目录 1
第一章绪论 1
1.1诊断与容错技术的产生及发展 1
1.2故障模型及其分类 3
1.2.1缺陷、故障和差错 3
1.2.2 逻辑故障 4
1.2.3 故障按特征分类 5
1.3诊断方法概述 5
1.3.1 数字系统的测试 5
1.3.2故障的检测和诊断 7
1.3.3诊断方法概述 9
1.4容错 10
1.4.1 容错方式 10
1.4.2容错技术中所要研究的问题 11
习题 11
参考资料 12
第二章组合线路Ⅰ 13
确定性测试生成法 13
2.1通路敏化法 13
2.2布尔差分法 14
2.2.1布尔差分法的基本原理 14
2.2.2布尔差分的性质 15
2.2.3高阶布尔差分 17
*2.2.4高阶布尔偏差分 18
*2.2.5 双扇出通路的链接公式 18
2.3星算法 19
2.3.1四值布尔代数 19
2.3.2矢量表示式 20
2.3.3星算法公式 21
2.3.4固定型单故障的检测 22
2.3.5某些永久型故障的检测 24
2.3.6多故障的测试 27
2.4.1定义与基本公式 28
2.4布尔微分法 28
2.4.2求测试码 29
*2.4.3与布尔差分的关系 30
*2.4.4 几何意义 31
2.5 D算法 33
2.5.1 D立方与D算法 33
2.5.2几点注记 39
2.5.3主通路敏化法 40
2.6检测多故障的因果分析法 42
2.6.1 波格（Paoge）法 42
*2.6.2 博森（Bossen）法 45
2.7.1 因果函数的全通路表示法 47
2.7全通路图法 47
2.7.2无冗余线路单故障的诊断 49
*2.7.3无冗余线路多故障的检测 50
*2.7.4有扇出情况的检测 53
习题 55
参考资料 57
3.1冗余 58
3.1.1 固定故障的冗余 58
其它问题 58
第三章组合线路Ⅱ 58
3.1.2二极管短路故障的冗余 60
3.1.3桥接故障的冗余 61
3.2故障的精简 61
3.2.1故障精简法 61
3.2.2校验点 62
3.3检测、诊断、诊断到模块 63
3.4最小覆盖问题 65
3.4.1矩阵形式 65
3.4.2布尔函数形式 66
3.4.3 0-1线性规划形式 67
3.5.1泛序测试 68
3.4.4其它表示形式 68
*3.5泛序测试与适应性测试 68
3.5.2适应性测试 70
3.5.3 适应性测试与泛序测试的比较 71
*3.6转移计数测试 72
3.6.1测试数据的紧缩法 72
3.6.2 TC测试 72
3.6.3求单故障的TC检测测试 73
3.7随机方法 74
3.7.1随机测试的生成法 74
3.6.4 TC诊断测试 74
3.7.2 随机检测 77
习题 81
参考资料 85
第四章时序线路的测试生成法 86
4.1时序线路简介 86
4.1.1模型分类 86
4.1.2状态的转移 87
4.1.3 同步机与异步机 87
4.2 同步时序线路的测试生成法 88
4.2.1组合化模型 88
4.2.2 用D算法求测试之例 89
4.2.3 D算法的扩展 90
4.2.4置初态 91
4.3异步时序线路的测试生成法 93
4.3.1 异步时序线路的重复阵列模型 94
*4.3.2无临界冒险的测试生成法 96
4.3.3线路-时间方程 100
4.4自动机的识别法 104
4.4.1 同步序列 104
4.4.2 区分序列 105
4.4.3 引导序列 106
4.4.4核实序列 107
*4.4.5 由核实序列确定时序机 108
*4.4.6异步时序线路 109
4.5随机测试 111
4.5.1 时序机对随机输入序列的响应特性 111
4.5.2 故障时序线路的ELM 114
4.5.3时序线路的随机测试 116
习题 117
参考资料 121
5.1.1一维重复逻辑阵列及其可测性 122
5.1重复逻辑阵列（ILA）的测试 122
第五章部件与系统 122
5.1.2有效测试的求法 126
5.1.3 ILA测试的研究概况 130
5.2 随机访问存贮器（RAM）的测试 130
5.2.1 半导体RAM简介 130
5.2.2 故障分类 131
5.2.3 RAM的测试方法 132
5.2.4 RAM测试的理论模型 133
5.3.1测试方法与测试环境 134
5.3.2微处理器的一般模型 134
*5.3微处理器的测试 134
5.3.3微处理器的故障模型 135
5.3.4B1类指令的测试 137
*5.4系统级的诊断 139
5.4.1 普雷帕纳塔（Preparata）模型和相容故障模式 139
5.4.2 t个故障的一步诊断 141
5.4.3 t个故障的顺序诊断法 143
5.4.4从s取t的诊断法 146
5.4.5系统诊断的其它模型 147
习题 147
参考资料 149
6.1概述 150
第六章容错 150
6.2数字系统可靠率的数学模型 152
6.2.1可靠率的数学概念 152
6.2.2 简单系统可靠率的计算 154
6.2.3提高系统可靠性的途径 156
6.3硬件余裕 156
6.3.1硬件堆积余裕 156
6.3.2待命贮备余裕系统 163
6.3.3混合余裕系统 167
容错结构的发展动态 172
*6.3.4余裕结构的综合概念， 172
*6.3.5有人工维修的高可靠率 174
系统，二模系统 174
*6.4信息余裕，纠错／检错码 180
6.4.1纠错／检错码简介 180
6.4.2 内存和控存的纠错与检错 184
6.4.3 外存的纠错与检错 187
6.4.4 算术逻辑单元的纠错与检错 190
6.5时间余裕 195
系统的可靠率模型 196
6.5.3 具有指令复执／程序卷回的 196
6.5.1指令复执 196
6.5.2程序卷回 196
6.6容错系统举例 197
*6.7软件的可靠率问题 199
6.7.1 软件差错 199
6.7.2软件可靠率的数学理论 200
6.7.3软件设计的管理工作 201
6.7.4 编制程序的工具与技术 201
6.7.5验证工具与技术 201
习题 202
参考资料 202
及星算法的关系 204
A.1 布尔微分与布尔偏差分的关系 204
附录 204
附录A 布尔微分与布尔偏差分 204
A.2 布尔差分与布尔偏差分的关系 206
A.3 布尔微分与星算法的关系、星展式 207
附录B D算法的执行过程 209
附录C M 0 M 1算法 212
C.1基本原理 212
C.2时序线路的算法 217
附录D RAM常用的功能测试法 220
附录E 微处理器简介 224