前言页 1
第一章 X射线的产生及其性质 1
第一节 X射线的本质 1
第二节 X射线谱 2
第三节 X射线和物质的相互作用 9
第一节 引言 12
第四节 X射线的产生 15
第五节 X射线的探测和防护 19
第一节 晶体和晶体结构 22
第二章 几何晶体学基础知识 22
第二节 结构的周期性--空间点阵 24
第三节 晶体的对称性 27
第四节 布拉维格子和单位晶胞 33
第五节 晶体定向及晶体指数的计算 37
第六节 晶体投影 46
第一节 布拉格实验 57
第三章 X射线衍射的几何理论 57
第二节 布拉格公式的导出 58
第三节 倒易点阵的引入 60
第四节 倒易点阵的性质 62
第五节 晶面间距和夹角公式 65
第六节 爱瓦尔德作图法 67
第七节 干涉指数 69
第八节 系统消光与结构振幅 70
第九节 几种可能的实验方法 70
第四章 X射线衍射强度的运动学的理论 73
第一节 概述 73
第二节 严格周期排列质点的衍射--干涉函数的导出 73
第三节 从衍射极大条件导出布拉格公式 77
第四节 衍射线的宽度--倒易点的形状 79
第五节 电子的散射 81
第六节 原子散射因数 83
第七节 结构振幅 85
第八节 积分强度的引入--德拜环的积分强度 89
第九节 热振动对衍射强度的影响 92
第五章 单晶体的X射线衍射 95
第一节 引言 95
第二节 劳埃相的摄照 95
第三节 劳埃法的成相原理及图相特征 96
第四节 劳埃法的应用--测定晶体方位 98
第五节 极射赤面投影尺分析方法 102
第六节 单晶体发散单色光照相技术--膺克塞尔(Kossel)照相 103
第六章 X射线粉末照相技术及其应用 106
第一节 德拜法成相原理 106
第二节 德拜相机 107
第三节 德拜法的实验技术 110
第四节 晶体单色器 112
第五节 衍射线位置的测量 114
第六节 衍射花样的指数标定 116
第七节 聚焦法 119
第八节 点阵常数的精确测定 121
第七章 X射线衍射仪 128
第二节 X射线测角计 129
第三节 X射线探测器 131
第四节 配合充气计数管做辐射测量的主要电路 136
第五节 X射线衍射仪的操作 139
第一节 利用ASTM卡片进行物相鉴定 150
第八章 定性、定量物相分析 150
第二节 定量物相分析的一般介绍 153
第三节 X射线法测定残留奥氏体 156
第九章 板织构的X射线分析 162
第一节 引言 162
第二节 极图 163
第三节 板织构的测量方法 163
第四节 极图的绘制 169
第五节 极图的分析 170
第六节 反极图 174
第一节 引言 185
第十章 宏观应力的X射线分析 185
第二节 测量原理及方法 186
第三节 影响测量的因素 190
第四节 峰植计算方法 191
第十一章 X射线漫散射简介 193
第一节 完整晶体衍射理论概述 193
第二节 漫散射的一般规律 196
第三节 劳埃单调漫散射 198
第四节 几种漫散射举例 199
一、一些物理常数 208
二、晶面间距、晶面夹角和晶带轴夹角公式 208
附录 208
三、吴氏网和标准极图 211
四、元素的标识发射谱及吸收限波长 214
五、K系及L系标识X射线激发电压 215
六、元素对X射线的质量吸收系数(包括散射) 216
七、X射线的原子散射振幅以及f′值 217
八、格林尼格尺 218
九、本恩图表 219
十、立方晶体的晶面(或晶向)间夹角数值 221
十一、德拜函数及一些物质的德拜温度 224
十二、德拜-瓦尔温度因数 225