第一章 晶体学基础 （柳得橹译） 1
1—1 结晶态 1
1—2 几何晶体学 3
1—3 空间点阵 17
1—4 点群和空间群 26
一般参考文献 35
专门参考文献 35
第二章 X射线的产生及其性质 （盛世雄译） 37
2—1 X射线的安全防护 37
2—2 X射线的产生 38
2—3 X射线的性质及其测量 50
一般参考文献 71
专门参考文献 72
第三章 X射线衍射的基本原理 （谭秉和译） 75
3—1 运动学和动力学衍射理论 75
3—2 衍射几何 75
3—3 衍射强度 85
一般参考文献 108
专门参考文献 109
第四章 粉末照相技术 （李华瑞译） 112
4—1 德拜－谢乐法 113
4—2 仲聚焦法 141
4—3 单色化－针孔法 147
4—4 微型相机和微射线束技术 153
4—5 高温技术 156
4—6 低温技术 161
4—7 高压技术 164
一般参考文献 169
专门参考文献 169
第五章 粉末衍射仪技术 （谢逸凡译） 174
5—1 粉末衍射仪的几何关系 174
5—2 衍射极大的线形和位置 184
5—3 衍射仪的电路特点 197
5—4 实验条件和步骤的选择 228
一般参考文献 261
专门参考文献 261
第六章 粉末衍射数据的诠释 （赵伯麟译） 263
6—1 粉末相底片的观测和精确测量 263
6—2 晶面间距d的测量 271
6—3 立方系粉末衍射花样的标定 278
6—4 点阵类型的测定 283
6—5 非立方系粉末衍射花样的标定 284
6—6 标定粉末衍射花样的自动化计算程序 296
6—7 照相底片的强度测量 300
6—8 使用X射线衍射仪的强度测量 308
6—9 强度的绝对单位换算 310
6—10 特殊的散射及衍射效应 310
一般参考文献 317
专门参考文献 317
第七章 晶质粉末的定性和定量分析 （陈训平译） 321
7—1 晶质粉末的常规定性分析 321
7—2 粉末混合物的定量分析 337
一般参考文献 357
专门参考文献 357
8—1 一般的讨论 360
第八章 点阵常数的精确测定 （盛世雄译） 360
8—2 在德拜－谢乐法中系统误差的来源 362
8—3 在德拜—谢乐法中校正误差的方法 370
8—4 精确测定点阵常数的其他照相方法 385
8—5 用衍射仪法精确测定点阵常数 386
8—6 非立方系物质点阵常数的精确测定 388
8—7 总结 390
一般参考文献 392
专门参考文献 392
第九章 晶粒大小和点阵畸变引起的谱线增宽 （蒋伯林译） 395
9—1 纯线形的测定 395
9—2 晶粒尺寸和点阵缺陷的同时测定 411
9—3 晶粒尺寸的测定（无点阵不完整性） 442
一般参考文献 453
专门参考文献 454
第十章 织构和择优取向的研究 （吕荣邦译） 458
10—1 材料的取向和织构 458
10—2 纤维花样几何 460
10—3 纤维花样的制备 464
10—4 简单纤维花样分析 466
10—5 择优取向的表示法 468
10—6 极图的绘制 471
10—7 其他 483
一般参考文献 484
专门参考文献 484
第十一章 金属材料中应力的测量 （盛世雄译） 487
11—1 衍射方法的优缺点 487
11—2 弹性应力应变关系 488
11—3 表面上主应力之和 490
11—4 表面上任意方向的应力分量 492
11—5 塑性变形引起的问题 509
一般参考文献 510
专门参考文献 511
第十二章 非晶态材料的原子径向分布研究 （赵伯麟译） 513
12—1 理论 514
12—2 实验要求 516
12—3 实测强度的校正和定标到绝对（电子）单位 517
12—4 μT、i（S）和定标因数K的统一测定 521
12—5 实验步骤示例 522
12—6 误差来源 528
12—7 将误差减至极小的具体办法 532
12—8 实例 538
12—9 对实验技术的进一步评论 549
12—10 聚合物中有序度的表征 550
一般参考文献 552
专门参考文献 552
附录Ⅰ X射线衍射实验室的设计 （李华瑞译） 555
附录Ⅱ X射线胶片的管理和处理方法 （李华瑞译） 558
附录Ⅲ 其他各种常数和数值数据 （盛世雄译） 561
附录Ⅳ 国际原子量表——1969 （盛世雄译） 562
附录Ⅴ 在选定波长下，元素（Z=1～83）的质量吸收系数μ/ρ （盛世雄译） 564
附录Ⅵ 立方晶系的二次式 （盛世雄译） 567
附录Ⅶ 原子和离子散射因数 （盛世雄译） 569
附录Ⅷ 罗伦兹因数和偏振因数 （盛世雄译） 576
附录Ⅸ 德拜－瓦洛温度因数e-(Bsin2θ)/λ2 （盛世雄译） 579
附录X 瓦伦的粉末花样衍射本领理论 （李华瑞译） 580