2．传输延迟时间的测量 234
3．最小时钟脉冲宽度的测量 235
4．最大允许时钟上升、下降时间的测量 236
5．最高工作频率和最高时钟频率的测量 237
6．复位、置位传输延迟时间的测量 238
7．最小复位、置位脉冲宽度的测量 239
8．动态功耗的测量 239
10．传输门正弦波失真的测量 241
12．传输门交叉干扰的测量 242
14．传输门传输延迟时间的测量 243
十、PMOS电路的测量 244
1．检查被测端对地端是否击穿 245
2．检查被测端对电源端是否击穿 246
3．输出负载能力的测量 246
4．动态测量 247
十一、电视机集成电路的测量 248
1．HA1144的测量 248
2．HA1167的测量 250
3．HA1166的测量 252
4．KC583C的测量 255
5．KC581C的测量 260
6．KC582C的测量 263
7．μPC1366C的测量 263
8．μC1031H2的测量 266
9．AN355的测量 267
10．D7611P/D7607P的测量 268
11．D7609P的测量 272
12．D7176AP的测量 275
13．D7193P/D7193 AP的测量 278
14．彩电中其它集成电路的测量 281
15．部分国外彩电用集成电路的功能 281
1．μPC1018C调频调幅中频放大器的测量 287
2．XG 260调频调幅中频放大器的测量 290
3．FY1201（FZ6）调频调幅中频放大器的测量 293
4．XG4160单片录音机电路的测量 297
5．FY3301调频立体声多路解调器的测量 299
6．XG7410调频立体声解码器的测量 302
7．LA3361调频立体声调码电路的测量 304
8．TA7343AP调频立体声解码电路的测量 305
9．LA3210均衡放大电路的测量 307
10．XG 3220双通道带ALC前置放大器的测量 309
11．XG 2000前后一曲自动选曲电路的测量 310
12．XG 4100/4101/4102音频功率放大器的测量 314
13．XG 404音频功率放大驱动器的测量 317
14．其它功放集成电路的直流电压值 317
十三、其它集成电路的测量 321
1．霍尔集成电路的测量 321
2．555时基电路的测量 324
3．JEC-2集成电路的测量 326
第三部分国外元器件的识别 328
一、电阻器的识别 329
1．各国电阻器、电位器型号对照 330
2．电阻器阻值的识别 330
3．熔断电阻的识别 332
二、电容器的识别 333
1．各国电容器型号对照 333
2．国外电容器上WV和PV的识别 333
3．国外电容器容最、误差、耐压的识别 335
4．电容器温度系数的识别 337
5．国外电容器色点标志的识别 338
三、微型电感器的识别 340
四、火花隙放电器的识别 341
1．我国电真空器件的型号命名 342
2．美式电真空器件的型号命名 342
五、电真空器件的识别 342
3．日本电真空器件的型号命名 346
4．欧式电真空器件的型号命名 347
5．苏联电真空器件的型号命名 349
7．苏联电真空器件与中国相同型号 352
六、半导体器件的识别 352
6．美式（美、英、日等国）与中国电真空器件相同型号 352
1．我国半导体器件型号命名 353
2．日本半导体器件型号命名 354
3．美国半导体器件型号命名 358
4．欧洲半导体器件型号命名 360
5．英国、法国半导体器件型号命名 363
6．苏联半导体器件命名 364
7．国外半导体器件性能与我国相同的型号 368
七、集成电路的识别 369
1．我国半导体集成电路的型号命名 369
2日本集成电路生产厂与命名方法 370
3．美国集成电路生产厂与命名方法 374
4．其它国家集成电路生产厂与命名方法 378
5．国内外集成电路可以互换的型号 381
附录一 整流二极管国内外可互换型号 386
十二、音响集成电路的测量 386
附录二 稳压二极管国内外可互换型号 390
附录三 中、小功率三极管国内外可互换型号 394
附录四 大功率三极管国内外可互换型号 397