数字集成电路 1
Ⅰ 集成逻辑“门” 1
实验一 集成“与非”门参数测试 1
实验二 集成“三态”门及其应用 6
实验三 OC门及其应用 10
实验四“门”电路互换及中小规模集成电路功能测试 13
附1 逻辑门在数字电路中的应用 15
附2 TTL集成门的使用规则 17
附3 常用几种集成“门”功能及引脚图 18
Ⅱ 组合电路 20
实验五 组合逻辑电路设计 20
实验六 常用组合电路及其应用 23
实验七 组合电路中的竞争冒险 29
Ⅲ 时序电路 31
实验八 触发器及参数测试 31
实验九 计数器及其应用 40
实验十 计数、译码和显示 45
实验十一 分频器设计及其应用 49
实验十二 移位寄存器 51
实验十三 同步时序电路逻辑设计 53
Ⅳ 中规模集成电路 55
实验十四 中规模全加器 55
实验十五 中规模计数器及其应用 59
实验十六 中规模数据选择器及其应用 62
实验十七 中规模移位寄存器 66
实验十八 中规模集成电路综合应用 70
Ⅴ 数字集成电路综合设计 72
实验十九 数字秒表 72
实验廿 串行加法器 73
实验廿一 简易数字频率计 75
实验廿二 乒乓灯游戏 77
实验廿三 智力竞赛抢答装置 80
实验廿四 交通信号灯实时控制 81
实验廿五 数字组合系统设计实例 82
实验廿六 自选综合设计题 85
Ⅵ 脉冲波形的产生与变换 88
实验廿七 由集成“门”组成的脉冲单元电路 88
实验廿八 555定时器及其应用 94
实验廿九 集成单稳态触发器 99
CMOS电路 102
实验卅 CMOS或非门参数测试 102
实验卅一 CMOS—TTL接口电路 105
实验卅二 CMOS触发器和计数器 107
附 CMOS使用规则 109
GAL可编程逻辑器件 111
Ⅰ 可编程通用逻辑阵列GAL简介 111
Ⅱ 可编程逻辑器件设计软件FASTMAP 113
Ⅲ EXPRO-80通用器件编程器 116
实验卅三 GAL器件编程设计举例 119
实验卅四 GAL组合电路逻辑设计 131
实验卅五 GAL时序电路逻辑设计 137
附 GAL实验上机操作 144
可编程ASIC技术（FPGA/EPLD） 147
Ⅰ 可编程ASIC技术与电子系统设计 147
Ⅱ 可编程ASIC器件结构及开发系统 149
实验卅六 ASIC器件（FPGA/EPLD）实验举例 154
实验卅七 ASIC器件（FPGA/EPLD）的组合逻辑设计 160
实验卅八 ASIC器件（FPGA/EPLD）的时序逻辑设计 162
实验卅九 ASIC器件（FPGA/EPLD）大型综合性实验 164
课题一 数字时钟 165
数字电路课程设计 165
课题二 数字频率计 167
课题三 简易双积分式数字电压表 169
课题四 出租汽车里程计价表 173
课题五 数字存贮示波器 175
课题六 红外线数字转速表 176
附1 自选课程设计题 177
附2 课程设计用集成电路器件引脚图 178
附录一 组合电路安装、调整及故障检测 181
附录 181
附录二 时序电路故障检测 185
附录三 实验报告格式及书写规范 188
附录四 数字逻辑箱 190
附录五 SS—5702双踪示波器 193
附录六 常用集成电路器件型号、名称一览表 197
附录七 本书用集成电路器件引脚索引 205
附录八 常用电阻器、电容器型号及主要性能参数 206
附录九 数字电路各实验内容提要 213