目录 1
第1章 数字电子技术实训基础知识 1
1.1 实验室的安全操作规程 1
1.1.1 人身安全 1
1.1.2 仪器、设备安全 1
1.2 数字电路实验常用器材和工具的使用 2
1.2.1 常用器材 2
1.2.2 常用工具 3
1.3 数字电路的实验方法 3
1.3.1 TTL与CMOS数字集成电路的使用规则 4
1.3.2 TTL与CMOS电路的主要电气参数指标 5
1.3.3 数字电路的功能测试方法 7
1.3.4 数字电路的实验测试手段 8
1.3.5 从实验原理图画接线图的方法 9
1.4 数字电路常见故障的诊断与排除 10
1.4.1 数字电路常见故障 10
1.4.2 数字电路常见故障的检查与排除方法 11
第2章 数字电子技术实验 14
2.1 数字电路实验的意义、目的、要求 14
2.1.1 实验的意义 14
2.1.2 实验的目的 14
2.1.3 实验的基本要求及实验报告的撰写 15
2.1.4 实验的学习方法 17
2.2.2 设计性实验 18
2.2.1 验证性实验 18
2.2 数字电子技术实验的一般方法 18
2.2.3 利用数字电子技术CAI课件（DLCCAI）的实验 19
2.3 实验考核 19
2.3.1 实验笔试方法及样卷 19
2.3.2 实验操作考试方法及样题 20
2.4 数字电子技术实验课题 24
实验一 集成逻辑门电路的功能测试 24
实验二 集成逻辑门电路的参数测试 27
实验三 集成门构成组合逻辑电路的实验分析 29
实验四 中规模译码器 31
实验五 中规模数据选择器 33
实验六 双踪示波器的使用 35
实验七 触发器 37
实验八 触发器构成的计数器 40
实验九 中规模计数器的应用 43
实验十 计数、译码、显示综合实验 45
实验十一 顺序脉冲发生器 47
实验十二 利用集成逻辑门构成脉冲电路 49
实验十三 集成单稳态触发器和集成施密特触发器 52
实验十四 555定时器 54
实验十五 模／数（A/D）转换和数／模（D/A）转换及其应用 56
实验十六 利用DLCCAI分析组合逻辑电路 58
实验十七 利用DLCCAI分析组合电路的竞争冒险现象 60
实验十八 利用DLCCAI分析触发器的逻辑功能 62
实验十九 利用DLCCAI分析N进制计数器 65
实验二十 利用DLCCAI分析时序逻辑电路 68
第3章 数字电路综合实训 72
3.1 数字电路综合实训的基本任务和基本要求 72
3.1.1 综合实训的基本任务 72
3.1.2 综合实训的基本要求 72
3.2 数字电路综合实训的基本步骤和方法 73
3.2.1 综合实训的基本步骤 73
3.2.2 综合实训的时间安排建议 75
3.2.3 综合实训的成绩评定方法 76
3.2.4 综合实训实验文件的标准格式 76
3.3 排除故障训练与考核 78
3.3.1 综合实训中常见故障及排除故障的方法 78
3.3.3 常考故障、产生原因及其查找方法 79
3.3.2 排故障考核的方式 79
3.4 综合实训课题 82
3.4.1 自动报时数字钟 82
3.4.2 篮球比赛计时器 92
3.4.3 简易数字频率计 97
3.4.4 智力竞赛抢答器 102
3.4.5 交通控制器 107
3.4.6 数码顺序、循环显示控制器 111
附录A 数字逻辑实验仪 115
附A1 多孔实验插座板部分 115
附A2 操作板部分 116
附A3 多路电源部分 119
附B1.2 面板上各控制件的作用 120
附B1.1 概述 120
附录B 示波器与数字万用表使用简介 120
附B1 XJ4328型双踪示波器 120
附B1.3 使用方法 122
附B2 DT-830/831数字万用表 125
附B2.1 概述 125
附B2.2 主要技术指标（测量范围） 126
附B2.3 使用方法及注意事项 126
附录C 实验室常用数字电路元器件型号、主要性能参数及功能 128
附C1 电阻器和电位器 128
附C1.1 电阻器和电位器的型号命名法 128
附C1.2 几种常用电阻器的特点 128
附C1.3 电阻器的主要性能指标 129
附C2.2 常用电容器的种类和特点 130
附C2 电容器 130
附C2.1 电容器的型号命名法 130
附C2.3 电容器的主要性能指标 131
附C3 常用数字集成电路型号及外引线排列图 132
附C3.1 国产半导体集成电路型号命名法 132
附C3.2 国际TTL/CMOS数字集成电路主要生产公司和产品型号前缀 132
附C3.3 常用集成电路型号及其外引线排列图 133
附C3.4 常用TTL数字集成电路型号及功能 140
附C3.5 常用CMOS数字集成电路型号及功能 143
附C3.6 部分数字集成电路的功能 145
参考文献 161