第一章 概述 1
1.1 基本概念 1
1.1.1 维修 1
1.1.2 测试 2
1.1.3 故障诊断 2
1.1.4 检修 3
1.2 现代电子装备特点及其维修 3
1.2.1 现代电子装备的特点 3
1.2.2 现代电子装备的维修 4
1.3 电子装备维修设备的现状及发展 11
思考题 16
第二章 电路测试技术基础 17
2.1 电压测试技术 17
2.1.1 电压表测试法 17
2.1.2 示波器测试法 18
2.2 频率测试技术 20
2.2.1 示波器测试法 20
2.2.2 电子计数器测试法 22
2.3.1 双线（双踪）示波法 23
2.3 相位测试技术 23
2.3.2 单线示波法 24
2.4 功率测试技术 26
2.4.1 传送功率测量法 27
2.4.2 接收功率测量法 29
2.5 噪声测试技术 29
2.5.1 噪声的测量方法 30
2.5.2 噪声测量技术的应用 31
2.6 分贝测试技术 31
2.6.1 分贝的概念与定义 32
2.6.2 分贝的测量方法 33
2.7 频率特性测试技术 36
2.7.1 幅频特性测试 36
2.7.2 相频特性测试 37
2.8 数据域测试技术 38
2.8.1 数字特征分析测试技术 38
2.8.2 数据域的逻辑分析仪测试方法 41
2.8.3 数据域的仿真测试方法 48
思考题 59
3.1 测量误差和计量的基本术语 60
第三章 测量误差处理与电子计量 60
3.2 测量误差与测量结果处理 61
3.2.1 测量误差及其表示 61
3.2.2 测量误差的估计和处理 67
3.2.3 测量误差的合成和分配 72
3.2.4 测量结果的数据处理 77
3.3 电子计量 80
3.3.1 计量概述 80
3.3.2 电子计量概述 84
3.4 典型电子测量仪器的计量与检定 85
3.4.1 电压表计量 85
3.4.2 示波器检定 98
思考题 108
第四章 电路与设备检修技术基础 110
4.1 电路与设备检修方法 110
4.1.1 直觉检查法 110
4.1.2 信号寻迹法 111
4.1.3 信号注入法 113
4.1.5 波形观察法 115
4.1.4 同类比对法 115
4.1.6 在线（在路）测试法 116
4.1.7 交流短路法 120
4.1.8 分隔测试法 120
4.1.9 更新替换法 121
4.1.10 内部调整法 122
4.2 电路与设备检修步骤 122
4.2.1 了解情况，发现故障线索 123
4.2.2 初步检查，确定故障症状 124
4.2.3 熟悉系统，分析故障原因 125
4.2.4 缩小区域，找出故障 126
4.2.5 排除故障，检验修复设备 131
4.3 常见元器件的故障及检查 132
4.3.1 电阻器类 132
4.3.2 电容器类 134
4.3.3 电感和变压器类 135
4.3.4 晶体管类 136
4.3.5 集成电路类 138
4.3.6 印制电路板 139
4.3.7 电子管类 140
4.3.8 接触元件、保险丝等 141
思考题 142
第五章 装备的测试性与装备的测试检修 144
5.1 概述 144
5.1.1 测试、测试性与测试性的测度 144
5.1.2 测试性要求 145
5.2 雷达系统的测试性设计 147
5.2.1 测试方案确定 147
5.2.2 测试性分配与预计 148
5.2.3 固有测试性设计 148
5.2.4 测试点的选择 150
5.3 数字电路测试性设计 151
5.3.1 标准单元的测试性分析 151
5.3.2 测试性的改善设计 156
5.3.3 测试性设计 158
5.3.4 内测试技术 162
5.3.5 边界扫描技术 167
思考题 173
6.1 自动测试概述 174
6.1.1 自动测试系统的基本概念 174
第六章 自动测试系统 174
6.1.2 自动测试系统的组成与工作原理 179
6.1.3 自动测试系统的主要指标 189
6.2 常用标准接口总线 192
6.2.1 IEEE-488接口总线 194
6.2.2 VXI接口总线 199
6.2.3 PXI接口总线 207
6.2.4 自动测试系统中使用的其他总线 209
6.3 电路单元自动测试设备中的程控仪器 209
6.3.1 程控测量仪器 210
6.3.2 程控信号源 216
6.3.3 开关矩阵 222
6.3.4 程控电源与电子负载 227
6.3.5 虚拟仪器 231
6.4 自动测试系统的软件 239
6.4.1 软件结构与软件系统设计 239
6.4.2 系统控制程序和软件设计规范 241
6.4.3 开发平台软件 250
思考题 255
7.1 机内自检的概念与技术指标 256
7.1.1 机内自检技术的提出 256
第七章 机内自检设备 256
7.1.2 定义与作用 257
7.1.3 BITE的主要技术指标 257
7.2 常见的机内自检技术 264
7.2.1 余度BIT技术 264
7.2.2 环绕BIT技术 268
7.2.3 特征分析BIT 268
7.2.4 机内逻辑块观察技术 270
7.2.5 参数测试BIT 271
7.2.6 编码检错技术 275
7.2.7 智能BIT技术 278
7.3 常见的机内自检结构形式 282
7.3.1 集中监控式 282
7.3.2 分布与集中相结合方式 284
7.3.3 嵌入式（分布式） 285
7.3.4 模块化组合式 286
思考题 288
第八章 维修技术在电路单元检修中的应用 290
8.1 直流分压电路测试与检修 290
8.1.1 直流串联电路测试检修 290
8.1.2 直流并联电路测试检修 291
8.1.3 直流串并联电路测试检修 292
8.2 低频放大电路测试与检修 293
8.2.1 晶体管低频放大电路 293
8.2.2 低频集成放大电路 300
8.3 直流电源电路测试与检修 305
8.3.1 电源电路测试技术 305
8.3.2 电源电路检修技术 311
8.4 脉冲电路测试与检修 314
8.4.1 多谐振荡器电路 315
8.4.2 锯齿波产生电路 316
8.4.3 单结晶体管脉冲产生电路 319
8.4.4 断续正弦波形成电路 319
8.5 基本数字电路单元的测试检修 321
8.5.1 基本数字电路的故障模型 321
8.5.2 基本数字电路的检测仪器 323
8.5.3 典型基本数字电路的检修实例 325
8.6 带微处理器电路单元的测试与检修 332
8.6.1 微处理器系统的测试检修思路 332
8.6.2 微处理器电路单元常见故障现象及检修 333
参考文献 338