第一章 光学显微镜概况 1
第一节 概述 1
第二节 光学显微镜的工作能力 10
第二章 偏光显微镜 17
第一节 晶体光学的基础理论 17
第二节 偏光显微镜下材料的定性分析 28
第三节 透光材料折光率的测定方法 66
第四节 偏光显微镜下材料的定量分析 76
第五节 偏光显微镜下材料的系统研究 83
第三章 反光显微镜 90
第一节 反光显微镜的构造 90
第二节 反光显微镜下观察试样的制备 93
第三节 反光显微镜下材料的研究 99
第一节 暗场照明法 114
第四章 特殊显微技术 114
第二节 相衬显微镜 117
第三节 干涉显微术 122
第五章 电子显微镜 135
第一节 透射式电子显微镜 135
第二节 扫描电子显微镜(SEM) 146
第六章 X射线物理基础 159
第一节 X射线的基础知识 159
第二节 X射线发生装置 171
第三节 X射线的检测及安全防护 174
第七章 X射线衍射分析 177
第一节 X射线的衍射 177
第二节 布拉格方程式 178
第三节 X射线的衍射强度 181
第四节 晶体对X射线衍射的基本方法 190
第五节 粉末法(德拜法)及其原理 192
第六节 聚焦法 207
第七节 衍射仪法 210
第八节 X射线物相定量分析 215
第九节 定性相分析及X射线粉末衍射卡片(JCPDS卡片)的应用 219
第十节 晶粒度的测定 225
第八章 荧光X射线分析及电子探针微区X射线分析 230
第一节 荧光X射线分析 230
第二节 电子探针微区X射线分析 241
第九章 高温物相分析 250
第一节 概述 250
第二节 差热分析 250
第三节 失重分析 285
第四节 综合热分析 288
第五节 高温X射线分析 291
第十章 红外光谱分析 298
第一节 红外光谱的基本概念 298
第二节 红外分光光度计的构造及试样制备 300
第三节 影响红外吸收光谱的因素及谱线解释 304
第四节 红外分析在陶瓷领域中的应用 307
第十一章 表面分析仪器 308
第一节 概述 308
第二节 离子探针微区分析(IMMA) 310
第三节 光电子能谱分析(ESCA) 319
第四节 俄歇电子能谱分析(AES) 324
第五节 低能电子衍射(LEED) 326
第六节 场离子显微镜 328
第十二章 陶瓷材料综合研究实例 333
第一节 普瓷的研究 333
第二节 特瓷的研究 348
附表 360
X射线衍射分析常用表 360
参考书目 379