加速试验技术 1
一种预测电迁移失效敏感性的可靠性工具——欧姆非线性脉冲技术的评价 1
步进应力在评价与时间有关的击穿问题上的应用 7
高加速温、湿度应力试验技术（HAST） 13
失效机理及封装可靠性 17
陶瓷电容器在低压直流应力下的漏电失效机理 17
氮化硅密封对MOS器件稳定性的影响 25
可靠性检测技术 33
一种利用集成电路芯片来测量电路封装体内相对湿度的简单方法 33
定量测量塑料封装引起的集成电路内应力的新方法 43
一种利用液晶检测半导体器件热点的方法 51
用容限电压测量来检测和判定数字微电路的缺陷 54
MOS器件静电放电灵敏度的检测方法 65
其他 69
芯片粘接界面的物理性质 69