第1章 单片机实验基础 1
1.1 汇编语言及C51语言编程方法介绍 1
1.1.1 汇编语言 1
1.1.2 C51语言 3
1.2 仿真器与用户实验板 4
1.2.1 用户实验板介绍 4
1.2.2 Keil C51集成开发环境介绍 5
1.2.3 程序固化 10
1.3 数字量输入／输出基础实验 12
1.3.1 实验1——P1口输入／输出实验 12
1.3.2 实验2——P1口音乐输出实验 16
1.3.3 实验3——步进电机驱动实验 22
第2章 单片机内部功能单元实验 27
2.1 单片机内部功能单元简介 27
2.1.1 51系列单片机的内部结构 27
2.1.2 80C51的内部存储器组织 28
2.2 实验4——十六进制数加法运算实验 29
2.3 实验5——十进制数转BCD码实验 30
2.4 实验6——定时器／计数器实验 31
2.5 实验7——中断实验 36
2.6 实验8——串行通信实验 42
第3章 系统并行扩展实验 53
3.1 系统扩展方法介绍 53
3.2 实验9——扩展RAM实验 53
3.3 实验10——并行扩展微型打印机实验 56
3.4 实验11——用8255扩展I/O口实验 59
3.5 实验12——并行扩展A/D转换器ADC0809实验 61
3.6 实验13——扩展双积分A/D转换器ICL7135实验 64
3.7 实验14——并行扩展D/A转换器DAC0832实验 69
第4章 系统串行扩展实验 71
4.1 串行口扩展实验 71
4.1.1 实验15——串行扩展74HC595实现显示实验 71
4.1.2 实验16——模拟串行口扩展74HC595实验 74
4.2.1 I2C总线简介 77
4.2 I2C总线扩展实验 77
4.2.2 实验17——SAA1064驱动LED显示实验 89
4.2.3 实验18——PCF8576驱动字符LCD显示实验 91
4.2.4 实验19——ZLG7290扩展键盘显示实验 94
4.2.5 实验20——PCF8574扩展I/O口实验 99
4.2.6 实验21——扩展存储器AT24C08实验 104
4.2.7 实验22——日历时钟PCF8563实验 109
4.2.8 实验23——A/D、D/A转换器PCF8591实验 120
4.3.1 One-wire协议简介 123
4.3 One-wire接口芯片实验 123
4.3.2 实验24——DS1990A实验 132
4.3.3 实验25——DS18B20数字温度采集实验 133
4.4 SPI接口芯片实验 137
4.4.1 SPI协议简介 137
4.4.2 实验26——MAX3100扩展串行口实验 138
4.4.3 实验27——X5045看门狗实验 143
4.4.4 实验28——TLC549串行A/D转换器实验 154
4.4.5 实验29——TLC5620串行D/A转换器实验 158
4.5 Microwire接口芯片实验 165
4.5.1 Microwire协议简介 165
4.5.2 实验30——串行存储器93C46扩展实验 165
第5章 综合实验 177
5.1 实验31——IC卡简易收费装置设计实验 177
5.2 实验32——串行扩展平台实验 189
5.3 实验33——多功能时钟及温度采集实验 202
5.4.2 μC/OS-II实时操作系统 221
5.4.1 嵌入式实时多任务操作系统 221
5.4 μC/OS-II嵌入式实时多任务操作系统实验 221
5.4.3 μC/OS-II的移植 226
5.4.4 实验34——μC/OS-II下的多功能时钟及温度采集实验 228
附录A 实验使用的芯片引脚图 267
附录B MCS-15指令系统特点及速查表 267
B.1 指令系统格式及标识 267
B.2 指令系统分类 268
B.3 MCS-51指令速查表 272