《材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析》PDF下载

  • 购买积分:12 如何计算积分?
  • 作  者:周玉,武高辉编著
  • 出 版 社:哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社
  • 出版年份:2007
  • ISBN:9787560313382
  • 页数:311 页
图书介绍:本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。

第0章 绪论 1

第1章 X射线的性质 3

1.1 引言 3

1.2 X射线的本质 3

1.3 X射线的产生及X射线管 5

1.4 X射线谱 6

1.5 X射线与物质的相互作用 11

1.6 X射线的安全防护 15

习题 16

第2章 X射线衍射方向 17

2.1 引言 17

2.2 晶体几何学基础 18

2.3 衍射的概念与布拉格方程 26

2.4 X射线衍射方向 28

2.5 X射线衍射方法 30

习题 34

第3章 X射线衍射强度 35

3.1 引言 35

3.2 结构因子 35

3.3 多晶体的衍射强度 42

3.4 积分强度计算举例 50

习题 51

第4章 多晶体分析方法 53

4.1 引言 53

4.2 粉末照相法 54

4.3 X射线衍射仪 60

4.4 衍射仪的测量方法与实验参数 67

4.5 点阵常数的精确测定及其误差分析 70

习题 78

第5章 X射线物相分析 80

5.1 引言 80

5.2 定性分析的原理和分析思路 81

5.3 粉末衍射卡片的组成 81

5.4 PDF卡片的索引 83

5.5 物相定性分析方法 84

5.6 物相定量分析 87

习题 94

第6章 宏观应力测定 96

6.1 引言 96

6.2 单轴应力测定原理 97

6.3 平面应力测定原理 98

6.4 试验方法 100

6.5 试验精度的保证及测试原理的适用条件 103

习题 107

第7章 晶体的极射赤面投影 108

7.1 球面投影 108

7.2 极射赤面投影和吴里夫网 109

7.3 极射赤面投影的性质及其应用 111

7.4 晶带的极射赤面投影 114

7.5 标准投影图 115

习题 117

第8章 多晶体织构分析 119

8.1 冷拉金属丝织构的测定 120

8.2 丝织构的极图和反极图 123

8.3 板织构极图晶体投影原理及其织构测定 124

8.4 冷轧板织构的测定 126

8.5 极图的分析与标定 130

习题 131

第9章 电子光学基础 133

9.1 电子波与电磁透镜 133

9.2 电磁透镜的像差与分辨率 136

9.3 电磁透镜的景深和焦长 140

习题 141

第10章 透射电子显微镜 142

10.1 透射电子显微镜的结构与成像原理 142

10.2 主要部件的结构与工作原理 147

10.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定 150

习题 151

第11章 复型技术 152

11.1 概述 152

11.2 质厚衬度原理 152

11.3 一级复型和二级复型 155

11.4 萃取复型与粉末样品 157

习题 159

第12章 电子衍射 160

12.1 概述 160

12.2 电子衍射原理 161

12.3 电子显微镜中的电子衍射 171

12.4 单晶体电子衍射花样标定 174

12.5 复杂电子衍射花样 178

习题 185

第13章 晶体薄膜衍衬成像分析 186

13.1 概述 186

13.2 薄膜样品的制备 186

13.3 衍衬成像原理 189

13.4 消光距离 191

13.5 衍衬运动学简介 193

13.6 晶体缺陷分析 199

习题 207

第14章 扫描电子显微镜 208

14.1 电子束与固体样品作用时产生的信号 208

14.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理 210

14.3 扫描电子显微镜的主要性能 212

14.4 表面形貌衬度原理及其应用 215

14.5 原子序数衬度原理及其应用 220

14.6 背散射电子衍射分析及其应用 222

习题 227

第15章 电子探针显微分析 228

15.1 电子探针仪的结构与工作原理 228

15.2 电子探针仪的分析方法及应用 233

习题 235

第16章 其他显微分析方法简介 236

16.1 离子探针 236

16.2 低能电子衍射 239

16.3 俄歇电子能谱仪 243

16.4 场离子显微镜 248

16.5 扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM) 254

16.6 X射线光电子能谱仪 258

习题 267

实验指导 268

实验一 X射线晶体分析仪介绍及单相立方晶系物质粉末相计算 268

实验二 利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析 270

实验三 透射电子显微镜的结构、样品制备及观察 273

实验四 扫描电子显微镜、电子探针仪结构与样品分析 278

附录 282

附录1 物理常数 282

附录2 质量吸收系数μl/ρ 283

附录3 原子散射因数f 284

附录4 各种点阵的结构因数F2HKL 285

附录5 粉末法的多重性因数Phkl 285

附录6 角因数1+cos22θ/sin2θcosθ 285

附录7 德拜函数φ(x)/x+1/4之值 287

附录8 某些物质的特征温度Θ 288

附录9 1/2(cos2θ/sinθ+cos2θ/θ)的数值 288

附录10 立方系晶面间夹角 290

附录11 常见晶体标准电子衍射花样 292

附录12 特征X射线的波长和能量表 300

附录13 元素的物理性质 302

附录14 钢中相的电子衍射花样标定用数据表 304

附录15 一些物质的晶面间距 307

附录16 立方与六方晶体可能出现的反射 309

主要参考文献 311