第一章 数字逻辑电路实验导论 1
1.1序论 1
1.2实验的有关规定 1
1.2.1实验要求 1
1.2.2实验操作要求 2
1.2.3实验室管理要求 2
1.3正确地撰写实验报告 3
1.3.1实验报告的内容 3
1.3.2实验报告的例子 5
1.4数字电路实验基础知识 8
1.4.1数字集成电路的分类及主要参数 8
1.4.2 TTL与CMOs数字集成电路使用注意事项 10
第二章 数字逻辑电路实验部分 12
实验一 逻辑门电路测试之一 12
实验二 逻辑门电路测试之二 18
实验三 单稳态电路与无稳态电路 22
实验四 晶体振荡器 28
实验五 组合逻辑电路的应用 31
实验六 计数器和脉宽测量 40
实验七 同步时序系统设计 48
实验八 单次触发的异步时序逻辑系统设计 64
实验九 程序控制反馈移位寄存器 65
实验十m序列 71
实验十一 数字锁相环 78
实验十二 模数和数模转换 82
实验十三 同步时序系统设计仿真 94
实验十四 程序控制反馈移位寄存器仿真 109
第三章 可编程逻辑器件GAL及ABEL语言 112
3.1概述 112
3.2可编程逻辑器件概述 113
3.2.1可编程逻辑器件简介 113
3.2.2实现编程的工艺 115
3.2.3 PLD的开发过程 118
3.3 PAL的基本电路 119
3.3.1组合逻辑PAL 119
3.3.2有寄存器的PAL 124
3.3.3利用PAL设计电路的过程 127
3.3.4器件的工业型号 130
3.3.5 PAL的封装 131
3.4 GAL的基本电路——带有结构编程的PAL 132
3.4.1从PAL发展到GAL——通用型PAL 132
3.4.2 16V8型和20V8型GAL 137
3.4.3 GAL器件简介 140
3.5 GAL（PAL）的编程 149
3.5.1可编程单元的代码 149
3.5.2熔丝图文件与JEDEC文件 153
3.5.3 GAL的编程过程 156
3.5.4在线可编程GAL—— ispGAL16Z8 158
3.6 ABEL软件简介 160
3.6.1 ABEL软件的功能 160
3.6.2 ABEL软件的运行 162
3.6.3设计文件（源文件）的格式 164
3.6.4设计文件举例及几种语句与符号 166
3.7 DECLARATIONS（定义段）语句 170
3.7.1器件定义语句 170
3.7.2引脚定义语句 171
3.7.3节点定义语句 173
3.7.4常量定义语句 175
3.8逻辑功能描述与仿真测试 175
3.8.1逻辑方程 175
3.8.2真值表 177
3.8.3测试矢量表 181
3.8.4仿真跟踪的级别 186
3.9状态图设计语句 190
3.9.1状态与转移条件的表述 190
3.9.2状态转移语句格式与Goto语句 192
3.9.3 Case语句和If-Then-Else语句 194
3.9.4 With-Endwith语句 196
参考书目 200
附录 201