前言 1
第一章 晶体光学基础 1
第一节 光的波动性 1
目录 1
第二节 光的折射及全反射 2
一、光的折射及折射率 2
二、光的全反射及全反射临界角 3
第三节 自然光和偏振光 4
第四节 光波在均质体和非均质体中的传播特点 4
一、均质体的光率体 6
二、一轴晶光率体 6
第五节 光率体 6
三、二轴晶光率体 9
第六节 光性方位 13
一、中级晶族晶体的光性方位 13
二、低级晶族晶体的光性方位 14
第七节 色散 15
一、均质体的光率体色散 15
二、一轴晶的光率体色散 15
三、二轴晶的光率体色散 16
第二章 偏光显微镜 19
第一节 偏光显微镜的构造 19
三、调节焦距（准焦） 22
二、调节照明（对光） 22
一、装卸镜头 22
第二节 偏光显微镜的调节与校正 22
四、校正中心 23
五、视域直径的测定 25
六、目镜十字丝的检查 25
七、偏光镜的校正 25
第三节 岩石薄片磨制法简介 26
第三章 单偏光镜下的晶体光学性质 28
第一节 单偏光镜的装置及特点 28
第二节 矿物的形态及解理 28
一、矿物的形态 28
二、解理 30
三、解理夹角的测定 31
第三节 薄片中矿物的颜色与多色性、吸收性 32
一、矿物的颜色 32
二、多色性与吸收性 33
第四节 薄片中矿物的边缘、贝克线、糙面及突起 35
一、矿物的边缘与贝克线 35
二、矿物的糙面 36
三、矿物的突起 36
四、闪突起 38
第四章 正交偏光镜间的晶体光学性质 40
第一节 正交偏光镜的装置及光学特点 40
第二节 正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位 40
第三节 正交偏光镜间矿片的干涉现象 41
一、干涉色及其成因 44
第四节 干涉色及干涉色色谱表 44
二、干涉色级序及各级序的特征 45
三、干涉色色谱表 47
四、异常干涉色 47
五、平行偏光镜间的干涉色 48
第五节 补色法则及补色器 49
一、补色法则 49
二、几种常用的补色器 50
三、几种其它的补色器 53
第六节 正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定 54
一、非均质体矿片上光率体椭圆半径方向和名称的测定 54
二、干涉色级序的观察和测定 55
三、双折率的测定 56
四、消光类型与消光角的测定 57
五、晶体延性符号的测定 60
六、双晶的观察 61
第五章 锥光镜下的晶体光学性质 64
第一节 锥光镜的装置及光学特点 64
第二节 一轴晶干涉图 65
一、垂直光轴切片的干涉图 65
二、斜交光轴切片的干涉图 70
三、平行光轴切片的干涉图 71
第三节 二轴晶干涉图 74
一、垂直锐角等分线（Bxa）切片的干涉图 74
二、垂直一个光轴切片的干涉图 84
三、斜交光轴切片的干涉图 86
四、垂直钝角等分线（Bxo）切片的干涉图 87
五、平行光轴面切片的干涉图 89
第四节 锥光镜下色散现象的观察 89
一、斜方晶系矿物的色散 89
二、单斜晶系矿物的色散 92
三、三斜晶系矿物的色散 94
第六章 透明矿物薄片的系统鉴定 97
一、透明矿物薄片系统鉴定的内容 97
二、定向切片的选择及其特征 97
三、透明矿物薄片系统鉴定的程序 98
四、半圆柱坐标鉴定系统简介 99
一、浸油的配制 102
第一节 浸油的配制及测定浸油折射率的方法 102
第七章 油浸法简介 102
二、浸油折射率的测定 103
第二节 油浸法测定折射率的方法 105
一、碎屑油浸薄片的制备方法 105
二、碎屑油浸薄片中，比较矿物碎屑与浸油折射率相对大小的方法 106
三、油浸法测定折射率的具体步骤 107
附录 111
岩石薄片中矿物颗粒大小及含量的测定 111
一、岩石薄片中矿物颗粒大小的测定 111
二、岩石薄片中矿物百分含量的测定 112
彩色干涉色色谱表（插页） 121
彩色照片图版（插页） 121
主要参考文献 121