1概述 1
1.1 范围 1
1.2 目的 1
2引用标准 1
3背景 2
3.1 天线方向图 2
3.2 近场测量基本理论 4
3.3 远场与近场测量比较 5
3.4 内容提要 6
4测量系统 7
4.1 机械扫描子系统 7
4.1.1 平面近场扫描 8
4.1.2 柱面近场扫描 9
4.1.3 球面近场扫描 9
4.2 典型射频子系统 10
4.3 典型数据采集子系统 12
4.4 数据处理 13
4.5 测量精度 13
4.5.1 测量环境 13
4.5.2 近场方案的选择和使用 14
4.5.3 探头天线的选择 14
4.5.4 机械子系统的精度 14
4.5.5 射频子系统的精度 15
4.6 校正方案 16
4.6.1 热漂移校正 16
4.6.2 阻抗失配校正 17
4.6.3 探头位置校正 18
4.6.4 电缆形变校正 18
5平面近场扫描 20
5.1 引言 20
5.1.1 平面矩形法 21
5.1.2 平面极坐标和双极坐标法 21
5.2 理论概要 22
5.2.1 平面波展开 22
5.2.2 发射和接收函数 22
5.2.3 Kerns传输方程 22
5.2.4 探头校正 23
5.2.5 离散化与采样准则 23
5.2.6 数据处理 23
5.3 实施 24
5.3.1 测量配置 24
5.3.2 探头校正 29
5.3.3 归一化 31
5.3.4 增益测定 32
6柱面近场扫描 34
6.1 引言 34
6.2 基本理论概要 34
6.2.1 柱面波展开 34
6.2.2 近远场变换的经典探头补偿 36
6.2.3 近远场变换的其他方法 37
6.3 实施 37
6.3.1 测量配置 37
7球面近场扫描 41
7.1 引言 41
7.2 球面近场理论汇总 41
7.2.1 基本理论 41
7.3 实施 45
7.3.1 探头 46
7.3.2 测量配置 46
7.3.3 采样准则 48
7.3.4 探头校正 49
7.3.5 对准要求 50
7.3.6 扫描截断 51
8探头 51
8.1 探头特性 52
8.2 探头天线分类与描述 55
8.2.1 小振子与小环天线 56
8.2.2 开口波导探头 56
8.2.3 圆锥和角锥喇叭 57
8.2.4 对数周期天线 57
8.3 探头参数 58
8.4 探头特性 58
8.4.1 增益 58
8.4.2 极化 58
8.4.3 端口间的幅度和相位比 58
8.4.4 方向图 59
8.4.5 反射系数与端口间隔离 59
8.5 探头阵列 59
8.5.1 阵列实现 60
8.5.2 探头阵列表征 61
9不确定度分析 62
9.1 引言 62
9.2 系统初始调整与测试 65
9.3 各项不确定度的估计与表达方法 66
9.4 平面、柱面和球面近场测量的各项不确定度评估方法 67
9.4.1 探头相对方向图 67
9.4.2 探头极化比率 68
9.4.3 增益标准 69
9.4.4 探头对准 69
9.4.5 归一化常数或增益标准远场峰值 69
9.4.6 阻抗失配系数 70
9.4.7 待测天线对准 70
9.4.8 数据点间隔 70
9.4.9 测量区域截断 72
9.4.10 探头位置误差 73
9.4.11 待测天线与探头间的多次反射 74
9.4.12 接收机幅度线性度 75
9.4.13 系统相位误差 76
9.4.14 噪声与接收机动态范围 77
9.4.15 环境散射 77
9.4.16 串扰与泄漏 78
9.4.17 随机误差 79
9.5 合成不确定度 79
10专题 80
10.1 等效全向辐射功率 80
10.2 饱和能流密度 81
10.3 脉冲测量技术 81
10.4 相位恢复方法 82
10.5 反投影 82
10.5.1 平面 83
10.5.2 非平面 83
10.6 探头位置校正 83
10.7 截断抑制 84
10.8 近场天线测量的时域门 85
11总结 85
12参考文献 85