第一章 电子技术实验基础 1
1.1 电子技术实验的目的与意义 1
1.2 电子技术基础实验的一般要求 1
1.3 测量误差分析及结果处理 2
1.3.1 测量误差的来源及分类 2
1.3.2 误差的表示方法 3
1.3.3 测量结果的处理 5
1.4 测量的基本方法及电子电路中的常测量 7
1.4.1 测量的基本方法概述 7
1.4.2 电子电路中的常测量 9
1.5 电子电路故障检测的一般方法 10
1.5.1 故障现象及产生故障的原因 11
1.5.2 检查故障的一般方法 11
1.6 电子电路干扰的抑制 13
1.6.1 干扰源 13
1.6.2 干扰途径及其抑制方法 13
1.7 电子技术安全用电 14
1.7.1 触电对人体的危害 14
1.7.2 安全电压 14
1.7.3 触电引起伤害的因素 14
1.7.4 触电原因 15
1.7.5 安全用电常识 16
第二章 常用电子元器件 17
2.1 电阻器和电位器 17
2.1.1 电阻器的分类与识别 17
2.1.2 电位器的分类与识别 20
2.2 电容器 21
2.3 电感器和变压器 25
2.3.1 电感线圈 25
2.3.2 变压器 26
2.4 半导体器件 27
2.4.1 常用半导体分立器件 27
2.4.2 半导体器件的命名方法 28
2.4.3 半导体器件的常用参数 31
2.5 集成电路 37
第三章 电子技术实验常用仪表 41
3.1 数字万用表 41
3.1.1 数字万用表的主要技术参数 41
3.1.2 数字万用表的操作 42
3.2 YB1615型函数信号发生器／计数器 45
3.2.1 YB1615型函数信号发生器／计数器的主要技术数据 45
3.2.2 YB1615型函数信号发生器／计数器的操作 45
3.3 SX2172型交流毫伏表 47
3.3.1 SX2172型交流毫伏表的主要技术参数 47
3.3.2 SX2172型交流毫伏表的操作 47
3.4 COS5020BF型双踪示波器 48
3.4.1 COS5020BF型双踪示波器的主要技术参数 48
3.4.2 COS5020BF型双踪示波器的操作 51
3.5 DF4810型晶体管特性图示仪 55
3.5.1 DF4810型晶体管特性图示仪的主要技术参数 55
3.5.2 DF4810型晶体管特性图示仪的操作 56
第四章 模拟电子技术基础实验 61
实验一 常用电子仪器的使用 61
实验二 晶体管单管共射交流放大器 66
实验三 射极跟随器 73
实验四 差动放大器 77
实验五 负反馈放大器 81
实验六 集成运算放大器的基本应用（Ⅰ）——模拟运算电路 84
实验七 RC正弦波振荡器 89
实验八 集成运算放大器的基本应用（Ⅱ）——电压比较器 92
实验九 低频OTL功率放大器 95
实验十 直流稳压电源（集成稳压器） 99
第五章 数字电子技术基础实验 106
实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 106
实验二 组合逻辑电路的设计与测试 111
实验三 译码器及其应用 113
实验四 数据选择器及其应用 119
实验五 触发器及其应用 124
实验六 计数器及其应用 131
实验七 移位寄存器及其应用 136
实验八 使用门电路产生脉冲信号——自激多谐振荡器 142
实验九 单稳态触发器与施密特触发器——脉冲延时与波形整形电路 145
实验十 555时基电路及其应用 152
第六章 Multisim及其仿真应用简介 159
6.1 概述 159
6.2 Multisim 7简介 159
6.2.1 Multisim 7的界面 160
6.2.2 Multisim 7常用虚拟仪器 165
6.2.3 Multisim 7的基本分析方法 170
6.3 Multisim 7的基本使用方法及仿真实例 175
参考文献 179