第一章 绪论 1
第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点 1
第二节 X射线荧光分析技术的新应用 1
一、在生物、生命及环境领域中的应用 1
二、在材料及毒性物品监测中的应用 2
第三节 X射线荧光光谱仪研制进展 2
参考文献 3
第二章 基本原理 4
第一节 特征X射线的产生与特性 4
一、特征X射线 4
二、特征谱线系 5
三、谱线相对强度 8
四、荧光产额 8
第二节 X射线吸收 9
一、X射线衰减 9
二、吸收边 9
三、吸收跃变 10
四、质量衰减系数的计算 10
第三节 X射线散射 11
一、相干散射 11
二、非相干散射 11
第四节 X射线荧光光谱分析原理 13
第五节 X射线衍射分析 13
参考文献 14
第三章 激发源 15
第一节 常规X射线光管 15
一、光管结构与工作原理 15
二、连续X射线谱 16
三、特征X射线谱 16
四、光管特性 17
第二节 液体金属阳极X射线光管 18
第三节 冷X射线光管 19
第四节 单色与选择激发 19
一、滤光片 19
二、二次靶 20
第五节 同位素源 20
第六节 同步辐射光源与粒子激发 21
第七节 聚束毛细管X射线透镜 22
第八节 X射线激光光源 23
参考文献 24
第四章 探测器 25
第一节 波长色散探测器 25
一、流气式气体正比计数器 25
二、NaI闪烁计数器 26
三、波长色散探测器的逃逸峰 27
第二节 能量探测器 28
一、能量探测原理 28
二、能量探测器组成与特性 28
三、能量探测器的逃逸峰 30
第三节 新型能量探测器 30
一、Ge探测器 30
二、Si-PIN探测器 31
三、Si漂移探测器（SDD） 34
四、电耦合阵列探测器（CDD） 35
五、超导跃变微热量感应器（TES） 35
六、超导隧道结探测器（STJ） 36
七、CdZnTe探测器 37
八、钻石探测器（CVD-D） 39
九、无定形硅探测器（A-Si） 40
第四节 各种探测器性能比较 41
一、波长色散与能量色散能力 41
二、探测器分辨率比较 41
三、探测器的选用 42
参考文献 44
第五章 X荧光光谱仪 47
第一节 波长色散X射线荧光光谱仪 47
一、X射线光管、探测器与光谱仪结构 47
二、分光晶体及分辨率 48
三、脉冲放大器和脉高分析器 48
第二节 能量色散X射线荧光光谱仪 50
第三节 同位素源激发X射线荧光光谱仪 51
第四节 偏振激发X射线荧光光谱仪 52
第五节 全反射X射线荧光光谱仪 53
第六节 同步辐射X射线荧光光谱仪 55
第七节 聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪 56
参考文献 57
第六章 定性与定量分析方法 58
第一节 定性分析 58
第二节 定量分析 59
一、获取谱峰净强度 60
二、干扰校正 60
三、浓度计算 61
第三节 数学校正法 62
第四节 实验校正方法 62
一、标准化 62
二、内标法 63
三、标准添加法 64
四、散射线内标法 64
第五节 实验校正实例——散射线校正方法 64
一、散射效应与利用 64
二、滤光片对Compton峰和分析谱线的影响 65
三、准直器直径对谱线的影响 67
四、Compton峰位随滤光片材料的原子序数增加而产生漂移 68
参考文献 69
第七章 基本校正 71
第一节 基本参数法 72
一、理论荧光强度 72
二、相关基本参数计算 75
三、基本参数法 76
第二节 理论校正系数 77
一、基本影响系数 77
二、理论校正系数 81
三、系数变换 84
参考文献 85
第八章 分析误差和统计不确定 87
第一节 分析误差和分布函数 87
一、分析误差 87
二、分布函数 88
第二节 计数统计学 88
第三节 灵敏度、检出限及XRF中的误差来源 89
