第一部分 基础理论 9
第一章 X射线及其与物质的相互作用 9
1.1 劳厄实验与X射线本质 9
1.2 X射线的产生 12
1.3 X射线谱 13
1.4 X射线与物质的相互作用 20
1.5 X射线的产生与物质相互作用总结 36
2.1 晶体结构与空间点阵 39
第二章 晶体几何学 39
2.2 晶体对称性的基本概念 49
2.3 晶面指数和晶向指数 60
2.4 晶面间距、晶面夹角和晶带 66
2.5 晶体投影 71
2.6 本章总结 86
第三章 X射线衍射光束方向 96
3.1 正点阵、倒易点阵与倒易矢量 96
3.2 劳厄衍射条件与劳厄方程 101
3.3 布喇格定律的推导与应用 110
3.4 衍射定律的厄瓦耳德几何图解 130
第四章 X射线衍射光束强度 139
4.1 付氏变换、卷积定理与X射线衍射 139
4.2 单个自由电子的散射本领与晶体中电子散射 149
4.3 单个原子的散射强度与原子因数f(sinθ/λ) 153
4.4 单晶胞的散射强度与结构因子F(hkl) 160
4.5 一个小晶块(嵌镶块)的衍射强度与干涉函数｜G｜2 171
4.6 一个小晶块衍射的积分强度与反射本领Q 181
4.7 德拜照相中粉末多晶体衍射的积分强度与几何影响因数校正 185
4.8 消光效应与近完整晶体中动力学衍射 195
4.9 衍射强度测量与晶体结构测定 202
4.10 第一、二类微观晶体缺陷的X射线衍射 209
第二部分 基本实验 217
第五章 劳厄照相与单晶定向 217
5.1 劳厄衍射花样的形成与诠释 217
5.2 劳厄衍射斑点指标化 226
5.3 晶体取向的测定 234
第六章 德拜照相与点阵参数的精确测定 242
6.1 德拜照相花样形成与测量 242
6.2 理想衍射花样的获得及其指标化 246
6.3 理想衍射花样的精确测量与点阵参数的准确确定 254
6.4 点阵参数精确测定的应用 265
6.5 其他照相方法 271
第七章 衍射仪测量与物相及应力分析 274
7.1 衍射仪装置与工作原理 274
7.2 计数测量方法及多晶衍射强度资用公式 284
7.3 衍射强度分布线形测定的应用 294
7.4 衍射线位置和强度测定的应用 297
7.5 衍射仪法与照相法比较 307
8.1 转动照相花样形成与诠释 310
第八章 单晶转动、摆动照相与四圆衍射仪结构测定 310
8.2 层线上衍射斑点的指标化 317
8.3 晶体点阵等同周期的测定 319
8.4 单晶四圆衍射仪简介及原子在单胞中位置测定 321
第九章 聚合物X射线衍射及半晶结构分析 325
9.1 聚合物结构、性能和X射线衍射特点及其假设结构模型 325
9.2 半晶聚合物的散射与衍射全谱分析及其结晶度测定 331
9.3 聚合物平板照相纤维图分析及其取向度测定 334
9.4 次晶聚合物的宽化衍射线形分析及其微晶尺寸和晶区畸变度测定 338
10.1 劳厄条件的部分破坏 345
第十章 合金时效硬化的分析 345
10.2 劳厄条件部分破坏后X射线衍射花样 351
10.3 铝铜合金的G—P带的分析 354
10.4 铝银合金时效沉淀物的分析 356
附录 361
附录1 物理常数 361
附录2 质量吸收系数μ1/ρ及密度ρ 362
附录3 原子散射因数f 364
附录5 各种点阵的结构因数F2hkl 366
附录4 原子散射因数在吸收限近旁的减小值△f 366
附录6 粉末法的多重性因数Phkl 367
附录7 角因数1+cos22θ/sin2θ cosθ 368
附录8 德拜函数φ(x)/x+1/4之值 371
附录9 某些物质的特征温度? 372
附录10 1/2(cos2θ/sinθ+cos2θ/θ)的数值 372
附录11 Kα双重线分离度(θα2-θα1) 376
附录12 立方系晶面间夹角 378
附录13 元素的物理性质 383
附录14 Voigt函数的2ω/β,kk〔=βc/(—√πβg)〕和βg/β值 388