《Verilog数字VLSI设计教程》PDF下载

  • 购买积分:12 如何计算积分?
  • 作  者:李林编著
  • 出 版 社:北京:电子工业出版社
  • 出版年份:2010
  • ISBN:9787121109911
  • 页数:319 页
图书介绍:本书分成多个课程段,讲授数字IC设计中常用技能与技术、工程设计中通常遇到的具体设计调试方法。其中包括数字IC设计流程中会遇到的诸多典型实例(计数器类型与结构、数据存储与Verilog阵列、状态机、FIFO等)以及典型问题(上升-下降延迟、串并转换、时序检查等),尤其是IC设计中PLL设计应用、时序仿真中的延迟反标注、DFT、设计验证等IC工程设计中的实用技术。通过给出设计实例,讲解此类问题的解决方案。

第0章 概述 1

0.1课程描述 1

0.2如何使用本书 1

0.3参考文献 3

0.4推荐的互动Verilog教程 5

第1章 Verilog入门 6

1.1练习1 6

1.2 Verilog矢量 16

1.3练习2:操作数 18

1.4小结 19

阅读Palnitkar (2003)可选) 21

第2章 Verilog基础知识1 22

2.1更多的语言结构 22

2.2练习3:参数和转换 28

2.3过程控制 30

2.4练习4:非阻塞控制 35

阅读Palnitkar (2003)(可选) 39

第3章 Verilog基础知识2 40

3.1线型,仿真和扫描 40

3.2练习5:简单的扫描 48

阅读Palnitkar (2003)(可选) 53

第4章 锁相环和串行/解串器入门 54

4.1锁相环和串行/解串器工程 54

4.2练习6: PLL时钟 62

第5章 存储与数组 71

5.1数据存储与Verilog数组 71

5.2练习7:存储器 80

阅读Palnitkar (2003)(可选) 83

第6章 计数器 84

6.1计数器的类型与结构 84

6.2练习8:计数器 89

阅读Palnitkar (2003)(可选) 92

第7章 强度和竞争 93

7.1竞争和操作符的优先级 93

7.2数字基础:三态缓冲和解码器 99

7.3练习9:强度和竞争 100

7.4接着讨论PLL和串行/解串器 105

7.5练习10: PLL行为级锁定 114

阅读Palnitkar (2003)(可选) 116

第8章 状态机和FIFO 117

8.1状态机和FIFO设计 117

8.2练习11: FIFO 130

阅读Palnitkar (2003)(可选) 133

第9章 事件 134

9.1上升-下降延迟和事件计划 134

9.2练习12:计划 141

阅读Palnitkar (2003)(可选) 145

第10章 内建器件 146

10.1内建的门及线型 146

10.2练习13:网表 151

阅读Palnitkar (2003)可选) 153

第11章 顺序控制和并发 154

11.1顺序控制和并发 154

11.2练习14:并行 163

阅读Palnitkar (2003)可选) 165

第12章 层次和generate 166

12.1层次命名和generate块 166

12.2练习15: generate 175

阅读Palnitkar (2003)可选) 179

第13章 函数、任务和串并转换 180

13.1串并转换 180

13.2练习前预习:解串器 182

13.3练习16:串并转换 185

第14章 UDP和开关级模型 189

14.1用户定义原语、时序参数和开关级模型 189

14.2练习17:元件 196

阅读Palnitkar (2003)(可选) 200

第15章 参数和层次 201

15.1参数的类型与模块连接 201

15.2练习18:连线 203

15.3层次命名和设计划分 207

15.4练习19:层次 211

第16章 配置和时序 214

16.1 Verilog的配置 214

16.2时序弧和specify延迟 215

16.3练习20:时序 221

阅读Palnitkar (2003)(可选) 224

第17章 时序检查和断言 225

17.1时序检查和脉冲控制 225

17.2练习21:时序检查 233

阅读Palnitkar (2003)(可选) 236

第18章 解串器和升级PLL 237

18.1串行序列解串器 237

18.2重新设计PLL 238

18.3练习22:串行序列解串器 245

第19章 升级解串器 256

19.1并行解串器 256

19.2练习23:解串器 258

第20章 完成串行/解串器 273

20.1串行器和串行/解串器 273

20.2练习24:串行/解串器 274

第21章 可测性设计和全双工串行/解串器 283

21.1可测性设计 283

21.2练习25:扫描和BIST 289

21.3全双工串行/解串器的DFT 295

21.4练习26:测试SerDes 296

第22章 SDF 304

22.1 SDF反标 304

22.2练习27: SDF 305

第23章 Verilog语言总结 309

23.1 Verilog语言总结 309

23.2课后练习(继续完成练习23及以后的练习) 313

阅读Palnitkar (2003)(可选) 313

第24章 深亚微米的问题及其验证 314

24.1深亚微米的问题及其验证 314

24.2课后练习(继续完成练习23及以后的练习) 319

阅读Palnitkar (2003)可选) 319