《中国国家标准分类汇编 电子与信息技术卷 13》PDF下载

  • 购买积分:21 如何计算积分?
  • 作  者:中国标准出版社编
  • 出 版 社:北京:中国标准出版社
  • 出版年份:1994
  • ISBN:7506609223
  • 页数:753 页
图书介绍:

L56 GB 3834—83半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 1

L56 GB 3835—83半导体集成电路接口电路系列和品种 39

L56 GB 4376—84半导体集成电路 稳压器系列和品种 135

L56 GB 4377—84半导体集成电路 稳压器测试方法的基本原理 191

L56 GB 4378—84半导体集成电路cμ 6800/cμ 6809微处理机电路系列和品种 203

L56 GB 4379—84半导体集成电路cμ 8080/cμ 8085微处理机电路系列和品种 257

L56 GB 4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法 315

L56 GB 4719—84半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则 364

L56 GB 4855—84半导体集成电路线性放大器系列和品种 375

L56 GB 5228—85半导体集成电路音响电路系列和品种 391

L56 GB 5229—85半导体集成电路电视机电路系列和品种 445

L56 GB 5965—86半导体集成电路双极型门电路空白详细规范(可供认证用) 469

L56 GB 6304—86电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路(可供认证用) 479

L56 GB 6305—86电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用) 494

L56 GB 6647—86半导体集成电路4位微型机电路系列和品种 512

L56 GB 6648—86半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) 559

L56 GB 6649—86半导体集成电路外壳总规范 570

L56 GB 6793—86半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 594

L56 GB 6794—86半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 609

L56 GB 6795—86半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 626

L56 GB 6796—86半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 647

L56 GB 6797—86半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 672

L56 GB 6798—86半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 699

L56 GB 6799—86半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 720

L56 GB 6800—86半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 738