1 电镜的结构与成象 1
1.1 光学显微镜的局限性 1
1.2 电子的波长 2
1.3 电子透镜 3
1.4 电子透镜缺陷和理论分辨距离 5
1.4.1 球差、象散、色差 6
1.4.2 理论分辨距离 7
1.5 电子透镜的场深和焦深 8
1.6 电镜的主要结构 9
1.6.1 电子光学系统 11
1.6.2 真空系统 15
1.6.3 供电系统 16
2 电镜中的电子衍射及其分析 17
2.1 斑点花样 17
2.1.1 形成原理 17
2.1.2 实验方法 26
2.1.3 花样指数标定 29
2.1.4 实际应用 44
2.2.1 形成原理 57
2.2 菊池线花样 57
2.2.2 指数标定 60
2.2.3 应用概况 61
2.3 会聚束衍射花样 62
2.3.1 形成原理 62
2.3.2 实验方法与常用的会聚束衍射花样 68
2.3.3 指数标定 69
2.3.4 实际应用 70
3.1 复型象(质厚衬度象) 78
3.1.1 成象原理 78
3 电镜显微图象解释 78
3.1.2 衬度公式 79
3.1.3 图象分析 80
3.2 衍衬象 84
3.2.1 形成原理 84
3.2.2 成象方式 86
3.2.3 完整晶体衬度 87
3.2.4 不完整晶体衬度 94
3.2.5 显微象分析所需辅助技术 126
3.2.6 结尾 130
3.3 相位象 134
3.3.1 形成原理 135
3.3.2 两束和三束形成的晶格象 140
3.3.3 可直接解释的结构投影象 144
4 扫描电子显微术 149
4.1 结构原理 149
4.2 分辨率和放大倍率 150
4.3 工作方式 151
4.3.1 发射方式 152
4.3.2 反射方式 153
4.3.5 俄歇电子方式 154
4.3.4 透射方式 154
4.3.3 吸收方式 154
4.3.6 X射线方式 155
4.3.7 阴极发光方式 155
4.3.8 感应信号方式 155
4.4 形貌象解释 155
4.4.1 图象分析示例 155
4.4.2 常见断口象 157
4.5 成分分析 161
4.6 通道效应分析 161
4.6.2 通道花样性质 162
4.6.1 通道效应产生原理 162
4.6.3 实验方法与应用 163
6 X射线显微分析和俄歇能谱分析 166
5.1 X射线显微分析技术 166
5.1.1 成分分析 166
5.1.2 晶体学分析 171
5.2 表面探针 172
5.2.1 低能电子衍射仪 172
5.2.2 俄歇电子能谱仪 174
1 试样制备 178
附录 178
2 一些元素的物理性质 186
3 常用的晶体学公式 188
4 常见的部分倒易面 191
5 倒易面特征值表 193
6 常用的材料d值表 199
7 立方晶系夹角关系 202
8 常用的极射赤面投影和菊池图 208
9 一些常见材料的消光距离 214
10 部分晶体的位错g·b值 218
主要参考书目 222