第一篇 总论 1
1范围 1
2一致性 1
3引用标准 1
4定义 1
5约定和记法 3
5.1数的表示 3
5.2名称 3
6缩略语 3
7盒式光盘的概述 3
8常规要求 4
8.1环境 4
8.2温差冲击 5
8.3安全要求 5
8.4易燃性 5
9参考驱动器 5
9.1光学系统 5
9.2光束 6
9.3读出通道 6
9.4跟踪 6
9.5盘的旋转 6
第二篇 机械和物理特性 7
10盘盒的尺寸和物理特性 7
10.1盘盒的概述 7
10.2盘盒的基准平面 7
10.3盘盒的尺寸 7
10.4机械特性 12
11盘片的尺寸、机械和物理特性 23
11.1盘片概述 23
11.2盘片的参考轴和基准平面 23
11.3盘片的尺寸 24
11.4机械特性 25
11.5光学性质 26
12驱动器对光盘的夹持 26
12.1夹持方法 26
12.2夹持力 27
12.3对心柱 27
12.4工作状态下盘片的位置 28
第三篇 信息格式 28
13道的几何参数 28
13.1道的形状 28
13.2旋转方向 28
13.3道间距 28
13.4道号 28
14道的格式 28
14.1道的布局 28
14.2径向准直 29
14.3扇区号 29
15扇区格式 29
15.1扇区布局 29
15.2扇区标记 29
15.3 VFO字段 30
15.4地址标记 30
15.5标识符（ID）字段 30
15.6后同步（PA） 30
15.7偏差检测字段（ODF） 31
15.8间隙 31
15.9同步 31
15.10数据字段 31
15.11缓冲字段 31
16记录码 31
17信息区的格式 32
17.1信息区概述 32
17.2信息区的划分 33
18数据区的格式 34
18.1缺陷管理区（DMA） 35
18.2盘定义扇区（DDS） 36
18.3可重写区 37
18.4模压区 37
19可重写区的缺陷管理 38
19.1盘的初始化 38
19.2检验 38
19.3未经检验的盘 39
19.4写入过程 39
19.5初始缺陷表（PDL） 39
19.6二级缺陷表（SDL） 40
第四篇 模压信息的特性 40
20测试方法 40
20.1环境 41
20.2参考驱动器的使用 41
20.3信号的定义 41
21槽产生的信号 42
21.1跨道信号 43
21.2跨道最小信号 43
21.3推挽信号 43
21.4归一化推挽信号 43
21.5在道信号 44
21.6相位深度 44
21.7道的位置 44
22扇区标头产生的信号 44
22.1扇区标记 44
22.2VFO1和VFO2 44
22.3地址标记、ID字段和后同步 44
23模压记录字段的信号 45
第五篇 记录层的特性 45
24测试方法 45
24.1环境 45
24.2参考驱动器 45
24.3写入状态 45
24.4擦除条件 46
24.5信号的定义 47
25磁-光特性 47
25.1品质因素 47
25.2磁-光信号的不均衡度 47
26写入特性 47
26.1分辨率 47
26.2窄带信噪比 48
26.3串扰 48
27擦除特性 48
第六篇 用户数据的特性 49
28测试方法 49
28.1环境 49
28.2参考驱动器 49
29扇区的最低质量 49
29.1扇区标头 50
29.2用户写入数据 50
29.3模压数据 50
30数据交换的必要条件 50
30.1跟踪 50
30.2用户写入数据 50
30.3模压数据 50
30.4盘的质量 50
附录A（标准的附录）边缘变形测试 51
附录B（标准的附录）一致性测试 52
附录C（提示的附录）道偏差测量 53
附录D（标准的附录）ID字段的CRC 56
附录E（标准的附录）扇区数据字段的格式 57
附录F（标准的附录）控制区的内容 59
附录G（提示的附录）扇区替代指南 66
附录H（标准的附录）品质因素的测量 66
附录J（提示的附录）读功率、写功率和擦功率 66
附录K（标准的附录）测量盘毂吸附力的测试方法 67
附录L（提示的附录）操作气候环境的偏差 69
附录M（标准的附录）空气洁净度100000级 72
附录N（标准的附录）盘盒相对于基准平面的位置 73
附录P（提示的附录）运输 74
附录Q（提示的附录）办公室环境 74
附录R（标准的附录）放宽信号要求的区域 75