第一章 晶体学的基础知识 1
1.1 晶体的一般概念 1
1.2 晶体的分类 1
1.3 晶体的通性 5
1.4 晶体的几何学 7
1.4.1 晶体的对称性 7
1.4.2 晶体的外形 18
1.4.3 晶面有理数定理 31
1.4.4 晶面符号 33
1.5 晶体坐标轴的选择规则 35
1.6 晶带 41
1.7 面间距d的计算 41
1.8 230种空间群 43
参考文献 46
第二章 X射线衍射的基本知识 47
2.1 X射线 47
2.1.1 x射线的名称及其性质 47
2.1.2 x射线的产生 48
2.1.3 x射线谱 49
2.1.4 x射线的吸收 52
2.2 X射线在点阵平面上的反射 53
2.2.1 布喇格定律 54
2.2.2 系统消光及其应用 55
参考文献 56
第三章 X射线定向仪的常规应用 57
3.1 X射线定向仪的工作原理 57
3.2 仪器零位的调整 60
3.2.2 平行光管位置的校正 61
3.2.3 样品轴中心线是否与光束相交 61
3.2.1 x射线管位置的调整 61
3.3 Kα1，Kα2，Kβ特征谱线的鉴别 63
参考文献 64
第四章 晶体的快速定向法 65
4.1 关于晶体定向的概念 65
4.2 晶面夹角的计算及其在定向中的应用 66
4.3 棒状晶体的快速定向法 68
4.3.1 人工合成棒状晶体结晶学特性 68
4.3.2 定向方法 72
4.4.2 定向方法 74
4.4.1 基本概念和原理 74
4.4 测定(hkl)面族中多级衍射等偏角的简易定向法 74
4.4.3 应用实例 76
4.5 测定同一晶面(θKα-θKβ)角差(δ)的定向法 77
4.5.1 原理和方法 78
4.5.2 测量精度分析 81
4.5.3 应用实例 81
4.6 测定晶棒端面面指数的定向方法 84
4.8 X射线定向仪的快速定向法应用于衍射仪 85
4.7 几种定向方法的配合应用 85
4.8.1 棒状晶体在衍射仪上的定向方法 86
4.8.2 2θ及θ角异步调节定向法 87
4.8.3 2θ及θ固定，调节样品方位的定向法 88
4.9 部分晶体粉末衍射谱线卡 90
参考文献 182
第五章 检测晶体的几种方法 183
5.1 单晶与多晶的快速鉴别 183
5.2 棒状晶体轴向差的快速测定 184
5.2.1 测定方法 185
5.2.3 应用实例 186
5.2.2 误差分析 186
5.3 晶体晶胞常数及其变化的测定 190
5.3.1 原理及计算方法 190
5.3.2 测量误差分析及其校正 193
5.3.3 应用实例 196
5.4 晶体连生体的简易检测法 197
5.4.1 检测方法 198
5.4.2 应用实例 199
5.5.1 仪器的调整及样品放置 208
5.5 应用X射线定向仪快速检测金属单晶丝的方法 208
5.5.2 检测内容及方法 209
5.5.3 应用实例 211
5.6 金属多晶材料择优取向的快速测定 215
5.6.1 多晶、多晶择优取向及单晶金属材料的区别 215
5.6.2 方法与实例 216
5.7 附表 220
附表1：立方系晶体晶面间夹角 220
附表2：230种空间群及其反射条件 225
附表3：d值与(θKα-θKβ)角差关系表 233
参考文献 272