《透射电子显微学》PDF下载

  • 购买积分:17 如何计算积分?
  • 作  者:黄孝瑛著
  • 出 版 社:上海:上海科学技术出版社
  • 出版年份:1987
  • ISBN:15119·2442
  • 页数:588 页
图书介绍:

前言页 1

第一章 透射电子显微镜的原理和构造 1

1-1 引言 1

1-2 电子光学原理简述 2

1-3 电子显微镜的构造 7

一、照明系统 8

二、成象系统 10

三、观察和记录系统 16

四、真空系统 17

1-4 当前电子显微镜的发展动向 18

第二章 电子衍射基础 24

2-1 引言 24

2-2 电子的性质 24

2-3 运动电子与物质交互作用产生的信息 26

2-4 原子对电子的散射 30

一、描述运动电子的方程及其解 30

二、原子对电子的散射 32

2-5 单胞对电子的散射 35

2-6 晶体对电子的散射 44

3-2 选区域电子衍射原理 49

3-1 引言 49

第三章 电子衍射实验方法 49

3-3 Lλ值的意义及其测定方法和误差来源 57

一、Lλ值的意义 57

二、测定Lλ常数的方法 59

三、仪器常数Lλ的误差来源 59

3-4 衍射谱相对于显微象偏转角的测定 61

3-5 试样制备方法 63

第四章 倒易点阵 72

4-1 引言 72

4-2 正空间和倒空间、倒易点阵的引入 73

4-3 倒易面(标准单晶衍射图谱)的绘制方法 78

4-4 借助倒易点阵方法计算晶面间距、晶面夹角及晶向长度 81

一、求晶面间距与晶面指数的关系 81

二、求晶面夹角余弦的表达式 84

三、求晶向长度的表达式 93

4-5 正点阵与倒易点阵的指数互换 93

一、正点阵与倒易点阵的互换公式和运算矩阵 93

二、六方晶系指数换算中的问题 98

4-6 晶体几何形状对倒易点形状的影响 102

5-2 分析过程综述 107

5-1 引言 107

第五章 标定电子衍射谱的一般程序 107

5-3 立言晶系衍射谱的标定 114

一、查?比值表法 114

二、特征平等四边形的标定方法 120

三、计算尺标定法 122

四、利用标准衍射图谱进行标定 123

五、指数标定注意事项 125

5-4 六方晶系衍射谱的标定 131

一、一般讨论 131

二、六方晶系衍射谱的标定方法 134

5-5 四方晶系电子衍射谱的标定 139

5-6 正交晶系电子衍射谱的标定 142

5-7 多晶电子衍射谱的标定 143

第六章 孪晶电子衍射谱的分析 146

6-1 引言 146

6-2 孪晶和晶体几何学 148

6-3 立方晶系孪晶衍射谱的分析 151

一、基本公式 151

二、讨论 152

三、孪晶衍射谱的标定方法 158

6-4 高次孪晶电子衍射谱的分析 163

一、任意晶系孪晶晶面及晶向指数的转换矩阵 166

6-5 孪晶矩阵的一般表达式(任意晶系孪晶分析) 166

二、任意晶系孪晶转换矩阵应用于各晶系 169

6-6 标定孪晶电子衍射谱的解析方法 173

第七章 高阶劳厄区电子衍射谱的分析 179

7-1 引言 179

7-2 形成高阶劳厄区衍射谱的几何学讨论 179

一、概述 179

二、不对称劳厄区 181

三、对称劳厄区 191

一、取原倒易点阵坐标系为坐标系进行计算 194

7-3 高层倒易面(uvw)?上倒易点在零层倒易面(uvw)?上的投影位置 194

二、取新坐标轴I?、G1和G2进行计算 197

7-4 高阶劳厄区衍射谱标定程序及举例 198

一、与标定有关的若干问题 198

二、计算举例 200

7-5 标定高阶劳厄区衍射谱的直接方法 205

7-6 高阶劳厄区衍射谱的应用 208

一、利用零阶劳厄区上高阶斑点位置鉴定物相 209

二、利用高阶劳厄区的曲率,测定倒易面间距,以鉴定物相 210

8-1 引言 212

第八章 菊池衍射谱分析 212

8-2 菊池衍射花样的几何学 213

8-3 菊池线的指标化 222

一、零阶劳厄区菊池线指标化 222

二、高阶劳厄区菊池线指标化 224

三、菊池图 224

8-4 菊池线的应用 232

一、晶体取向的精确测定 233

二、衍衬分析 238

三、校正电子显微镜试样倾动台的角度 238

四、偏离参量s的测定 240

五、电子束波长(加速电压)的校正 241

六、临界电压测定 243

第九章 取向关系测定和迹线分析方法 245

9-1 引言 245

9-2 电子衍射测定取向关系的一般程序 246

9-3 描述两相取向关系的矩阵方法 252

一、矩阵方法概述 253

二、矩阵方法应用于测定取向关系 256

9-4 迹线分析方法 264

一、线状结构特征的取向分析 265

二、平面结构特征的取向分析 267

三、迹线分析的精确度 274

第十章 衍衬原理概述 277

10-1 引言 277

10-2 电子显微象的衬度类型 277

一、质量厚度衬度 277

二、衍射衬度 281

10-3 衍衬成象的运动学理论 290

一、运动学理论的一般讨论 290

二、振幅-相图 298

10-4 衍衬成象的动力学理论 300

第十一章 晶体缺陷的衍衬分析 308

11-1 引言 308

11-2 位错和层错的基本概念 308

一、刃型位错和螺型位错 308

二、汤普森标记法 310

三、全位错的分解及层错 313

四、固定位错(不动位错) 316

五、扩展位错节 318

六、体心立方金属中的位错 318

七、六角结构晶体中的位错 320

11-3 位错和层错的衍衬分析 323

一、衍衬分析所需基本数据和实验条件 323

二、位错布氏矢量的测定 326

三、位错密度测量 345

四、位错和层错的衍衬分析 347

五、位错和层错的衍衬分析 347

第十二章 第二相和界面的衍衬分析 387

12-1 引言 387

12-2 第二相的各种衬度 387

一、应变衬度 388

二、沉淀衬度 392

12-3 第二相质点密度和尺寸分布的测量 402

一、测量质点的体积密度 403

二、用直线交截质点的方法测量质点的平均直径R 403

三、利用NA-t曲线求NV和R 403

四、不同直径范围内质点数的分布 404

12-4 界面衍衬分析 405

一、α边界、χ边界、δ边界 405

二、同相界面及异相界面 412

13-1 引言 427

第十三章 弱束成象技术 427

13-2 弱束成象原理简述 428

13-3 弱束暗场象技术 430

一、g/3g/弱束暗场象的实验步骤 431

二、对称弱束暗场象的实验步骤 433

三、弱束暗场技术中的若干问题 434

13-4 弱束技术的应用 438

一、关于位错的研究 439

二、关于位错环的研究 441

三、层错观察及层错能测定 441

四、其它方面的应用 445

参考文献 447

附录一 加速电压和电子波长 456

附录二 电子的原子散射因子f?(μ)(?) 457

附录三 立方晶系常见孪晶和基体取向关系 462

附录四 立方晶系电子衍射花样特征平行四边形表 465

附录五 立方晶系晶面夹角表 480

附录六 高阶、零阶劳厄区班点重迭图形 486

附录七 孪晶衍射位置表 507

附录八 若干金属材料的消光距离 575

附录九 合金中常见第二相的晶体学数据 582