一、灵敏度和检出限 89
二、XRF中的误差来源 90
第四节 不确定度及不确定度计算 90
一、测量不确定度 90
二、统计不确定度 91
三、误差传递与不确定度 91
四、不确定度计算式 92
五、平均值的不确定度计算 93
六、统计波动 94
参考文献 94
第九章 XRF中的化学计量学方法和应用 96
第一节 曲线拟合与遗传算法 96
一、遗传算法 97
二、遗传算法在XRF中的应用 97
三、不同拟合方法的比较 98
第二节 基体校正与神经网络 99
一、神经网络的发展与学习规则 100
二、神经网络模型——误差反传学习算法 100
三、神经网络及相关化学计量学方法在XRF中的应用 101
第三节 模式识别 102
一、模式识别方法与特性 102
二、支持向量机 103
三、模式识别方法在XRF中的应用 103
参考文献 104
第十章 样品制备 107
第一节 制样技术分类 107
第二节 分析制样中的一般问题 109
一、样品的表面状态 109
二、不均匀性效应 110
三、样品粒度与制样压力 110
四、X射线分析深度与样品厚度 111
五、样品的光化学分解 113
六、其他问题 113
七、试样装入 114
八、污染控制 115
九、测定时须小心的样品 116
第三节 金属样品的制备 116
一、取样 116
二、金属样品的制备方法 117
第四节 粉末样品的制备 118
一、粉末压片法 118
二、玻璃熔片法 121
三、松散粉末法 126
第五节 液体样品 127
一、液体法 128
二、点滴法 129
三、富集法 129
四、固化法 130
第六节 其他类型样品的制备 130
一、塑料样品的制备方法 130
二、放射性样品 131
第七节 微少量、微小样品的制备 131
第八节 低原子序数元素分析的特殊问题 133
第九节 样品制备实例 134
一、全岩分析 134
二、石灰、白云石石灰和铁石灰 138
三、石灰石、白云石和菱镁矿 139
四、天然石膏及石膏副产品 140
五、玻璃砂 142
六、水泥 144
七、氧化铝 145
八、电解液 146
九、煤衍生物——沥青 147
十、树叶和植物 149
参考文献 150
第十一章 X射线荧光光谱仪的特性与参数选择 153
第一节 波长色散型X射线荧光光谱仪的特性与技术进展 153
第二节 X射线高压发生器 154
第三节 X射线光管特性与选择使用 154
第四节 滤光片、狭缝和准直器 156
第五节 晶体适用范围及其选择 157
第六节 2θ联动装置 161
第七节 测角仪 161
第八节 探测器特性与使用 162
一、闪烁计数器 163
二、气体正比计数器 163
三、探测器的选择标准 165
第九节 脉冲高度分析器 166
第十节 实验参数的选择 169
一、仪器参数的选择 169
二、光学参数的选择 170
三、探测器与测量参数的选择 172
第十一节 能量色散XRF光谱仪的特性和注意事项 173
第十二节 全反射X射线荧光光谱仪特性与设计要点 174
参考文献 175
第十二章 仪器检定、校正与维修 176
第一节 仪器检定 176
一、实验室条件 176
二、检验项目及测量方法 176
三、技术指标 178
第二节 脉冲高度分析器的调整及仪器漂移的标正 179
一、脉冲高度分析器的调整 179
二、仪器漂移的校正 180
第三节 日常维护 180
一、真空泵油位检查 180
二、P10气体的更换 181
三、高压漏气检测 181
四、密闭冷却水循环系统的检测 181
五、检查初级水过滤器 182
六、X射线光管的老化 182
七、日常检查项目 182
第四节 常见故障及维护 182
一、机械问题 183
二、X射线高压发生器 183
三、真空度不好 183
四、探测器的故障 184
五、样品室灰尘的清扫 184
第五节 仪器选型常用标准与判据 185
一、硬件 185
二、软件 185
参考文献 188