《半导体测试技术原理与应用》PDF下载

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  • 作  者:刘新福等编著
  • 出 版 社:北京:冶金工业出版社
  • 出版年份:2007
  • ISBN:7502441018
  • 页数:304 页
图书介绍:本书讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析四探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Ry-inaszewski四探针测试方法;讨论测试技术在材料科学等领域的分析与应用及无接触测量技术。

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