1．为什么要进行超声波无损检测 1
2．超声波检测的任务 1
2.1．缺陷的检测 3
2.2．缺陷的定位 6
2.3．缺陷的评价 8
2.3.1．扫查法 9
2.3.2．信号最大值的评价法 10
2.4 缺陷类型的判别 12
3．超声波辐射和接收器—探头 12
3.1．压电晶片的固有频率 14
3.2．压电晶片的阻尼 14
3.3．声脉冲的辐射 15
3.4．声脉冲的接收 17
3.5．脉冲回波法 17
4．超声波检测仪—电路及其工作原理 19
4.1．荧光屏上的探伤图形 22
5．应用不同波型进行检测 27
6．标准系列探头及其特性 31
6.1．直探头 32
6.2．斜探头 34
6.3．收发式探头 38
7．耦合技术 46
7.1．表面状态 47
7.2．延迟块的作用 51
7.3．探头耦合 55
7.3.1．软膜直探头 55
7.3.2．硬膜直探头 57
7.3.3．收发式直探头 58
7.3.4．斜探头 60
7.4．薄层耦合法 61
7.5．水浸法 66
7.5.1．水延迟区 68
7.5.2．水延迟区的作用 69
7.5.3．不变水延迟声程检测方法 71
7.5.4．变化水延迟声程检测方法 73
7.6．局部水浸法 78
7.7．旋转探头法 84
7.8．热表面部件的检测法 86
7.8.1．防热的水延迟声程 88
7.8.2．防热的恒温延迟块 92
7.8.3．干耦合 93
8．超声波反射体的定位 94
8.1．根据传播时间测定反射体距离 96
8.2．超声波检测仪器的校正 98
8.2.1．适当的对比试块 100
8.2.2．直探头校正的建议 105
8.2.3．斜探头校正用的标准对比试块 116
8.2.4．K1试块上的调节和校验 119
8.2.5．K2试块上的调节和校验 125
8.2.6．距离和深度 128
8.2.7．缩短的水平距离 132
8.2.8．收发式探头的调节 139
8.2.9．节点跨距——影响普通收发式探头的因素 144
8.2.10．收发式直探头在曲率表面上的调节和检测 149
8.2.11．收发式斜探头检测时的调节校正 153
9．超声波反射体的评价 157
9.1．耦合误差——评价误差的主要原因 157
9.2．声束的形状 159
9.2.1．直探头的声束 162
9.2.2．斜探头的声束 166
9.2.3．收发式探头的声束 169
9.2.4．水延迟区对声束形状的影响 174
9.2.5．声束的聚焦 176
9.3．扫查法的缺陷评价 178
9.4．回波振幅的评价 188
9.4.1．AVG图表 191
9.4.2．回波高度差的测量 197
9.4.3．AVG图表中dB差 201
9.4.4．直探头检测评价用的基准反射体 203
9.4.5．斜探头检测评价用的基准反射体 211
9.4.6．传输修正 222
9.4.7．声衰减的测量 224
9.4.8．超声波衰减和传输损失修正后回波高度评价 232
10．缺陷类型的判断 238