目录 1
上篇 X射线衍射分析技术 1
第一章 X射线的产生和性质 1
第一节 X射线的本质 1
第二节 X射线的产生 2
第三节 X射线谱 5
第四节 X射线与物质的相互作用 9
第五节 X射线的探测与防护 16
第二章 晶体学基础 17
第一节 晶体结构和空间点阵 17
第二节 晶体对称的基本概念 23
第三节 晶面与晶向指数 26
第四节 晶面间距、晶面夹角和晶带 29
第五节 晶体投影 31
第三章 X射线衍射的几何原理 39
第一节 布拉格定律 40
第二节 倒易点阵 42
第三节 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解 45
第四章 X射线衍射线束的强度 48
第一节 一个电子对X射线的散射 48
第二节 一个原子对X射线的散射 49
第三节 单胞对X射线的散射 51
第四节 一个小晶体对X射线的散射 58
第五节 一个小晶体衍射的积分强度 61
第六节 粉末多晶体衍射的积分强度 63
第七节 消光效应对衍射强度的影响 69
第五章 多晶体衍射的照相方法 70
第一节 粉末法成相原理 70
第二节 德拜－谢乐法 71
第三节 衍射花样的指数化 76
第四节 辐射的选择 84
第五节 晶体单色器 85
第六节 聚焦照相法 87
第七节 平面底片照相法 92
第八节 高温和低温照相技术 93
第六章 X射线衍射仪法 95
第一节 测角仪的工作原理 96
第二节 X射线探测器的工作原理 98
第三节 辐射测量中的主要电子电路 103
第四节 计数测量方法和实验参数的选择 104
第五节 衍射线束的强度 108
第七章 劳厄法及晶体取向测定 109
第一节 劳厄实验方法的一般介绍 109
第二节 劳厄法成相原理和对衍射斑点分布规律的解释 110
第三节 劳厄衍射花样指数化 112
第四节 晶体取向的测定 117
第八章 点阵常数的精确测定 120
第一节 一般介绍 120
第二节 德拜－谢乐法中系统误差的来源 122
第三节 德拜谢乐法的误差校正方法 125
第四节 衍射仪精确测定点阵常数 131
第九章 X射线物相分析 135
第一节 物相定性分析 135
第二节 物相定量分析 143
第十章 宏观内应力的测定 150
第一节 一般介绍 150
第二节 宏观内应力的测定原理 151
第三节 宏观内应力的测量方法 156
第十一章 织构的测定 161
第一节 冷拉金属丝织构的测定 162
第二节 冷轧板织构极图的测定——照相法 167
第三节 冷轧板织构极图的测定——衍射仪法 170
第四节 极图的分析 173
第十二章 荧光分析 175
第一节 基本原理 175
第二节 晶体色散仪和分光晶体 178
第三节 荧光X射线定量分析 182
下篇 电子显微分析技术 186
第十三章 电镜的结构与成象 186
第一节 光学显微镜的局限性 186
第二节 电子的波长 187
第三节 电子透镜 188
第四节 电子透镜缺陷和理论分辨距离 191
第五节 电子透镜的场深和焦深 194
第六节 电镜的主要结构 195
第七节 电镜的常规成象与放大倍率的选择 201
第八节 高分辨衍射和反射衍射 208
第九节 立体显微术 208
第十节 洛仑兹显微术 210
第十一节 分析电镜 210
第十四章 试样制备 212
第一节 粉末试样膜 212
第二节 复型 214
第三节 金属薄膜 221
第十五章 电镜中的电子衍射 226
第一节 电子衍射花样形成几何 227
第二节 简单电子衍射花样指数标定 231
第三节 复杂电子衍射花样指数标定 245
第五节 电子衍射花样的应用 257
第四节 衍射花样指数标定的不唯一性 257
第十六章 电镜显微图象解释 266
第一节 复型象（质厚衬度象） 267
第二节 衍衬象 276
第三节 相位象 310
第十七章 扫描电子显微术 314
第一节 结构原理 315
第二节 分辨率和放大倍率 315
第三节 工作方式 316
第四节 形貌象解释 319
第五节 成分分析 320
第六节 晶体学分析 321
第十八章 X射线显微分析和俄歇能谱分析 324
第一节 X射线显微分析技术 324
第二节 表面探针 330
1．元素的物理性质 335
附录 335
2．K系标识谱线的波长、吸收限和激发电压 337
3．元素的质量衰减系数 339
4．原子散射因子 341
5．洛伦兹－偏振因子（1+cos22θ/sin2θ·cosθ） 344
6．德拜－瓦洛温度因子 346
7．吸收因子 347
8．立方晶系晶面（或晶向）间的夹角 349
9．用衍射仪测定板织构时的透射法衍射强度校正因数表 351
10．抛光减薄规范 356
11．供制备萃取复型用的金属试样的电解抛光和腐蚀规范 360
12．常见合金相、夹杂物的晶体学数据 361
13．标准衍射图谱 363
14．立方晶系电子衍射花样平行四边形表 369
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