第一章 晶体几何学 1
1-1 晶体结构和点阵结构 1
前言页 1
1-2 点阵、点阵结构 3
1-3 晶体的对称性 7
1-4 点阵方向和点阵平面 11
1-5 晶体结构 15
1-6 倒易点阵 18
1-7极射赤面投影 24
2-1 X射线的本性 33
第二章 X射线的产生及其本质 33
2-2 X射线的产生 35
2-3 X射线的探测 38
2-4 X射线谱 39
2-5 X射线与物质的相互作用 45
2-6 X射线的防护 55
第三章 X射线衍射的基本原理 56
3-1 一个晶胞对X射线的散射 56
3-2 一个单晶体的衍射，劳厄(Laue,M.Von)方程 57
3-3 布拉格(Bragg. W.H.)方程 60
3-4 厄瓦尔德(Ewald.P.P.)作图法 63
3-5 结构因数 64
3-6 非理想条件下的衍射、线宽、倒易点的形状 68
3-7 衍射方法 71
第四章 衍射线的强度 75
4-1 积累强度 75
4-2 角因数 77
4-3 多重性因数 80
4-4 吸收因数 81
4-5 温度因数 83
4-6 计算粉末试样积累强度举例 85
4-7 衍射线积累强度的测量方法 87
第五章 X射线衍射仪 89
5-1 X射线探测器 89
5-2 测量装置的电气线路部分 93
5-3 测角仪 95
5-4 衍射线强度的测量与计算 97
5-5 衍射谱的标定 99
5-6 X射线单色器 109
6-1 德拜法成像原理 111
第六章 X射线粉末照像法 111
6-2 德拜法照像技术 112
6-3 德拜相的标定 115
6-4 聚焦照像机和针孔照像机 117
第七章 点阵参数的精密测量及期应用 120
7-1 影响点阵参数测量精度的因素 120
7-1 实验数据的处理 123
7-3 X射线衍射在测定晶体结构中的一些应用 129
8-1 物相的定性分析 135
第八章 合金相分析 135
8-2 物相的定量分析 140
第九章 晶料大小的测量 146
9-1 粗晶粒(10-2mm以上)的测定 146
9-2 细晶粒(10-4mm以下)的测定 147
第十章 应力的测量 151
10-1 应力测量的基本原理 151
10-2 平面宏观应力的测量 153
10-3 微观应力的测量 157
11-1 劳厄法成像 161
第十一章 单晶体的X射线衍射 161
11-2 劳厄相与极射赤面投影 165
11-3 晶体位向的测定 168
11-4 晶体间相互位向的测定 172
第十二章 织构和极图 176
12-1 极图 176
12-2 织构的测定 177
12-3 反极图 186
附录一 元素的晶体学特性表 188
附录 188
附录二 元素的原子量和密度数据表 190
附录三 立方晶系晶面间夹角数据表 191
附录四 元素的特征波长和吸收限数据表 198
附录五 元素的质量收系数μm数据表 200
附录六 原子的散射因数f数据表 202
附录七 sinθ/λ数据表 204
附录八 角因数(1+cos22θ)/(sin2θcosθ)数据表 206
附录九 某些元素的德拜特征温度 208
附录十 德拜函数φ(χ)的数据表 208
附录十一 温度因数中的f(χ)×10-4数值表 208