目录 1
第一章简单原理 1
1.1 X射线波长与原子序数的关系 1
1.2荧光X射线分光计的布置 1
1.3各章大意 4
参考文献 4
第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理 5
2.1什么是X射线 5
2.2特征X射线的发生 6
2.3连续X射线光谱的发生 8
2.4 X射线的衍射 9
2.5 X射线的吸收和散射 11
参考文献 13
第三章 X射线的激发 15
3.1 X射线管一次辐射的光谱分布 15
3.2试样元素特征谱线强度与一次辐射光谱的关系 18
3.3 X射线管和靶材的选择 20
3.4其它激发方法 21
3.5影响试样元素观测强度的其它因素 22
3.6关于X射线激发提要 24
参考文献 24
第四章波长色散分光计和晶体性质 26
4.1平面晶体分光计 26
4.2弯曲晶体分光计 28
4.3其它色散装置 30
4.4晶体的性质 34
4.5分辨率计算的举例 38
4.6分光计的总效率 40
参考文献 40
第五章探测器和电路 42
5.1 正比计数器 42
5.2脉冲幅度分布 44
5.3能量鉴别和多道分析器 46
5.4脉冲幅度分布随计数率的漂移 48
5.5逸出峰 49
5.6闪烁计数器 50
5.7固体计数器 51
5.8各种探测器的比较 52
第六章能量色散 56
6.1波长色散和能量色散的比较 56
6.2数学分解 58
6.3能量色散法的改进 61
6.4用于能量色散的放射源 62
6.5近邻元素分析的举例 63
参考文献 67
第七章分析的精密度和准确度 68
7.1校准曲线 68
7.2基体效应 69
7.3液体或粉末的校准 72
7.4固体试样的校准 75
7.5分析的精密度和准确度 76
7.6定时计数法和定数计时法的比较 79
参考文献 80
第八章定量分析的数学方法 82
8.1经验系数法 82
8.2 Qij系数的确定 83
8.3经验系数法在分析上的应用 84
8.4经验系数法在铁-镍基合金中应用的举例 85
8.5基本参数法 86
8.6计算机程序和计算方程 87
参考文献 90
8.7基本参数法在铁-镍基合金分析中应用的举例 90
8.8数学计算法的展望 90
第九章 X射线光谱分析的应用和试样制备 91
9.1固体试样 91
9.2粉末试样 93
9.3液体试样 94
9.4固溶体（硼砂熔融） 95
9.5薄膜和涂层 95
9.6低含量 97
9.7轻元素 98
9.8非均匀试样和极限量试样 99
9.9连续分析和过程控制 100
9.10原子价对X射线发射线的影响 101
9.11间接分析 105
参考文献 106
第十章 电子探针微区分析 107
10.1仪器装备 107
10.2硬物质试样的制备 108
10.3软物质试样的制备 112
10.4粉散物；萃取复制品 112
10.5定量分析、标准及计算 114
10.6电子探针微区分析的应用 115
参考文献 116
11.1.1测量仪器 118
第十一章附录 118
附录1 X射线管一次辐射的光谱分布 118
11.1.2光谱强度表 119
11.1.3光谱强度表的使用 119
参考文献 125
附录2 几种常用的分光晶体 125
附录3 荧光产额平均值 126
参考文献 127
附录4 分析仪部件和分析条件的选择及定量分析的步骤 127
11.4.1试样制备 127
11.4.2 设备 128
11.4.3测量 128