目 录 1
第十一章 中子探测技术 1
第一节中子探测的基本原理 1
一、核反应法 2
二、核反冲法 3
三、核裂变法 4
四、活化法 5
第二节常用的中子探测器 6
一、气体探测器 6
二、闪烁探测器 11
三、半导体探测器 14
四、其他中子探测器 15
第三节中子能谱的测量 16
一、氢反冲法 17
二、6Li和3He谱仪 26
三、飞行时间法 26
四、晶体衍射法 35
第四节中子通量及中子源强度的测量 37
一、概述 37
二、氢反冲法测量快中子通量 40
三、中子活化法测量中子通量 43
四、锰浴法测量中子源强度 47
五、用伴随粒子法测量快中子通量 49
第十二章低水平放射性测量 52
第一节测量系统的优质因子及探测极限 52
一、探测装置的优质因子 53
二、与探测灵敏度有关的几个概念 54
第二节本底来源及降低本底的措施 58
一、本底的来源 58
二、降低本底的措施 60
一、低水平α计数 65
第三节几种低水平放射性测量装置 65
二、低水平β计数 66
三、低水平γ放射性的测量 70
第十三章核反应截面测量 74
第一节带电粒子反应截面测量 74
一、物理原理 74
二、微分截面和积分截面测量 77
三、共振反应截面测量 81
第二节靶室和制靶技术 85
一、靶室 85
二、制靶技术 88
一、中子全截面测量 93
第三节快中子反应截面测量 93
二、中子散射截面测量 99
三、中子俘获截面测量 105
四、中子裂变截面测量 107
第十四章粒子鉴别技术 110
第一节脉冲形状甄别方法 110
一、闪烁探测器中的脉冲形状甄别 111
二、半导体探测器中的脉冲形状甄别 119
三、正比计数器中的脉冲形状甄别 126
一、工作原理 127
第二节飞行时间方法 127
二、装置描述 129
三、定时探测器 132
第三节探测器望远镜方法 134
一、工作原理 135
二、探测器 138
三、鉴别能力 140
四、多重探测器望远镜系统 143
第四节磁分析方法与组合粒子鉴别系统 145
一、磁分析方法 145
二、组合粒子鉴别系统 145
第二节长核寿命的测量方法 151
第一节引言 151
第十五章核寿命的测量 151
一、直接测量法 152
二、比放射性法 154
三、测定子核含量法 155
第三节短核寿命的测量方法 156
一、直接测量的方法 157
二、延迟符合和微波调制方法 163
三、核反冲法 168
四、确定能级宽度的方法 177
五、非弹性散射方法 185
六、阻塞效应 187
第十六章核辐射分析技术的应用 192
第一节中子活化分析 192
一、中子活化分析原理 192
二、中子活化分析中的干扰反应 194
三、中子活化分析设备和辐照条件选择 195
四、测量和数据分析 195
五、中子活化分析应用实例 197
第二节带电粒子核反应分析 201
一、带电粒子活化分析法 202
二、瞬发辐射分析法 205
第三节X射线分析技术 211
一、基本原理 212
二、X射线分析的实验装置和方法 217
三、样品分析 221
第四节离子背散射技术 225
一、基本原理 225
二、实验装置和条件选择 230
三、背散射技术的应用实例 231
第五节穆斯堡尔效应及其应用 234
一、原子核发射和吸收γ射线的过程 234
二、穆斯堡尔效应 238
三、穆斯堡尔谱和实验方法 240
四、穆斯堡尔谱仪 242
五、穆斯堡尔效应的应用 244
第十七章常用辐射源 248
第一节概述 248
一、辐射源的选用 248
二、放射源的制备 248
三、放射源的包装和安全检验 249
四、放射源产品等级 250
第二节 α和重带电粒子源 250
一、同位素α放射源 250
二、加速器 252
一、概述 254
第三节β辐射源 254
二、β-放射源 255
三、β+放射源 256
四、内转换电子源 256
五、电子加速器 257
第四节 γ和X射线源 258
一、概述 258
二、低能光子源 259
三、常用γ参考源 261
四、高能γ射线源 262
五、穆斯堡尔源 263
一、同位素中子源 264
六、γ辐照源 264
第五节常用中子源 264
二、加速器中子源 268
三、反应堆中子源 270
第十八章测量误差和数据处理 274
第一节等精度观测下偶然误差的估算 274
一、观测值和偶然误差的正态分布 274
二、算术平均值及其分布 275
三、方差的估值 276
四、置信度和置信区问 279
五、偶然误差和测量结果的表示方法 281
六、估算均方根差的最大误差法和极差法 283
第二节不等精度观测误差的处理 286
一、权的概念和加权算术平均值 286
二、加权平均值的均方根差 288
三、单位权方差的估算 290
四、分组数据的处理 292
第三节系统误差 297
一、系统误差对测量结果的影响 297
二、系统误差的表示和确定 298
三、系统误差的发现和检验 299
四、系统误差的限制和消除 304
第四节多维数据组和间接测量的误差处理 306
一、二维随机变量 306
二、间接测量中的误差传递 308
三、误差分配和误差分析 312
第五节用最小二乘法作参数估计 314
一、最小二乘法原理 315
二、线性参数的最小二乘估计 316
三、最小二乘估计的精度计算 320
四、不等精度观测下线性参数的最小二乘估计 324
五、例题 326
六、非线性参数的最小二乘估计 328
第六节曲线拟合法 329
一、用最小二乘法按多项式作曲线拟合 329
二、拟合曲线的置信区间 331
三、多项式拟合阶数的选取 333
四、正交多项式族在拟合观测数据时的应用 335
附录1 几种常用分布的基本性质 340
附录2估值的评选标准 343
附录3标准偏差s的均方根差 343
附录4 最小二乘残差平方和R的统计性质 344
附录2 正态分布概率积分表 347
附录1 常用物理常数数值表 347
附 录 347
附录3 x2分布概率积分表 348
附录4 t分布概率积分表 349
附录5 F分布概率积分表 350
附录6 放射性衰变计算表 352
附录7 常用核素表 353
附录8 按γ能量排列的常用参考源表 356
附录9 常用衰变纲图（简化） 358
附录10平面源所张平均立体角的计算 359
附录11各元素的KX射线能量、相对强度和荧光产额 366
附录12几种探测介质和窗材料对低能光子的质量吸收系数 370